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[問題求助] Latch-up for Bipolar CMOS DMOS 5V/40V

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1#
發表於 2008-5-12 20:31:02 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
各位大大:
. f/ ^4 i  o( q8 i9 h3 D6 J  K0 C7 M' x/ U
小妹我現在遇到Latch-up問題,fail情況都是直接燒毀,製程是BCD 5V/40V
: _! |& n& A/ ]0 P" j" x" D4 C請問我該如何作FA分析去解決這個問題?6 t8 }9 U) r5 z% w
8 j6 ~! b2 n6 j3 e
現在正在焦頭爛耳中,不知道方向在哪?$ K& z& A" {  @
希望各位大大能給點方向或意見可以提供小妹,謝謝!
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2#
發表於 2008-5-13 10:04:36 | 只看該作者
請問有長epi嗎?lacth-up有許多原因....
3#
發表於 2008-5-13 11:27:20 | 只看該作者
請問是哪家foundry的BCD製程?是哪個generation node process? 0.5um? 0.6um?...
4#
發表於 2008-5-13 11:51:59 | 只看該作者
1. 先 review layout
; e& X# X. b- S( q! I2. 如果無法從 layout 看出,做亮點分析,妳的例子是直接燒毀,所以已經知道大電流路徑' ?& _1 F/ p7 P0 v5 y7 H* {
3. 就燒毀位置附近 layout 畫出可能之 latch-up 等效電路,看是哪邊寄生電阻過大,過大部分就接多一點 contact,或者寄生的 n,p type BJT 拉遠一點即可
- L8 W- h& r0 h3 p以上是個人的小小經驗....
5#
 樓主| 發表於 2008-5-13 12:00:45 | 只看該作者
To Kokokiki:- M( [3 V5 l/ P6 `8 A+ y5 a
non-epi wafer1 m$ ~$ t/ l; ^. ~

& M6 _- }+ G! D7 h* W2 I) ATo Tcsungeric:
3 z" ^, ^3 @0 V7 p3 n0.6um process
  g8 D* [  L5 b0 _: Q9 b! `  R8 v/ w
& _# r4 ]0 u5 x9 x) Z3 x) B- ?. [& STo 阿光:7 U# e, h9 v- l& m) ]- Y% h: b- @
目前都已確認過Layout,尚無找到問題
: V8 z7 D; \! ]$ }) j' e9 O3 k4 [: J3 s8 N, c; b0 F8 h7 z4 R+ W

, C  \: ]$ I5 m/ Y8 K我們的設計是有內含LDO circuit,針對Latch-up是不是有哪些應該要注意的點呢?
6#
發表於 2008-5-14 11:59:04 | 只看該作者
做完Hot spot找到位置, 看位置附近 Layout,Device cross section及circuit操作方式加上偏壓,8 g9 s$ Y9 z2 q7 e
看有為寄生bipolar 被 turn on . 注意 P/N介面 0.7V 就turn on.' N9 b3 a' S+ d7 d
另外是高壓製程一般都有EPI.
7#
 樓主| 發表於 2008-5-14 22:14:08 | 只看該作者
抱歉,今天與晶圓廠確認,我們的製程是有 EPI 的
& U6 n2 E& H# ^" [# h5 U$ p
0 r" G/ t7 Z  R& E* N8 e1 N請問,高壓產品的 Latch-up 打法是否完全遵照 JEDEC-78A 的規範?
  C& N9 U, s3 ^+ Q, x/ oInput pin 接 high 打一次,接 low 也打一次?1 x, Y6 S9 @( H8 {$ U- b# i* `7 U, P
或是只要參考應用電路的接法去打?
8#
發表於 2008-5-15 12:16:06 | 只看該作者
如果是有epi,那P-sub(or n-SUB),阻值是相對低,比較有可能的是HV-device的well之間隔離不良造成.
7 J9 `: c, h: W: ]; ?可以在run-timing的狀況之下,用紅外線攝影(晶圓廠通常有)做高點分析,找到較hot的junction,做layout上的改善.
9#
發表於 2009-5-19 17:15:18 | 只看該作者
是漢磊的嗎?!) `/ K% W. N5 `+ F1 n
加大Drain端到Gate的距離!!然後加大Contact Size!!
3 o) S6 Q! ]8 A  T! M再不行就加Zener Protection!
10#
發表於 2009-5-20 13:21:34 | 只看該作者
在POWERMOS的GUARD RING 家厚,檢查LATCHUP 可能的路徑2 A; G* J0 O$ l6 T. ]& H7 k( l4 c
有燒毀現象  就要針對該地方分析latchup發生原因.
11#
發表於 2021-8-26 13:36:17 | 只看該作者
受益'良多
; _* |$ R0 X3 f+ g0 d& p7 t6 m" B2 `, K- M* D5 V
謝謝大大的分享!!!!
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