10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

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活 動 日 期	2011-10-13
報 名 截 止 日	2011-10-07
人 數 限 制	120人
活 動 場 次	台北
活 動 地 點	維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

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DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。
08:30-09:00 1 S2 ~8 o/ s! D. \6 K	Registration and Welcome ! v. j& w; G1 B: h6 w	13:00-13:30	Registration and Welcome " I: f# k* d% N& q2 z% l
09:00-10:00	DDR1/2/3的電氣特性規格要求 7 ~4 ]4 H8 O( `$ N+ O	13:30-14:30 $ c; t8 V) N3 N! b! D	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰 " z- z% N4 ?4 U' {: S1 B
10:00-10:30 ( a+ Y5 X$ ^' j$ E) g+ Y6 E+ ^- d( g	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧 : W1 C7 W+ A' }/ l5 M	14:30-15:00	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程 2 |3 A* q1 u( T# h# w- d+ q5 a$ G
10:30-10:50 6 |2 z3 H' A# d5 {7 h/ H2 y; l. U	Break & Product Fair	15:00-15:20	Break & Product Fair
10:50-12:00 & I5 Z& b1 Y; Z+ Y( J. ]1 y	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程	15:20-16:30	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題 $ \$ ~; _: b7 l! }
12:00-13:00 # Y% }1 V3 c! [. f	Lunch / H8 C. }" |- E	16:30~17:00 + R. ]* @! k* n+ C- F$ M	Survey & Lucky Draw

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