10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

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活 動 日 期	2011-10-13
報 名 截 止 日	2011-10-07
人 數 限 制	120人
活 動 場 次	台北
活 動 地 點	維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

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DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。 ( Y' u; t+ T9 b- e% n" O, z		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。 5 Y* `: v8 u9 q# ]% P
08:30-09:00	Registration and Welcome	13:00-13:30	Registration and Welcome " F' i. \4 b8 n; D( Z- |1 E) H- g  ^" \
09:00-10:00 # g1 k$ g5 j! C	DDR1/2/3的電氣特性規格要求	13:30-14:30	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰 4 Q# A; O  k  L( Z+ u1 X# ^
10:00-10:30 / m; ?, j  t. U' |7 w0 f4 d4 B, D! R	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧 4 h8 J. n# @3 w/ [	14:30-15:00 3 Y9 |' ^1 _, ^: _* b* F	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程
10:30-10:50 ; F  J" [' c0 D8 }+ ~	Break & Product Fair 9 P, m3 `, ^6 d$ M	15:00-15:20	Break & Product Fair
10:50-12:00	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程 # y- ]6 }" K% S- }% q" d	15:20-16:30 , m' A1 ]) Y5 c) U0 ~* Z' R4 o	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題
12:00-13:00 ! d% t& `6 h7 Q$ k5 ~( O* B	Lunch	16:30~17:00	Survey & Lucky Draw   c' o# Q1 h0 u* ^% x0 s

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