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[市場探討] 2006年台灣前五大測試廠商排名及趨勢展望

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發表於 2007-7-5 08:02:22 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
工研院IEK-ITIS計畫董鍾明分析師# l+ P/ B* r) s4 @" {- ]
http://www.itri.org.tw/chi/components/jsp/showieknews.jsp?file=templatedata\services\ieknews\data\2007\2007052311040260EF6_utf8.dcr
" X! T8 w/ u; i$ ]一、前五大封裝廠商排名
9 n' p2 i1 t5 ^1 y9 J! f2006年台灣IC測試廠商的排名維持與2005年的排名相同,前五大廠商合計產值仍佔整體產值之65%左右,其中以力成及南茂二家廠商的成長率最高。2006年力成仍是最積極擴產記憶體測試的廠商,特別著重在DDRII的產能擴充,2006年台灣新增的DDRII測試產能中,約有一半是由力成新購的機台所得。至於南茂2006年也有50%以上的高成長動力,主要在於南茂因應客戶在DDRIIFlash的產能需求,全年投入4.6億美元的資本支出因應,因此2006年營收也有相當不錯的表現。* h" _0 i0 {- j( t
表一 台灣前五大測試廠商# d2 m) j& T+ i9 f8 a- D
2005排名

# Z) P% l5 G. v- r7 q  b) p
2006排名
: y8 F. x- _9 G" i4 \/ A
公司名稱

* S, u/ D* `% R$ w6 w
2005營收
. C( }3 ]2 q& ?- j% Q3 V
(億新台幣)

0 t- i8 i& e4 P7 l% O" u
2006營收

  d8 W7 B4 T: H( c' V! i
(億新台幣)

0 }. H5 P5 _: F% z
成長率(%)

7 J' ]' |+ Y7 _1 A3 H
1
, ?9 P1 x7 \4 W1 u% t2 j; K: r, Y
1

2 X/ O- a0 n3 k: d5 O! Z
日月光集團*
/ ^. Z3 r* w* e' {
172.0
/ {# b( S6 z2 {- s: P1 ]
214.3

2 I# m. s( p& Z( P# N
24.6

7 ~3 ]3 f- R) V  K
2

! P& K, \/ {; P& a" {9 m0 h6 a  r
2

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京元電子

5 M! l. A% s6 Z- J
99.5
( W2 N% a2 g. g5 R
129.0

$ I0 R0 n0 \' n
29.6
" `9 P  x" }5 y' q3 ?
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) T6 X7 {$ `; k3 I+ \: d
3
8 ]: y4 C; p& O& H1 N
力成科技

- s7 [' B, d6 }0 ~+ M8 n5 x& a5 P
77.7

, C  g- B$ @+ g$ U
110.3
4 C. A" E" x/ A) B
42.0

3 F7 x; k! ?6 ~6 d1 ]8 x7 [' y0 m
4

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4
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南茂科技
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58.8

; q6 n8 n, c3 O8 H4 e
92.5
. Q1 s! Y8 _( E( {; G, W" @5 V
57.3
) b  I! s' p0 N0 n
5

0 h: `) n- k5 n8 C4 _9 [5 X
5

+ u) X* e/ ~; Y, s: Q* D
矽品精密

$ {. R" g2 T7 n# G
43.0

% s1 f0 f4 w8 V" {8 q9 Y
56.4

/ Y3 |5 y) a2 f. q, v' g8 C
31.1
8 |8 U7 ^# z. C
資料來源:工研院IEK(2007/03)
7 }0 K' C/ M( i0 s# e) q% G' c3 @  U7 @0 t/ p4 u' ?
二、重要趨勢
3 C' [* }6 r% ]  u/ Z$ t5 |1 c由於SiP日漸受到重視,而發展SiP的一個重要因素為良好裸晶(Know Good DieKGD)取得不易。良裸晶指晶圓(Wafer)製作完成後,未經封裝即進行全功能測試(Full Functional Testing)或甚至進行晶圓等級預燒測試(Wafer Level Burn-in TestingWLBI))者。9 o' x1 T! O& a5 f( O
為何SiP需要使用良裸晶(KGD)呢?這是因為將多顆IC封成一顆封裝體時,其中若有一顆IC有瑕疵,就將導致整顆封裝體內的全部IC都將因此無法運作。假定基板係經測試且封裝技術亦無問題,其良率為100%,若單一顆IC的良率為90%,利用此相同良率的5IC製成SiP時,則此SiP的良率將只有59%,在這樣的良率下將無法進行商業量產。為了降低SiP測試成本與提高SiP的良率,良裸晶的篩選就成了SiP生產製造過程中最重要的一環。- N$ x  i. s/ f5 d' W

3 x2 T: d2 q- I# g* D1 k) f- q三、未來展望
" _# M; M. }3 }6 x0 F: n8 A! U記憶體測試約佔台灣整體測試產值之六成,換言之,記憶體產業之循環對台灣測試產業之影響相當大。以2007年而言,預料Vistia作業系統將開始慢慢普及,PC使用者對於換機或昇級的需求將會大增,直接衝擊的就是記憶體的需求引爆。除此之外,各式手持式電子商品的普及,以及具備各種需要儲存功能之產品問世,個人隨身儲存需求容量愈來愈高,2007Flash的測試需求將有增無減。
9 S: g" C" G$ u6 I: P2007年台灣測試廠商擴產規模及速度,將會是影響台灣測試產業相當重要的一環。由於2005起,記憶體測試產能即呈供不應求之現象,因此,除了原有記憶體測試廠商持續擴充產能之外,包括原本不涉足記憶體測試領域的廠商,也都相繼投入記憶體的測試。2007年各家仍競相擴產的結果,雖不至於出現測試產能供過於求的現象,但價格破壞的競爭策略則難保不會出現。/ S9 b' r# T) H! m  H
總而言之,2007年台灣測試產業仍可維持二位數字之成長表現,但相較於2006年近四成之成長,2007年成長將會稍為回緩,工研院IEK預估,2007年台灣測試業的營收將達1,029億新台幣,成長率為11.4%9 q5 |; C  p7 ^; m
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