10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

amatom

活 動 日 期	2011-10-13
報 名 截 止 日	2011-10-07
人 數 限 制	120人
活 動 場 次	台北
活 動 地 點	維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

( h: M. W/ _7 J7 T8 P3 X2 S
$ n& D3 ~( |# u

DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。
08:30-09:00	Registration and Welcome	13:00-13:30 ! U3 z- g$ ^" O	Registration and Welcome ! O" Z- {. ]5 h0 L0 O, N
09:00-10:00	DDR1/2/3的電氣特性規格要求   G; W& d( ~; _, W  q	13:30-14:30	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰 * g* ~/ i; q. }" k: G
10:00-10:30	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧	14:30-15:00	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程
10:30-10:50	Break & Product Fair , K& u, Y' Q% ?) [- y	15:00-15:20	Break & Product Fair + e. O+ d8 {. t, ?: b6 a
10:50-12:00 ( P! r7 p; p5 w0 S$ S: S2 ?	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程 0 K' A5 i$ O3 t3 d' T+ Q4 j. v$ B	15:20-16:30 + d1 L4 U# C) {6 q* a+ s) H	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題 ) w! ~6 V4 @$ D
12:00-13:00 ) `8 L, ?* J0 a" X! n	Lunch	16:30~17:00 6 I. [2 v2 |# R1 d; B/ l6 A	Survey & Lucky Draw ) Y, |0 I/ F9 L* v

6 H+ x8 ^) H3 A0 Y0 c