Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 2985|回復: 0
打印 上一主題 下一主題

[市場探討] 2006年台灣前五大測試廠商排名及趨勢展望

[複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2007-7-5 08:02:22 | 顯示全部樓層 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
工研院IEK-ITIS計畫董鍾明分析師
1 j% \. Y- v2 P  k: q, X/ rhttp://www.itri.org.tw/chi/components/jsp/showieknews.jsp?file=templatedata\services\ieknews\data\2007\2007052311040260EF6_utf8.dcr
, B& I4 b3 y+ B一、前五大封裝廠商排名
4 c7 q  y' a+ _- b% C' m2006年台灣IC測試廠商的排名維持與2005年的排名相同,前五大廠商合計產值仍佔整體產值之65%左右,其中以力成及南茂二家廠商的成長率最高。2006年力成仍是最積極擴產記憶體測試的廠商,特別著重在DDRII的產能擴充,2006年台灣新增的DDRII測試產能中,約有一半是由力成新購的機台所得。至於南茂2006年也有50%以上的高成長動力,主要在於南茂因應客戶在DDRIIFlash的產能需求,全年投入4.6億美元的資本支出因應,因此2006年營收也有相當不錯的表現。# N2 p1 j' q3 b+ l* Z
表一 台灣前五大測試廠商4 z/ [0 Y' P& h6 P) s6 l
2005排名
: A8 `: V2 R" j) Z
2006排名
. g1 _. |+ t8 k' l; u
公司名稱
/ t- ~7 e, S: q
2005營收

* V9 c2 ]; j4 ^' ?  R, i. N
(億新台幣)

5 x* H/ J  c8 F# [: c
2006營收
+ a! s) I' U6 G$ o+ o& B( q  z
(億新台幣)
; w, R+ d) m4 E; {
成長率(%)

1 m( u7 Q* R) j4 g' ^, s! y
1
) G* H" S% R6 x" x; l; @
1

$ p: |- W- t1 F2 J) a9 \
日月光集團*

/ H8 b/ W5 A2 I3 L5 T
172.0

" b. {' J) e& y& n3 S) N
214.3

+ u# {/ i% p  z' m0 F
24.6
: M- z; B+ c1 z- @6 U' [+ \- C) T
2
2 L0 S6 S+ W: a0 A5 {4 b  Q
2
0 t) r4 t6 @$ U' Q: h, H
京元電子

1 V5 G/ s& B5 ]( Y7 d7 @
99.5

- u4 l1 j6 y1 x* \
129.0

' @9 k& C* f2 b+ j) j; O
29.6

8 o; R  q, k7 |
3
% X/ \. f$ ^. L$ Y) b
3
7 c- v% E$ N$ Y/ l. D' T" g
力成科技
8 S. x1 {  V' g. _  \
77.7

1 o3 J) k6 F+ |: I
110.3
/ }/ O7 h* r7 L( m: N5 _0 G  [  E. ?
42.0
8 ]" g7 D% k" y. a& M% s
4

  |6 M" J$ V- |4 n7 _* M) R7 w  C" T
4

- w% W+ p% M3 E% `8 D3 S
南茂科技

1 M  o# U: W" I2 ?9 y
58.8

. U+ b0 A4 R, I
92.5

* L' K1 s; `  ^6 a2 X
57.3

% C2 G; `: C& q; e
5

6 @# c0 G' {# D. S" M
5
. {6 S! y9 z" h% a3 o9 k& N* @
矽品精密

/ L3 H6 r8 X6 A4 |3 h1 r, v9 v3 e# v
43.0

  G- \9 H8 V$ Q4 c9 a; P  ~- u
56.4
& X# f, ]1 R7 a+ |& F
31.1

* Q  O, s6 k6 q6 t
資料來源:工研院IEK(2007/03)- l! p" [' B7 K# X2 R  x
2 C) f& K: u3 E
二、重要趨勢4 I1 S8 i1 @2 w7 f+ q& P
由於SiP日漸受到重視,而發展SiP的一個重要因素為良好裸晶(Know Good DieKGD)取得不易。良裸晶指晶圓(Wafer)製作完成後,未經封裝即進行全功能測試(Full Functional Testing)或甚至進行晶圓等級預燒測試(Wafer Level Burn-in TestingWLBI))者。, @% X# w0 Z3 v) A3 p
為何SiP需要使用良裸晶(KGD)呢?這是因為將多顆IC封成一顆封裝體時,其中若有一顆IC有瑕疵,就將導致整顆封裝體內的全部IC都將因此無法運作。假定基板係經測試且封裝技術亦無問題,其良率為100%,若單一顆IC的良率為90%,利用此相同良率的5IC製成SiP時,則此SiP的良率將只有59%,在這樣的良率下將無法進行商業量產。為了降低SiP測試成本與提高SiP的良率,良裸晶的篩選就成了SiP生產製造過程中最重要的一環。
& x! U% H; Q$ J! v/ e6 t- U- ]$ b/ O  c# a7 G
三、未來展望
  O, r5 A5 ]7 D: r* Y記憶體測試約佔台灣整體測試產值之六成,換言之,記憶體產業之循環對台灣測試產業之影響相當大。以2007年而言,預料Vistia作業系統將開始慢慢普及,PC使用者對於換機或昇級的需求將會大增,直接衝擊的就是記憶體的需求引爆。除此之外,各式手持式電子商品的普及,以及具備各種需要儲存功能之產品問世,個人隨身儲存需求容量愈來愈高,2007Flash的測試需求將有增無減。. B& N. n( ?3 s6 G1 X" k! A# K
2007年台灣測試廠商擴產規模及速度,將會是影響台灣測試產業相當重要的一環。由於2005起,記憶體測試產能即呈供不應求之現象,因此,除了原有記憶體測試廠商持續擴充產能之外,包括原本不涉足記憶體測試領域的廠商,也都相繼投入記憶體的測試。2007年各家仍競相擴產的結果,雖不至於出現測試產能供過於求的現象,但價格破壞的競爭策略則難保不會出現。, W* `) C. o' Z! U
總而言之,2007年台灣測試產業仍可維持二位數字之成長表現,但相較於2006年近四成之成長,2007年成長將會稍為回緩,工研院IEK預估,2007年台灣測試業的營收將達1,029億新台幣,成長率為11.4%
! e3 t& h& C" v5 Y; h( {9 O4 k
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂 踩 分享分享
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-5-21 12:15 PM , Processed in 0.109014 second(s), 17 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表