10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

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活 動 日 期	2011-10-13
報 名 截 止 日	2011-10-07
人 數 限 制	120人
活 動 場 次	台北
活 動 地 點	維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

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DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。 2 Q" L5 i, q$ y' t# n		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。 ( G1 {4 o( |6 F
08:30-09:00 0 }' j1 i5 i/ o( y) B	Registration and Welcome 2 C+ J9 ~# r+ R) e) S: H	13:00-13:30	Registration and Welcome 8 n5 Y1 X( S, I6 d0 _1 V
09:00-10:00 5 J( Z& q5 L9 C* u	DDR1/2/3的電氣特性規格要求	13:30-14:30 & }- j% t$ y8 _( M	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰
10:00-10:30	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧	14:30-15:00 2 l, n1 L) }* z	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程
10:30-10:50	Break & Product Fair	15:00-15:20	Break & Product Fair
10:50-12:00	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程	15:20-16:30 & I' Y1 F& y( Q) p: s/ C2 Q	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題 ; m9 b; I: K! v9 W: I
12:00-13:00	Lunch 2 r# m- k$ |' T7 P8 q	16:30~17:00	Survey & Lucky Draw . S$ x( \* b9 i" i1 I3 F

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