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[問題求助] 針對IEC6100-4-2的on-chip ESD 保護設計

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1#
發表於 2008-12-30 15:56:44 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?0 d, B4 D! Q1 F# l/ m
有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? 2 Z* H+ }. U/ h$ R. P8 i5 j+ x( {
我個人認為當IC 啟動的時候,所有ESD Clamp 和ESD diode 是完全在關閉的狀態,所以即使hbm過了+/-4kV,system-level亦不一定過+/-15kV* x/ S7 r1 x5 }% Y$ N" c
我的想法正確嘛?
: p5 r+ {! [  L7 {; i( a4 {謝謝....
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2#
 樓主| 發表於 2009-1-10 00:40:29 | 只看該作者
好像沒有人遇到這個問題.....
$ E6 P5 o: q. _1 \- e7 G2 C# Z+ C1 W這兒有沒有人負責IC ESD 設計?
3#
發表於 2009-1-17 10:54:01 | 只看該作者
System-Level是說沒有機殼的搭配嗎
1 m  c! b3 {0 g% i+ I* K! p目前這樣的問題+/-15KV也是diode的設計基本值了
+ e. ?; `2 ~  O) W) ^0 l所以越好的diode啟動保護越快效果越佳
; g' G. C0 \  N& |但因為是limit值所以會有穩定的誤差值( f) g8 o# T% m8 N0 {9 [) z
大部分要搭配機構去防護
4#
 樓主| 發表於 2009-1-19 15:09:34 | 只看該作者
是呀, 沒有機殼的搭配, 只是加上一些PCB的external component,我們的客戶說打ESD GUN 是把我們的IC被打死,要求我們改善.
& N/ W$ p4 }, x) x. n* A請問你所說的didoe 是IC PAD 內的diode,還是IC 外的TVS DIODE?
( R/ m% s& Z" w0 A% q& I9 [客戶不用TVS
5#
發表於 2009-1-20 16:04:30 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2008-12-30 15:56 發表
' }6 N* J5 [- f: F6 E請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?( g' j! I2 r9 A9 c/ P- r1 j6 E; Z
有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計?
! G7 P; E/ i  a我個人認為當IC 啟動 ...

; \/ e' v' Y$ X4 o' g/ T- Z0 d7 b" W% l* N7 ]
我有过这方面的经验,我们的片子hbm-6k没有问题,system level 15k也没有问题,外部没有加任何的钳卫器件。不知道你的片子里面用什么样的结构,不要用gcnmos,ggnmos可以用但是目前看来效果不太好,scr的效果很好

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semico_ljj + 2 + 2 对大家有帮助。

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6#
 樓主| 發表於 2009-1-20 18:56:37 | 只看該作者
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了
8 ]$ W1 t* F* b9 }ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS
7#
發表於 2009-1-20 21:08:46 | 只看該作者
"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
8#
發表於 2009-1-20 21:10:46 | 只看該作者
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
9#
發表於 2009-1-21 11:42:24 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-20 18:56 發表
3 F! I. g1 p( e- v請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了  A9 w" o3 Q: @8 M$ `  d
ESD protection 則用PNDIO  ...
! Z3 u" ?+ ~9 o3 ?7 i( t8 b
我们的pin比较少,没有像你们的那么多,不过那个成功的片子用的是scr结构(完全利用其击穿机制,没有加任何的detection circuit),是自己做的,代工厂没有提供相应的参考结构,现在已经量产,也做过相应的latch-up实验,并且pass.不知道兄弟用的什么样的结构,可否详细的描述一下,如果可以,我愿意尽自己的微薄之力的。
10#
 樓主| 發表於 2009-1-21 11:53:47 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:08 PM 發表
5 p. `: Z! a% G. i3 n) u$ l"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?

& [5 Q8 Q+ }% I+ e這是代工廠的建議
$ l) x3 D9 C5 D而我們則覺得它是最省空間, 我們的ESD design 全是custom 的, 沒有用代工廠的標準IO library
11#
 樓主| 發表於 2009-1-21 12:02:24 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:10 PM 發表
9 j2 d0 x0 }: _% w- `SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
0 Q0 W9 A, \+ N% l
SCR放電的能力是非常好,但它對Process的variation亦非常敏感,所以我們都不會用..大家亦不希望量產時有任何失誤而賠錢...做研究就好,用在產品就免了
# G1 b$ c: b- r$ B; k) X但我聽說大陸有很多的設計是用SCR的
12#
發表於 2009-1-21 13:30:29 | 只看該作者
SCR也试着做过,HBM效果很好的,但是不敢推广!呵呵,“Process的variation亦非常敏感”,想挑战8KV以上的可以尝试3 p) z" m" m8 b  N

