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ESD的另一种情况:CDE(Cable Discharge Event)

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1#
發表於 2008-11-6 20:39:33 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
ESD的另一种情况:CDE; [, @: c) c1 x( x. d- P9 W4 f
CDE--Cable Discharge Event
9 m0 K& p+ g/ t* b6 i
3 q# ~  M  D2 P5 a# y7 zInvestigation on Robustness of CMOS Devices Against Cable Discharge Event (CDE) Under Different Layout Parameters in a Deep-Submicrometer CMOS Technology0 P0 e8 o; _6 g7 R9 n0 j

1 O3 R% O/ K% h% U! m5 W9 k
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2#
 樓主| 發表於 2008-11-6 20:40:28 | 只看該作者
Abstract—Cable discharge events (CDEs) have been found
( o6 b) L  _( [/ ]( B0 c$ X to be the major root cause of inducing hardware damage on
9 i' K# x( D. }0 y8 y+ V, N Ethernet ICs of communication interfaces in real applications. Still,+ Z4 a% M! O$ H8 K5 u2 o% Q# z
there is no device-level evaluation method to investigate the ro
$ z/ p0 T( f5 a" s* {5 k9 ` bustness of complementary metal–oxide–semiconductor (CMOS)4 S  b8 i& d7 Q$ V2 H  Z; j
devices against a CDE for a layout optimization in silicon chips.
3#
 樓主| 發表於 2008-11-6 20:41:17 | 只看該作者
谢谢支持!
4#
發表於 2008-12-3 16:49:22 | 只看該作者
好冬冬,楼主辛苦了1 W# M2 y: ?: F4 J; ]  t
希望楼主多多提供
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