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[市場探討] 2006年台灣前五大測試廠商排名及趨勢展望

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發表於 2007-7-5 08:02:22 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
工研院IEK-ITIS計畫董鍾明分析師
/ K+ i" d* u0 i, u; L) c3 G9 \1 \http://www.itri.org.tw/chi/components/jsp/showieknews.jsp?file=templatedata\services\ieknews\data\2007\2007052311040260EF6_utf8.dcr
7 Y2 f' I& Z9 [* X3 f. i, U2 E一、前五大封裝廠商排名$ p  {7 H, K. `* U0 X! s
2006年台灣IC測試廠商的排名維持與2005年的排名相同,前五大廠商合計產值仍佔整體產值之65%左右,其中以力成及南茂二家廠商的成長率最高。2006年力成仍是最積極擴產記憶體測試的廠商,特別著重在DDRII的產能擴充,2006年台灣新增的DDRII測試產能中,約有一半是由力成新購的機台所得。至於南茂2006年也有50%以上的高成長動力,主要在於南茂因應客戶在DDRIIFlash的產能需求,全年投入4.6億美元的資本支出因應,因此2006年營收也有相當不錯的表現。7 h$ M1 V- v2 A' I+ c6 S
表一 台灣前五大測試廠商
3 |  [: f0 v  V- }4 x
2005排名
% b% D" [: I) ^6 m
2006排名

# ^. x1 ]. q* ]$ ~; {1 B
公司名稱
) Q' z! t4 j) }1 z$ e) y& @
2005營收
5 s. F% f8 \$ F; l  m" Q
(億新台幣)
  B' s$ C0 Z: i( l% W3 C* o: B
2006營收
8 m4 m% ?6 x# s1 ?
(億新台幣)

9 F9 W+ k: C1 m2 H1 t
成長率(%)
, c, v* s% t, K: i  u( ~2 S
1
( @# N, V, U# ?* _3 \) P) Q9 F' l% u' W
1

) Y+ \" o) d* t* W6 }9 H
日月光集團*

5 b+ f& v! c6 ~: S1 r
172.0

/ k& r0 M4 S* f: O6 q# ]6 H
214.3

4 X( H! ^0 E# l: l9 E
24.6
3 e; ^% H, C! D
2

0 E3 ]% v) Q" Q5 A
2
* x3 ]; A& S+ x. [
京元電子
8 N6 q+ }! X% a+ o. U
99.5
+ w1 G1 }4 O9 u, i( H
129.0
' A: q: s* ]9 S1 N+ e% W
29.6
% v/ S3 ?$ Q+ b* X
3
: A. X* N. e- N1 p3 X1 n
3

# W2 m4 n3 ^9 X& z, R$ b) `2 y# B
力成科技

( N) M) Y/ ]7 i' z% Q
77.7

4 K: w: M" F  G# d2 a
110.3

+ S9 d' E8 m5 J" r2 K% V+ }
42.0
. V4 e5 R9 A8 u% c
4
0 [1 e# n. ]8 s, f9 W' Y7 [, R
4

; N+ p* C; M6 j) E3 p9 t
南茂科技

. Z1 S+ h* q9 g/ e7 O
58.8

+ U( `$ f6 o! {! l$ r- v# K
92.5

2 j$ V% G' p( x2 @) p
57.3

0 S3 T& ~% q. t( Z; z
5
6 I  b6 b. j' }' S# v) {) s
5
- |9 _7 x. I; q) k) v8 g; c8 k
矽品精密
7 {7 X, c. R6 [# S( x# H6 t* _( ~
43.0
8 G3 N( w; Z( ^" M" e
56.4
" A' ]1 T/ n6 R1 @2 o  R$ ?5 _
31.1
9 @) p- E5 r/ M  m3 |: x
資料來源:工研院IEK(2007/03)  F8 E; ~7 _  v$ M$ o% ~
0 }2 ?* k! ~6 f- m4 u7 q
二、重要趨勢
4 G' M7 V, c: B. m4 g由於SiP日漸受到重視,而發展SiP的一個重要因素為良好裸晶(Know Good DieKGD)取得不易。良裸晶指晶圓(Wafer)製作完成後,未經封裝即進行全功能測試(Full Functional Testing)或甚至進行晶圓等級預燒測試(Wafer Level Burn-in TestingWLBI))者。
9 D: t* V; O  v9 F* [3 }為何SiP需要使用良裸晶(KGD)呢?這是因為將多顆IC封成一顆封裝體時,其中若有一顆IC有瑕疵,就將導致整顆封裝體內的全部IC都將因此無法運作。假定基板係經測試且封裝技術亦無問題,其良率為100%,若單一顆IC的良率為90%,利用此相同良率的5IC製成SiP時,則此SiP的良率將只有59%,在這樣的良率下將無法進行商業量產。為了降低SiP測試成本與提高SiP的良率,良裸晶的篩選就成了SiP生產製造過程中最重要的一環。4 Z+ A% N( q/ I) u1 ~

' Y# V' X$ o) C& r三、未來展望6 V8 j: M2 T$ r( Y0 q
記憶體測試約佔台灣整體測試產值之六成,換言之,記憶體產業之循環對台灣測試產業之影響相當大。以2007年而言,預料Vistia作業系統將開始慢慢普及,PC使用者對於換機或昇級的需求將會大增,直接衝擊的就是記憶體的需求引爆。除此之外,各式手持式電子商品的普及,以及具備各種需要儲存功能之產品問世,個人隨身儲存需求容量愈來愈高,2007Flash的測試需求將有增無減。
# t0 [: m  I5 ]$ s2007年台灣測試廠商擴產規模及速度,將會是影響台灣測試產業相當重要的一環。由於2005起,記憶體測試產能即呈供不應求之現象,因此,除了原有記憶體測試廠商持續擴充產能之外,包括原本不涉足記憶體測試領域的廠商,也都相繼投入記憶體的測試。2007年各家仍競相擴產的結果,雖不至於出現測試產能供過於求的現象,但價格破壞的競爭策略則難保不會出現。
  M: E) z) n9 O& \總而言之,2007年台灣測試產業仍可維持二位數字之成長表現,但相較於2006年近四成之成長,2007年成長將會稍為回緩,工研院IEK預估,2007年台灣測試業的營收將達1,029億新台幣,成長率為11.4%0 f& ~& [9 I. H- E- P- P. p
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