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[創新研發] 電子電路板檢修技術與檢修儀器的演變

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發表於 2007-3-22 15:36:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
儀測技術月刊
  C# O- J6 J" M4 H
http://www.pic.com.tw/layout/zh-tw/news/detail.asp?gid=15&nid=812 p9 D' k+ s; u% M+ C& Y' _

7 G3 X' |4 s$ V8 V) D  v電子電路板檢修技術與檢修儀器的演變+ n5 }. O9 G' L1 W3 c) V% I' i
3 }/ _2 b+ s# Q6 Z" `

! R* d6 [" ]6 X( e2 v   
6 j% G, t  |* ]8 ]$ W* S% ?7 y$ N
! _, G; W5 j- H$ N    電子電路板的檢修技術在電子界中是相當獨特的一環,有別於一般的研發、品管及應用電子的技術,不但要有一定程度的專業知識,而且,要能結合實際的量測技術及故障現象的分析能力。; I) g8 @# A( m0 S5 J7 R2 v1 A# t

8 J/ I" u- N3 m0 E8 ?* p" p: |! l+ O7 l4 N
    成立於西元1983年的ABI電子公司,坐落在英格蘭東北的約克郡。在初期,公司本身是設計及生產積體電路( IC )元件測試設備為主,而目前主要的產品為全功能電路板檢測設備( BoardMaster8000-Plus)、小型類比/數位積體元件測試器及一般工程師都用得到的多功能檢測儀表( CircuitMaster 4000M)。ABI電子公司到目前為止在維修的市場中已有23年的歷史,其產品的設計方向在協助維修工程師,快速及準確的得到故障電路板上的信號,並進一步提供工程師其故障元件的量測結果。
- R1 i& i5 [9 E0 F) p 
9 a' b2 Y  @% Z. Q4 \  O' N2 p6 C; C& Y7 J6 H: [
 
6 S! ]8 W# w* \2 }) H0 v△ 多功能檢測儀表 ( CircuitMaster 4000M )
4 h3 I$ D8 H: d1 _) S' |( r8 ]: l% q3 }& J

1 N- {% }1 ]' y' Q8 Y4 K8 K    一般來說,工程師最常使用的測試儀器就是三用電表( Multi-meter),而再搭配示波器後應該就能開始檢修電路板的工作了,若遇到一些比較因難的檢測電路或元件,就可能需要其它的儀器設備,如: 信號產生器,電源供應器等…。在電子檢測工作所使用的檢測儀表,一般來說,都是用於提供工程師在電路板上的電氣信號(電壓、電流或電阻值等…)。但一種儀表就只能提供一種電氣訊息,像在使用三用電表時,所能讀取到的就只是電氣信號的數值而已,不可能同時檢測到其電氣信號的波形,在使用信號產生器時,若要同時監看輸出及回授的波形,往往要連接到另一台示波器來監看,在檢測上不但麻煩而且也很花時間。, x5 x" E2 m1 D/ f( H
 6 R& g# c( m# Y# g" p9 G. {
        % z6 {* x' }' d# t; }

1 [: U+ c  e* K0 a4 x. |9 y    ABI 公司所設計的多功能檢測儀表 ( CircuitMaster 4000M),內部結合了多種量測儀表的功能,並增加了特殊且實用的量測功能,可以應用於檢測目前電路板的特性,接下來會以實際的電路實例或實際應用來說明。
& x( X6 x; {' A- s . U( f% Q5 }* K" g1 m
* Q- x9 P$ [4 n' A# T8 |( P; }4 _* }
    在右圖的基本邏輯電路圖中,在標示為1~7的量測點中,若使用電壓表來作電壓值的量測,理論上在各點能得到的電壓值為 :
5 c: ~: c, O1 g2 k6 Q1 X- D5 k8 \2 x/ ]$ o" a3 ~0 w
    * 1 量測值為 5 Volts
" M  S& H( Q9 ]- f9 c$ q    * 2 量測值接近5 Volts
/ P7 a% T1 P6 R3 K( d" P5 c) o: @. P    * 3 量測值接近5 Volts6 A# f7 A. a2 R4 ]
    * 4 量測值接近0 Volts4 n3 ?: @0 u, Z" _
    * 5 無法判斷 (空接)
  I2 ~# G' U9 @    * 6 量測值接近0 Volts) Y) p4 s  x. M7 v  h
    * 7 量測值為0 Volts* q. _$ _) ?5 z! h8 z
! Z  \8 f# g, u- U* F3 R
在CircuitMaster 4000M中的FirmFlex功能可以明顯的區分出上述的各種狀況的訊息。8 m& p5 t% J/ C4 C) }+ G

