|
活動網頁 - ni.com/taiwan/sts2010
: T/ o0 f0 I% d0 N7 V8 b$ b4 @/ a7 C7 x! b
======================================================
2 H+ v8 H9 N* A半導體晶片設計愈趨複雜,不論是對於 IC 設計公司或封測廠,甚至是對於開發測試系統的 ATE 供應商而言,都面臨了比以往更大的挑戰。如何為半導體產業提供一個更開放、高彈性與客製化、降低成本並提升效能的解決方案,便成了現今半導體驗證與測試領域的重要課題。
8 F+ h6 U* C. q9 L) G( K$ p4 s5 U9 m- b4 ?% J" W' w% c
本論壇由美商國家儀器主辦,集合國內外知名專家與廠商 (Tektronix, TERADYNE, Chroma…等),針對半導體產業的驗證與測試做深入探討,從標準 (Technical Standard) 的相容性測試 (Compliance Test)、 IC 訊號的特性描述 (Characterization) 或驗證 (Verification and Validation)、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測 (Field Test)…等,提供了各面向的探討與剖析,也建立了產業界彼此交流及學習技術的機會。
; U* S) v' M2 l8 f7 K, ?& ? ! @+ a) Y g7 W1 A2 U; B
活動焦點:
9 \) _; z2 J! L$ s#剖析半導體驗證與測試所面臨的挑戰與未來趨勢: T) d/ J& L8 R7 m3 V9 D; } F3 s
#學習最新的類比、數位、混合或高頻訊號等測試技術
' @& t) a G* P. t) k+ [7 |6 n#從相容性測試、IC 驗證與特性描述、量產測試到場測,提供完整的講題內容4 B8 N. V' p' H! i' C6 l4 }8 c [. J
#了解最新半導體測試系統展示與業界解決方案
8 i6 D% |7 ^5 U j1 ^9 K) t3 M邀請對象:
. g# H$ o% J7 K" D# P# 有半導體驗證 / 測試 / 訊號量測等相關需求的工程師、主管或經理
: r3 r& y6 P2 {+ h) o. ^* _#IC 設計公司驗證 / 測試工程師7 T% X; T& f3 U6 ~
#IC 測試廠測試研發工程師
# f. d6 l: ^% o" N" i: |* O, N#半導體測試系統設計 / 開發工程師. {, j$ m# C R3 ?/ \! q
#ATE 設計 / 開發工程師
2 P" L* V0 l L, q1 ] W% W#模組 / 系統測試研發工程師& L' f$ x* ^9 d6 p0 ]: ]' E8 N) E, x" l
#RF 測試工程師
& j7 }: n+ s! j: t1 k/ a9 c; I#半導體元件 / 晶片 / SOC / SIP 測試工程師
, t. C2 Y' z% c3 K( L1 @======================================================
" }+ t5 p2 N( z- H7 p, c
# X+ W, q+ f' r3 U' s詳細內容請看活動網頁,共有超過10個session,10家公司以上,超新的主題(RF, mixed-signal, 3D video, USB3.0...)
" a1 [- K6 x. h o1 M免費還抽大獎喔!!!!
8 l; z. E+ ~; N
# b, Y" D4 A6 s有需要半導體訊號量測.驗證.測試.RF平台建立的工程師千萬不能錯過!!!!! |
|