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[問題求助] 針對IEC6100-4-2的on-chip ESD 保護設計

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1#
發表於 2008-12-30 15:56:44 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?% O" A, C' ~6 w. e9 u" }
有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? 2 A( K4 N2 C4 e2 [% q
我個人認為當IC 啟動的時候,所有ESD Clamp 和ESD diode 是完全在關閉的狀態,所以即使hbm過了+/-4kV,system-level亦不一定過+/-15kV' m1 s; W3 J/ j- H' g3 p' f3 \
我的想法正確嘛?5 r& l. X# b0 j7 A, l5 s3 c# x
謝謝....
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2#
 樓主| 發表於 2009-1-10 00:40:29 | 只看該作者
好像沒有人遇到這個問題.....7 b  }9 N% q. v1 b$ t0 |5 b
這兒有沒有人負責IC ESD 設計?
3#
發表於 2009-1-17 10:54:01 | 只看該作者
System-Level是說沒有機殼的搭配嗎
/ e, L) M6 \; u! `/ B目前這樣的問題+/-15KV也是diode的設計基本值了
( T' N- Q# b& S+ ~9 J3 J$ G所以越好的diode啟動保護越快效果越佳6 g; L  v5 ^' v9 e" m
但因為是limit值所以會有穩定的誤差值( N' S. ^# p! v- c: r1 H
大部分要搭配機構去防護
4#
 樓主| 發表於 2009-1-19 15:09:34 | 只看該作者
是呀, 沒有機殼的搭配, 只是加上一些PCB的external component,我們的客戶說打ESD GUN 是把我們的IC被打死,要求我們改善.0 `, Z$ A. T8 f/ P4 {% q$ A
請問你所說的didoe 是IC PAD 內的diode,還是IC 外的TVS DIODE?9 e: e  ^8 l  Z7 y
客戶不用TVS
5#
發表於 2009-1-20 16:04:30 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2008-12-30 15:56 發表 & x: `; l# J5 x9 F2 L
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?5 ^1 u4 a6 }2 ^
有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計?
3 r5 I0 R: N# }  @$ ~( Y" ^我個人認為當IC 啟動 ...
6 f, G1 T! H& l7 U' t" L

# J! S' c: W' t4 Q我有过这方面的经验,我们的片子hbm-6k没有问题,system level 15k也没有问题,外部没有加任何的钳卫器件。不知道你的片子里面用什么样的结构,不要用gcnmos,ggnmos可以用但是目前看来效果不太好,scr的效果很好

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參與人數 1Chipcoin +2 +2 收起 理由
semico_ljj + 2 + 2 对大家有帮助。

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6#
 樓主| 發表於 2009-1-20 18:56:37 | 只看該作者
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了
/ b$ A1 u2 C' L( wESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS
7#
發表於 2009-1-20 21:08:46 | 只看該作者
"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
8#
發表於 2009-1-20 21:10:46 | 只看該作者
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
9#
發表於 2009-1-21 11:42:24 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-20 18:56 發表 0 j0 x% w5 A  o& R  s& |* ~
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了4 x& L: j- [$ ~8 p2 ~% v
ESD protection 則用PNDIO  ...
! x3 r$ k9 A: c/ b, A
我们的pin比较少,没有像你们的那么多,不过那个成功的片子用的是scr结构(完全利用其击穿机制,没有加任何的detection circuit),是自己做的,代工厂没有提供相应的参考结构,现在已经量产,也做过相应的latch-up实验,并且pass.不知道兄弟用的什么样的结构,可否详细的描述一下,如果可以,我愿意尽自己的微薄之力的。
10#
 樓主| 發表於 2009-1-21 11:53:47 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:08 PM 發表
& l6 J5 J& T, y) A3 F"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
( u7 [8 A7 l- J+ H- F
這是代工廠的建議7 i9 d/ [8 O% J. x% J
而我們則覺得它是最省空間, 我們的ESD design 全是custom 的, 沒有用代工廠的標準IO library
11#
 樓主| 發表於 2009-1-21 12:02:24 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:10 PM 發表 6 S$ ]0 q* X8 m/ r# g. l
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
6 S: _2 T+ _3 f8 @% @
SCR放電的能力是非常好,但它對Process的variation亦非常敏感,所以我們都不會用..大家亦不希望量產時有任何失誤而賠錢...做研究就好,用在產品就免了
# P/ p& ^2 B6 f7 u8 e# i但我聽說大陸有很多的設計是用SCR的
12#
發表於 2009-1-21 13:30:29 | 只看該作者
SCR也试着做过,HBM效果很好的,但是不敢推广!呵呵,“Process的variation亦非常敏感”,想挑战8KV以上的可以尝试6 p8 l& {# p+ q# E7 d. R0 O7 ]/ o
1 b0 @" G/ U% [% W( l8 L# N) Q. J- E3 n
[ 本帖最後由 semico_ljj 於 2009-1-21 01:40 PM 編輯 ]
13#
發表於 2009-1-21 16:45:25 | 只看該作者
关于芯片级的esd,我们同一个片子做过ggmos/gcmos/scr三种结构,也有过相应的验证,HBM8k没有问题,但是拿到系统级上面,ggmos/gcmos无法满足客户的15k要求,只有scr结构能够ass,而且我们选的工艺比较稳定,所以选用了scr。个人感觉,pass15k,常规的esd结构很难,其中gcmos的结果最弱(有实验证明的),ggmos居中,scr最好,关于PNDIO + RC-GTNMOS,我没有用过,但是根据别的项目的经验,貌似想pass+/-15k很难

