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[問題求助] 請問latchup的正確講法

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1#
發表於 2008-3-19 23:59:01 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
latchup是因為靠近Rnwell電阻大,所以VB1<VE1=VDD所以第一及的BJT導通,所以產生射極電流,然後產生集極電流,集極電流流到Rsub(大電阻),所以端電壓升高也就是第二級的base端,所以第二級的bjt導通,所以產生第二級的Ic電流,所以IB1的電流變大,導致IE1也變大,如此一直循環導致電流越來越大,把晶片燒毀 不知道這樣說對不對,但書上說是VDD跟GND短路是捨麼意思?不是只是因為電流太大的緣故嗎?
, C* ?+ r+ a1 L6 H, D+ I請知道的大大回答我 謝謝
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17#
發表於 2021-8-25 09:19:58 | 只看該作者
. j) a+ {; E  t
Thanks for your answer., z+ u- P3 V  s: i
Thanks for your answer.( Q, u+ E6 H# z/ _
Thanks for your answer.
16#
發表於 2021-8-23 17:03:49 | 只看該作者
感謝大大講解+ d! y) S/ S; w" F5 S" C! [( X
非常謝謝
15#
發表於 2021-6-28 10:13:34 | 只看該作者
CMOS剖面圖畫出來,寄生BJT跟R標示出來,解釋一下寄生電路的動作原理
14#
發表於 2021-6-3 23:37:55 | 只看該作者
謝謝大大無私分享
0 V% R, I, a* M- h, q& N* U6 R受益良多感恩大德
13#
發表於 2021-3-16 12:57:09 | 只看該作者
謝謝大大無私分享
/ t: T+ C; P& D, K# q/ M% ^% v* k受益良多感恩大德
12#
發表於 2017-2-9 16:24:02 | 只看該作者
謝謝講解8 ?5 ^) ^. I3 q/ N+ X6 B/ f1 ^
早一點看到就不會懊惱就麼久了
11#
發表於 2010-12-9 21:25:07 | 只看該作者
蟹蟹大大分享
( Y6 F& t  l1 ^2 x* w受益良多
10#
發表於 2008-5-21 13:16:12 | 只看該作者
原帖由 tommy01 於 2008-3-19 11:59 PM 發表 8 g, r4 h/ d$ P! }- l( {
latchup是因為靠近Rnwell電阻大,所以VB1
2 E/ P+ e" D1 H

9 h, u$ T1 b+ r+ M' [
% y( U* u  g# \; n7 q6 e, ?" Llatch up一但發生,最後的結果不是gate被打穿就是juntion punch through或是metal燒毀。: h5 z, k5 e$ Q  w0 Y. p
除了最後一項原因,其他會導致vdd gnd short所以書上講的也沒錯。$ d7 ^/ U% w( U
只是他只講出結果而已。
9#
發表於 2008-3-30 20:43:13 | 只看該作者
接樓上:
; L; I( _7 y7 V( Y0 y- D其實我也一直在想,經常說的latch-up都是PMOS和NMOS之間的,但是好像聽説異電位的NWell之間 更容易 發生。6 G4 M7 V3 J& u6 v/ [: Q" o
還有一個問題是,如果NMOS的一個端接的是VDD要注意什麽,是不是要注意ERC會引起擊穿還是什麽啊?
8#
發表於 2008-3-27 22:45:07 | 只看該作者

回復 6# 的帖子

我的理解是 如果 PMOS 與NMOS 距離夠遠  中間又有 Guard ring 圍住的話
8 z, q! m, b7 U! ~7 s% f3 J那麼substrate底下所構成的等效電路 就不是  SCR電路
* R" V, ^- J/ j' g  p而是單獨的 PMOS  或 單獨的NMOS
7#
發表於 2008-3-25 10:23:02 | 只看該作者

