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[問題求助] 加入T18 IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:24 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
大家好
' c& L2 d: \8 y7 Q& B  \' g: ?! R. \3 R: D0 {4 \4 W9 @" @
在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護
# B  m( r  c% ]& A& ?1 i7 r# M3 z- C; n) O  t. L0 @
但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port
& _! ?5 Z, j; b7 y( \; P% F; |) h# A; A- c
造成LVS驗證顯示短路
: @9 r! a1 B4 `9 @0 ^: ^7 {
6 S; f- n- N3 `2 U" M+ x因為用的是TSRI給的library6 U8 i7 c/ S# c* n% |) |4 r( C

- b4 ]1 M2 c" M) o) k; j6 K發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的4 I1 P* g) o# c' m8 N1 R

9 [& x8 U) E+ c- M3 c# _+ ^2 i而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ
+ P  |: U( S- n; A1 E* M' I) i  i; S# `4 F: e- K; s
是stream in 的時候就有問題了嗎?6 B/ V' r, i( r  C2 j% z

7 q6 A3 R6 w* J2 U請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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