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[問題求助] Statistical和Mismatch model

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1#
發表於 2008-8-8 16:19:43 | 顯示全部樓層 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問有沒有人知道Statistical和Mismatch model有什麼不同?' g- @5 n) I( e7 l

) T2 h/ `6 J+ m. A7 C  I6 j: V感覺好像兩個都是拿來run Monte Carlo
) `/ r; ]% ]& _  J4 i- N7 Y5 {( T& ?4 M$ ~3 P- J1 G1 i, L- g
如果我是拿來run OP的offset,應該用哪一個呢?
# A+ ?' j5 n3 ^) G# T" K% L' c8 L
謝謝
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2#
 樓主| 發表於 2008-8-11 01:42:37 | 顯示全部樓層
先謝謝您熱心的回答7 J+ c0 a! G+ e' V

, r& ]6 ]# S6 b  l3 O. x5 l目前TSMC 0.18um mm的SPICE  model已經有Statistical和Mismatch model3 o* i( C' Y1 ^  T
提供您更新的資訊~~1 o% @2 w- r1 [% s9 A. o. }% k

2 Q1 o: v) k5 W. `: M, F  h5 R不知道版主您若要run op offset的Monte Carlo會怎麼設定參數?
$ r; `1 z6 g% V% @若不run Monte Carlo, op的offset怎麼會在一般的SPICE model中呈現呢?7 @8 X8 W% R& D6 h- Y$ c0 C5 m3 L
offset的主要來源不是在於W,L,Vth的不匹配嗎?
2 P" |: j" @1 g; s6 X謝謝
3#
 樓主| 發表於 2008-8-11 13:44:28 | 顯示全部樓層
我對於Statistical和Mismatch model的差異有一點不太了解
2 W$ v8 }8 ^9 H8 f/ @4 f, p! }& u# m' W- [: y8 a, n6 z: a. |, Y$ y
Statistical model是指說用此model模擬的結果可以fit量測的結果,也就是有點類似corner的概念% B* K# T9 [: c& c( n' A
mismatch model則只是針對製程上電流或電壓不匹配的key parameter像W,L,Vt來做變動,若是要模擬offset就該用此model; Z) T1 Z8 l! F5 x6 a

1 {7 A' D" @- B; c5 y: K請問以上的見解是正確的嗎?謝謝
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