回復 5# 的帖子

Thanks for your answer." I" t; p. `( E8 J9 g5 T
Thanks for your answer.4 I5 k% ^$ J$ M; B+ H# O# s
Thanks for your answer.
6#
發表於 2008-3-21 12:00:58 | 只看該作者
这几天老听到说片子LATCH-UP了,但是我从书上看到的,这种现象只在PMOS NMOS之间容易发生,若单种MOS管在一个地方的话就不会发生,是吗?对于这个问题我一直不是很理解,请各位指教指教~
5#
發表於 2008-3-20 13:09:59 | 只看該作者
SCR:矽控整流子
& N  J* K# k. h! |7 v  e3 d其實就像BJT,只是它用來做開關而已
& Y0 [$ ^! r7 D( S8 q6 I: ^但其結構是為PNPN,啟動後就永久開啟,需OPEN才會停止
( L; b  U  W5 G) X3 ~典型的SCR開啟時間是1us左右,關閉時間約5~30us
4#
發表於 2008-3-20 10:07:04 | 只看該作者
請問一下什麼是SCR呢?. V, ?$ [0 T5 B
**因為要防latch up 就高壓與低壓隔開.ESD的PMOS 與NMOS隔開.
3#
發表於 2008-3-20 08:28:29 | 只看該作者
我對這問題的理解如下:
" V/ K6 ^3 e: P) t+ u% R  S' i
3 w3 R0 p$ g/ H1.
1 x3 z% {0 A( |" l' [CMOS製程  我們做出來的電路  如果正常工作  電流應該是會在 substrate 基底的表面流動.....* z1 q7 G% Q% E# M9 W8 I
比方一個  反相器  如果正常工作時  不是PMOS開 NMOS關   就是NMOS開  PMOS關$ v( t9 a( }0 ^7 I# {# _" q' s
如果哪天   NMOS PMOS 都開,  那這個反相器 就無法正常工作了  (已經沒有反相的效果)
' T4 t! v2 J* \$ l; r" x輸出  OUT  那一點  PMOS NMOS的電流在 Fighting.  此時  電流正是從 VDD流到 VSS去...& w- K# R$ z6 U, i
5 \& x* z& f4 \% M' S% [* Q* h
2.  我原本預期電流只會在基底的表面流動.9 k% t" d: Z* H+ P1 g
     但只要LATCH-UP現象一發生  電流卻會在  基底  底下 由 VDD 流到 VSS.... (正常電流流動在1F, 此時LATCH-UP, 電流是在B2或B3跑)
# q6 V9 V% ~+ J; n: i3 h     (這是我不想要發生的效應,只要一發生所有邏輯電路都不能正常工作了...)
3 g* l8 X* P; X' y     其他就麻煩您自己看教科書   SCR電路  等效於  CMOS 剖面圖的 相關說明, Latch-up是個不可逆的效應  只要發生 Chip就會死得不明不白...
1 \- {$ X/ }9 M& _     教科書上通常會寫  降低Rwell電阻或是降低寄生BJT Beta去壓制 Latch-up效應, 6 `2 }* Z( V. z! m. |$ L
     Layout上常見的作法就是每隔一段距離就要打 contact上去. y6 b' J/ b- ^9 }2 Y2 f. K5 C2 f
      主旨就是在降低 Rwell電阻.
4 E0 @. P4 ]; I* ?     不然就是要圍 Guard ring或 Double guard ring, 其中一個功用是 讓 SCR等效電路不要出現,自然就不會有 Latch-up的危險.
# R3 C0 z& x" f* L6 v, D( B4 I! U9 r% s- Y0 b) k& t
如果這些內容有什麼遺漏或有誤的地方,也歡迎大家多補充.
- |4 A% Y0 }) O) w$ ]
' Z+ U$ _3 }" E' S9 M- m[ 本帖最後由 yhchang 於 2008-3-20 08:37 AM 編輯 ]
2#
發表於 2008-3-20 08:22:59 | 只看該作者
hi~
. ]5 `- s- d  \電流太大,形同短路
& S+ z7 ]! h% z0 F4 a7 \- A7 M: K所以直接說VDD與GND SHORT
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