. S5 J5 P5 S/ _/ o[ 本帖最後由 semico_ljj 於 2009-1-21 01:40 PM 編輯 ]
13#
發表於 2009-1-21 16:45:25 | 只看該作者
关于芯片级的esd,我们同一个片子做过ggmos/gcmos/scr三种结构,也有过相应的验证,HBM8k没有问题,但是拿到系统级上面,ggmos/gcmos无法满足客户的15k要求,只有scr结构能够ass,而且我们选的工艺比较稳定,所以选用了scr。个人感觉,pass15k,常规的esd结构很难,其中gcmos的结果最弱(有实验证明的),ggmos居中,scr最好,关于PNDIO + RC-GTNMOS,我没有用过,但是根据别的项目的经验,貌似想pass+/-15k很难

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參與人數 1Chipcoin +3 +3 收起 理由
semico_ljj + 3 + 3 细致。

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14#
發表於 2009-1-21 20:38:01 | 只看該作者
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。
$ ^4 ~9 {/ @* I( D3 ^* H* Q“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开启速度比ggmos快,应该比ggmos更好才是啊。SCR当然是最好的!$ X( {; d, T, l
pass 15K 是什么标准要求这么高啊,以前没做过。
15#
 樓主| 發表於 2009-1-22 11:02:33 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-21 08:38 PM 發表
* F# |% b; B5 n7 A  E" x( f代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。
- g  H0 _+ D2 W- N“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开&#2155 ...

& N. \+ T  d9 J" a3 s( t, t4 X如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右.
; i2 ], i) B. A' }) s% J3 K2 ^% m1 K9 D# d3 I
15k 是IEC61000-4-2是system 上的ESD 要求& T4 [9 o: i* R
Air discharge 一般要+-15kV
6 z" O7 {% u& J8 G2 c* wContact discharge 一般要+-8kV0 G6 j5 h* N" W" g- Z' Q$ I# U0 S
這個跟JEDEC/ESDA 的HBM standard 是完全不同: c! }) H* Q9 R  z+ v0 O
; W9 x* j6 @/ X" i
[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 11:06 AM 編輯 ]
16#
發表於 2009-1-22 11:17:29 | 只看該作者

回復 15# 的帖子

"如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右."这句话有误!实践证明,foundry提供的只有DIODE的标准IO,可以通过至少2KV∼3KV以上!到了亚微米的工艺,厂商就是推荐直接采用Diode的ESD保护。
! n8 a1 Z  G. V. I; w0 D6 Q- dDiode到底好还是不好,大家可以进一步讨论。
17#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:30:20 | 只看該作者

回復 16# 的帖子

那就奇怪了* y( Z4 p$ g: Q) F* j( B* q) x
我對標準IO 的了解不是很多,所以不知道它除了diode以外還有沒有其他的配套9 p; w% d8 P9 {6 i* n* K& @
Foundry給我們的ESD design rules都有提到,如果I/O 用diode 的話,一定要有power-clamp
, E3 t! U7 s2 Z& X& x( p- t而在我們的產品內,power clamp 的設計就是GTNMOS$ n! ^: @8 M, f' k
' I# w/ z* A1 m3 a
[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 01:42 PM 編輯 ]
18#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:40:34 | 只看該作者

回復 13# 的帖子

你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?
5 |1 I- o7 }; q" c3 s我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路
! F- W& X4 U+ ~. v# H( M$ n1 Y0 i6 v如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
19#
發表於 2009-2-3 15:43:49 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-22 13:40 發表 0 D* p$ _) V/ |$ N' a( W
你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?' {8 @7 i0 R, d) Z
我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路
* a# M) D! f. {如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD

% p+ x) }  _8 r8 x有调过的,在芯片级8k没有问题的,但是系统级就不行了。我们没有做TLP,自己倒是做了ESD TEST
20#
發表於 2010-11-29 18:48:26 | 只看該作者
System level ESD 與 Chip level ESD 是兩個完全不同的規範,Syetem ESD 也是模擬 Humam body model ,但是放電能量要比 Chip HBM 大了約 5.6 倍 ( 儲能電容不同,限流電阻不同 ),所以 Chip 要直接承受System ESD 的 15 KV,可說是難上加難,一般系統會用一些方法把能量導走,不要讓 ESD 進到 IC,或是加分立式保護元件,才可能過的了15KV。
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