有個FLASH的問題

dysyase

[20奈米NAND Flash大戰引爆　三星、美光、東芝全面較勁]
這是今天再網路上看到的一篇新聞~亂轉不太好所以就沒轉上來了~
4 y7 b2 v! y4 V我的問題是~之前~45的時候不是說~會有讀取次數減少的問題嗎~那~20不就更慘~為何製程縮小會造成~讀取次數減少的問題~

likc

Very Good!! Thanks for professional answer.

Nobody

因為 floating gate 電子越來越少   一點點的干擾就可引起讀取失敗
& D7 }7 b( v' k7 j1 j* o$ Jfloating gate 電容 ~  1fF  
9 n; p$ }5 F5 W* \一個準位的電壓 = 3v
Q=CV  = 1x10^-15 x 3 = 3x 10^-15
7 Q- g+ T4 ?* D) P一個電子電荷 = 1.6 x 10 ^-19
9 S& g# x/ m% t8 u+ }6 o+ V2 wfloating gate 上一個準位差別電子數只有 3x10^-15 / 1.6x10^-19 ~ 1.9 x10^4   個電子
如果偏移了 10%   , sense 可能就 failed   ,  
讀取限制在 100k 次  , 每讀取100次對 floating gate 的影響必需降到  1.9x10^4x0.1/10^3
1.9 個電子以下   , 你知道這是多少電流嗎 , 假設讀取 100 次時間= 100 us  
i= dQ/dt ~  1.9x1.6x10^-19 / (100 x10^-6)  ~   3 x 10 ^-14 A  = 0.03 pA  
nand flash 的 read disturb 和data retention 問題 在越來越精細的製程只會越來越嚴重
3 ?1 Q6 a& K) V  x" }# |+ p只能靠ecc 和一些存取的限制來彌補
可參考 "nand 快閃記憶體" 曾德彰  科大文化出版 一書