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[問題求助] 針對IEC6100-4-2的on-chip ESD 保護設計

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1#
發表於 2008-12-30 15:56:44 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?
5 s# t2 d( G9 g/ R% S有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? " S3 m" w" H2 w$ Q
我個人認為當IC 啟動的時候,所有ESD Clamp 和ESD diode 是完全在關閉的狀態,所以即使hbm過了+/-4kV,system-level亦不一定過+/-15kV
6 i) S/ x2 [6 d% P% k8 \8 v0 k我的想法正確嘛?
7 e) u. {% I: p6 Y謝謝....
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2#
 樓主| 發表於 2009-1-10 00:40:29 | 只看該作者
好像沒有人遇到這個問題.....
! |  _7 z! B& }: p- C0 _8 @: g8 v這兒有沒有人負責IC ESD 設計?
3#
發表於 2009-1-17 10:54:01 | 只看該作者
System-Level是說沒有機殼的搭配嗎
, z, ]* H" |: K目前這樣的問題+/-15KV也是diode的設計基本值了+ B2 E2 X1 R7 X5 i& q2 ~5 [+ u2 B% X
所以越好的diode啟動保護越快效果越佳. w( h. M. a9 G5 z+ d1 Q
但因為是limit值所以會有穩定的誤差值& H  V6 I4 B9 i+ }1 Q4 C
大部分要搭配機構去防護
4#
 樓主| 發表於 2009-1-19 15:09:34 | 只看該作者
是呀, 沒有機殼的搭配, 只是加上一些PCB的external component,我們的客戶說打ESD GUN 是把我們的IC被打死,要求我們改善.8 ]$ S- L% [/ D9 `, [4 r; ^; ~
請問你所說的didoe 是IC PAD 內的diode,還是IC 外的TVS DIODE?
+ }6 [: H9 W, L. S. \4 A! I客戶不用TVS
5#
發表於 2009-1-20 16:04:30 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2008-12-30 15:56 發表 & d" F$ {- b) d! [+ J& p5 H6 W
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?# Z( R2 H# P7 O& O! h. F8 f: L
有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? 6 y/ I9 ]' J9 a, h1 v& ?2 r
我個人認為當IC 啟動 ...

6 Q8 i$ z: ?* P1 y7 E( b7 |
, Z( ?% _9 N! A: h+ m4 M% R6 \我有过这方面的经验,我们的片子hbm-6k没有问题,system level 15k也没有问题,外部没有加任何的钳卫器件。不知道你的片子里面用什么样的结构,不要用gcnmos,ggnmos可以用但是目前看来效果不太好,scr的效果很好

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semico_ljj + 2 + 2 对大家有帮助。

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6#
 樓主| 發表於 2009-1-20 18:56:37 | 只看該作者
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了
5 I) o) U, ], C, vESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS
7#
發表於 2009-1-20 21:08:46 | 只看該作者
"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
8#
發表於 2009-1-20 21:10:46 | 只看該作者
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
9#
發表於 2009-1-21 11:42:24 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-20 18:56 發表
) }1 j7 u. g% x" [* N) y* w請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了9 @5 k% W  [' X5 V: G8 O  C
ESD protection 則用PNDIO  ...
9 _3 d, Y- t9 l, v2 l1 y
我们的pin比较少,没有像你们的那么多,不过那个成功的片子用的是scr结构(完全利用其击穿机制,没有加任何的detection circuit),是自己做的,代工厂没有提供相应的参考结构,现在已经量产,也做过相应的latch-up实验,并且pass.不知道兄弟用的什么样的结构,可否详细的描述一下,如果可以,我愿意尽自己的微薄之力的。
10#
 樓主| 發表於 2009-1-21 11:53:47 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:08 PM 發表
! s. R5 Q& c7 ?"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
7 h; ^- ?1 L+ o. V# R
這是代工廠的建議
3 X0 {2 i) l9 ]6 v+ D  Y% c& `而我們則覺得它是最省空間, 我們的ESD design 全是custom 的, 沒有用代工廠的標準IO library
11#
 樓主| 發表於 2009-1-21 12:02:24 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:10 PM 發表
5 E3 t- G& e3 w; _SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
) R2 |6 r3 N0 R4 c- V8 `
SCR放電的能力是非常好,但它對Process的variation亦非常敏感,所以我們都不會用..大家亦不希望量產時有任何失誤而賠錢...做研究就好,用在產品就免了
+ ^( X) _0 V# i) D- L9 B但我聽說大陸有很多的設計是用SCR的
12#
發表於 2009-1-21 13:30:29 | 只看該作者
SCR也试着做过,HBM效果很好的,但是不敢推广!呵呵,“Process的variation亦非常敏感”,想挑战8KV以上的可以尝试, @" i) Z; }$ a6 e
9 G+ I  R' q" m
[ 本帖最後由 semico_ljj 於 2009-1-21 01:40 PM 編輯 ]
13#
發表於 2009-1-21 16:45:25 | 只看該作者
关于芯片级的esd,我们同一个片子做过ggmos/gcmos/scr三种结构,也有过相应的验证,HBM8k没有问题,但是拿到系统级上面,ggmos/gcmos无法满足客户的15k要求,只有scr结构能够ass,而且我们选的工艺比较稳定,所以选用了scr。个人感觉,pass15k,常规的esd结构很难,其中gcmos的结果最弱(有实验证明的),ggmos居中,scr最好,关于PNDIO + RC-GTNMOS,我没有用过,但是根据别的项目的经验,貌似想pass+/-15k很难

