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SCR of ESD Protection in Submicron CMOS Technology

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發表於 2008-10-31 13:12:02 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
Lateral SCR Devices with Low-Voltage
: d+ ?1 e& K  }3 y9 A, D( OHigh-Current Triggering Characteristics for Output
* e/ u- k" P/ K7 JESD Protection in Submicron CMOS Technology8 ~  M- {, [/ x# G4 ?
8 K# \6 ?, h- A( {+ e
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, VOL. 45, NO. 4, APRIL 1998- ~' _! ~  N% \5 r) p0 Y
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12#
發表於 2021-8-26 13:35:25 | 只看該作者
受益'良多
, X/ B2 u8 q# J4 K$ L& R9 j5 ?6 J- L) C( ?
謝謝大大的分享!!!!
11#
發表於 2010-12-21 20:49:26 | 只看該作者
謝謝分享3 q8 c! m. \& m3 I1 U& K$ Z, b# R, d

+ G% J' {! x. p剛好有需要
; l* c" ^1 {; m2 P- E下載來看看
10#
發表於 2010-2-26 14:42:06 | 只看該作者
不錯的參考資料, 謝謝分享!  
- i/ w; a" c/ A
4 {8 ]7 Y3 A4 Q8 C謝謝
9#
發表於 2009-10-16 10:19:50 | 只看該作者
This is what I need document....) X9 Y# `, s, Q$ A
6 j& p  t# s& ~9 T0 J& `
7 f' n& M5 a1 n
Thanks.
8#
發表於 2009-9-18 14:35:00 | 只看該作者
不錯的參考資料, 謝謝分享!7 i$ M; c9 R- h" d
剛好需要, 謝謝分享!
7#
發表於 2009-8-28 20:21:04 | 只看該作者
thanks for your data ..............
6#
發表於 2009-1-21 17:14:39 | 只看該作者
我的片子剛剛回來,測試了好多次,有一次芯片坏了,不只是ESD還是LATCH-UP,很是鬱悶啊!  4 i5 J1 ?# K/ ?1 W1 M

. [0 ]( g" x  o7 B  Z多謝您分享這篇文章!
5#
發表於 2008-12-4 21:24:20 | 只看該作者
看看                                                               
2 o2 ^' \1 `0 e( I3 E多谢
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 樓主| 發表於 2008-10-31 13:29:08 | 只看該作者
我不是很了解,好像大型的Foundry厂(TSMC、UMC、SMIC、UMIC等),都没提供采用SCR保护的I/O!可能SCR技术不成熟,或者有风险!大家的意见如何呢?盼望一起讨论一下
3#
 樓主| 發表於 2008-10-31 13:19:16 | 只看該作者
SCR确实很省面积,但是由于出发机理类似Latch-Up,所以实际应用时要注意防止触发"Latch-Up",这是一大难点!
2#
 樓主| 發表於 2008-10-31 13:14:33 | 只看該作者
有实际的流片过且测试过SCR 的ESD效果的吗?据说(非本人经历)0。35一下工艺可以达到6KV(HBM)!
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