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參與人數 1Chipcoin +3 +3 收起 理由
semico_ljj + 3 + 3 细致。

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14#
發表於 2009-1-21 20:38:01 | 只看該作者
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。
6 u* W! \3 {6 x7 R( t8 d8 G“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开启速度比ggmos快,应该比ggmos更好才是啊。SCR当然是最好的!, K% Z$ C% a  w9 q& ?: }
pass 15K 是什么标准要求这么高啊,以前没做过。
15#
 樓主| 發表於 2009-1-22 11:02:33 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-21 08:38 PM 發表
- c* Q% [4 M% c2 v7 @2 k代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。2 M, A& @  }! T7 H$ l: o; r
“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开&#2155 ...
: M: U0 L# B& u- `
如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右.
6 \5 r) ^: |) Z7 U: b6 w8 v0 ~& y( M: X$ T9 R9 ?
15k 是IEC61000-4-2是system 上的ESD 要求% q# i9 P8 C3 b7 C) u  B
Air discharge 一般要+-15kV
1 j6 S3 }9 w; x$ k5 }Contact discharge 一般要+-8kV
$ `- ~4 s- t. ?; B8 n7 ~1 N這個跟JEDEC/ESDA 的HBM standard 是完全不同
6 f. n: L1 y* O0 Q# B; w' x7 l4 {8 D; O
[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 11:06 AM 編輯 ]
16#
發表於 2009-1-22 11:17:29 | 只看該作者

回復 15# 的帖子

"如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右."这句话有误!实践证明,foundry提供的只有DIODE的标准IO,可以通过至少2KV∼3KV以上!到了亚微米的工艺,厂商就是推荐直接采用Diode的ESD保护。
2 q8 S! k1 |; t4 v  SDiode到底好还是不好,大家可以进一步讨论。
17#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:30:20 | 只看該作者

回復 16# 的帖子

那就奇怪了
6 a4 B! }" @) }+ r! M: e" n/ j我對標準IO 的了解不是很多,所以不知道它除了diode以外還有沒有其他的配套
2 {' c: [; a6 }% w" Y4 y- fFoundry給我們的ESD design rules都有提到,如果I/O 用diode 的話,一定要有power-clamp
4 l3 j* e( B* G9 m; `而在我們的產品內,power clamp 的設計就是GTNMOS
( F, p' M. p1 Q- D; M; T
8 w, w, M) W8 C# F% Y[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 01:42 PM 編輯 ]
18#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:40:34 | 只看該作者

回復 13# 的帖子

你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?3 o, b6 W$ R9 Q2 n
我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路
: y1 M* \# o0 b9 W+ @1 f如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
19#
發表於 2009-2-3 15:43:49 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-22 13:40 發表
" E' }+ D9 M8 I; c你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?4 ?8 n, F2 c+ L2 i8 z. `
我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路& V7 c- ^! d& n! M
如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD

; j% S$ Q( e5 K  V有调过的,在芯片级8k没有问题的,但是系统级就不行了。我们没有做TLP,自己倒是做了ESD TEST
20#
發表於 2010-11-29 18:48:26 | 只看該作者
System level ESD 與 Chip level ESD 是兩個完全不同的規範,Syetem ESD 也是模擬 Humam body model ,但是放電能量要比 Chip HBM 大了約 5.6 倍 ( 儲能電容不同,限流電阻不同 ),所以 Chip 要直接承受System ESD 的 15 KV,可說是難上加難,一般系統會用一些方法把能量導走,不要讓 ESD 進到 IC,或是加分立式保護元件,才可能過的了15KV。
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