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semico_ljj + 3 + 3 细致。

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14#
發表於 2009-1-21 20:38:01 | 只看該作者
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。' a& E) V% d, y7 `2 m# q( \
“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开启速度比ggmos快,应该比ggmos更好才是啊。SCR当然是最好的!
8 Q2 e0 \' @3 Opass 15K 是什么标准要求这么高啊,以前没做过。
15#
 樓主| 發表於 2009-1-22 11:02:33 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-21 08:38 PM 發表
3 O) O1 O) U+ e5 S4 L' n. ^) a* u代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。
8 b/ x3 `7 }! z" F5 {“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开&#2155 ...

! G: O  b! U5 K: t如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右.
  M6 ]0 M. e3 _1 ]% E. R6 C' P0 M+ B5 L, s, M3 b
15k 是IEC61000-4-2是system 上的ESD 要求2 D: L( _( u! ?, c; G# v: K
Air discharge 一般要+-15kV
  ?( r& o+ d! D8 h9 }Contact discharge 一般要+-8kV
3 r! ~7 n" C. e5 F5 K5 I這個跟JEDEC/ESDA 的HBM standard 是完全不同& t5 S3 F7 F% @: m9 N

# b; ?4 i5 r: E$ w9 w' `[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 11:06 AM 編輯 ]
16#
發表於 2009-1-22 11:17:29 | 只看該作者

回復 15# 的帖子

"如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右."这句话有误!实践证明,foundry提供的只有DIODE的标准IO,可以通过至少2KV∼3KV以上!到了亚微米的工艺,厂商就是推荐直接采用Diode的ESD保护。
' l4 M  Y! z& F8 u3 r/ @Diode到底好还是不好,大家可以进一步讨论。
17#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:30:20 | 只看該作者

回復 16# 的帖子

那就奇怪了( B, L- ^, i$ Q8 |
我對標準IO 的了解不是很多,所以不知道它除了diode以外還有沒有其他的配套
* R5 y$ P# O  l! Y0 G. HFoundry給我們的ESD design rules都有提到,如果I/O 用diode 的話,一定要有power-clamp
, E6 U- k( D0 W# S+ v而在我們的產品內,power clamp 的設計就是GTNMOS
1 ~9 x+ r1 Q8 u# M' T: x" `5 G8 \) o+ F. m- Z- s
[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 01:42 PM 編輯 ]
18#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:40:34 | 只看該作者

回復 13# 的帖子

你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?
2 b/ z! b+ ^6 K我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路! q' Z# n, E2 P# m5 W# n% K
如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
19#
發表於 2009-2-3 15:43:49 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-22 13:40 發表
- z7 v7 T; X) E/ [% _你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?
7 r( N/ @+ W% h% H/ t我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路
7 g) {/ L( A/ `$ I如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
+ K7 j' y5 k( R' ?1 v$ v1 I4 Y
有调过的,在芯片级8k没有问题的,但是系统级就不行了。我们没有做TLP,自己倒是做了ESD TEST
20#
發表於 2010-11-29 18:48:26 | 只看該作者
System level ESD 與 Chip level ESD 是兩個完全不同的規範,Syetem ESD 也是模擬 Humam body model ,但是放電能量要比 Chip HBM 大了約 5.6 倍 ( 儲能電容不同,限流電阻不同 ),所以 Chip 要直接承受System ESD 的 15 KV,可說是難上加難,一般系統會用一些方法把能量導走,不要讓 ESD 進到 IC,或是加分立式保護元件,才可能過的了15KV。
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