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[問題求助] 加入T18 IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:24 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
大家好9 @8 g2 X& b* E! d

" G$ H$ f7 E" a8 |$ M1 o( }1 ^1 A# Z. }在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護4 v! ~0 A" u& E
+ Q1 B/ Q' J2 b1 b
但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port4 b5 ^4 Q& a1 v7 C
, V1 G( ?) |, Z, W
造成LVS驗證顯示短路
5 x7 `9 N/ Q/ ?+ ^  J9 k; n& H& c8 q( }5 r1 c3 Q/ T* W
因為用的是TSRI給的library
( @$ U( a; q) @7 z, d- [+ u
3 f, w( ~* _1 f! E發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的/ B! r. A: {* z6 ]7 J
; u- [# i6 w, }% e8 z  p% T& w
而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ
" ^0 @9 K; Y! J2 T' q
0 t& W1 @1 v+ z3 h) N: O$ C" ~+ p是stream in 的時候就有問題了嗎?. y% ?( h% r9 {1 p  D, {9 q
( V( d3 b, B: O; K: J: o1 i6 J
請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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