  F: K  D9 R1 H/ f5 L* G# ?% c/ C 
1 d% u8 K& z9 C        2 d7 F! Y( t* Z3 L6 c. I% b' v

8 [, N- f- r3 }6 A! i7 g( @* F以下為各量測點為利用FirmFlex功能所量測出來的結果圖形。
- X; p- r+ Q1 g6 a( v" r . @+ b% }" W* n; P
( |, Z( u9 u% r- ?( p1 y; {
    利用FirmFlex功能所量測的結果可分為三部份,一為量測信號的電壓值(此部份功能可自由外加另外的32種內建參數值),第二部份為所檢測到的信號波形,最後為量測點的信號強弱表示( 以畫面的背景顏色來區分 )
/ s, ]4 h8 N0 Y        - h! d% R! r/ }
    依照上面所述,此功能最主要是可同時提供量測點的電壓值、信號波形及信號強度三種訊息給操作的工程師來分析。基於這三種資訊,工程師可輕易的量測及分辦下列故障情形:
! W$ K( Q: y4 _' u- ~3 K
1 @, m( a, ~( K6 _   1. 電路板上的電阻變化:
$ t2 ?( k8 Y% G' A8 Y/ t      一般來說,要量測電路板上電阻的阻值,只有在靜態的情形,且要將電阻拆離電路板上才可以量測。在”FirmFlex”功能之下,在動態的情形可以量測此電阻在電路板的狀態,也可一併量測出同一串聯迴路的阻抗變化。/ b: u4 o# A$ o
   2. 高阻抗元件及接點量測:
" b& A& }1 W: Z0 [      要量測高阻抗元件或帶電的接點,通常需要額外的量測儀器,或將其元件作隔離量測,在”FirmFlex”功能之下,可量測高阻抗元件的輸出推動能力,在控制接點的量測上,可在帶電的情況作功能上的測試。; v# L9 x$ t) X& u( j1 G
   3. 判別”開路”、”邏輯位準Low”、”Pulled Low”及”短路”這四種情形:- c- \. e( T2 N6 b& I0 G
      開路在電表或示波器所量測到的結果,會是0V的數值。
6 J, O6 x' q' [, P- X4 f# S      邏輯位準Low用電表量測會得到接近0V的數值。1 }6 [9 R7 D* S0 j+ {% j. V2 w6 k$ |
      “Pulled Low”是指在量測點在電路上,與共地點只有一電阻相接,此點在用電表量測,所得到也會是0V的數值。* n1 j3 ?* S0 F: D) A' x
      短路的情形在電表上量測也會得到0V的數值。
9 x, s: b% m3 D: {! t0 @$ |$ Y      根據(圖一)所示,在量測點 4、5、6、7上可輕易的分辦出上述的情形,在”FirmFlex”功能之下,其結果會有很大的不同,而相同的情況,若是在Vcc為基準點時,會變化的只有量測數值及信號波形,其量測點的推動能力是不會多大的變 化。1 q# l1 z7 b! Q- r) S
   4. 直流信號的量測:
, L5 H6 g' C7 V$ V" S+ G! \# n      n 一般使用電表來量測直流信號時,無法確認其直流的波形( 漣波 )。
5 V- o3 r: K# g' Y$ E2 G      n 若使用示波器來量測直流信號時,其示波器的精度不足會造成量測的誤差過大的問題。% C' J1 h1 L3 W. {
      綜合可提供量測點的電壓值、信號波形及量測點的信號強度三種訊息,可方便及簡單的量測到被測點的電氣狀態。
. B8 T; |6 X% `% P4 f9 v       
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