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[好康相報] 高彈性的 RF 平台 - 3/23 Semiconductor Test Summit 2010

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發表於 2010-3-5 01:33:34 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
活動網頁 - ni.com/taiwan/sts2010
; D1 o; a' e! l0 w8 I( s$ D4 ?4 y* F# h) m
======================================================. O$ Q. [1 E0 P9 l& w0 [
半導體晶片設計愈趨複雜,不論是對於 IC 設計公司或封測廠,甚至是對於開發測試系統的 ATE 供應商而言,都面臨了比以往更大的挑戰。如何為半導體產業提供一個更開放、高彈性與客製化、降低成本並提升效能的解決方案,便成了現今半導體驗證與測試領域的重要課題。) H: k+ z% _0 X" x0 ?

% X/ o1 \4 g6 X8 Z. @" ~本論壇由美商國家儀器主辦,集合國內外知名專家與廠商 (Tektronix, TERADYNE, Chroma…等),針對半導體產業的驗證與測試做深入探討,從標準 (Technical Standard) 的相容性測試 (Compliance Test)、 IC 訊號的特性描述 (Characterization) 或驗證 (Verification and Validation)、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測 (Field Test)…等,提供了各面向的探討與剖析,也建立了產業界彼此交流及學習技術的機會。5 j4 \; w+ _, Y0 Y
 # N0 R% k/ o" N7 q* z& `2 J/ Y
活動焦點:
  J+ n" w- h! p! w0 X2 P  g% ~$ S#剖析半導體驗證與測試所面臨的挑戰與未來趨勢9 v" |8 C: ^, a' M4 Z+ P) L+ P+ }
#學習最新的類比、數位、混合或高頻訊號等測試技術# v0 A# R: |3 ~  {; x) z
#從相容性測試、IC 驗證與特性描述、量產測試到場測,提供完整的講題內容
$ e8 L: y0 W. u' z/ T6 X#了解最新半導體測試系統展示與業界解決方案
& X) v+ e% x7 h& P: d4 ~, [邀請對象:7 U) v/ |! {* ~* F. @& P
# 有半導體驗證 / 測試 / 訊號量測等相關需求的工程師、主管或經理% H; h! i+ Z5 J8 }8 l. g
#IC 設計公司驗證 / 測試工程師
+ r; \, w6 z" w' I" _9 G8 v#IC 測試廠測試研發工程師
8 L$ |4 z( W# f, v9 G" y#半導體測試系統設計 / 開發工程師; g- E5 L4 Z" O1 \
#ATE 設計 / 開發工程師# |, V+ y, K( b1 E4 |
#模組 / 系統測試研發工程師
( Q0 j' h4 y7 `9 p" O1 Q5 B#RF 測試工程師% |5 ]3 c" e4 j  ]" I
#半導體元件 / 晶片 / SOC / SIP 測試工程師
. H# {. B; W; ~; q======================================================
. y, K5 a; b3 i4 D4 t" ~& ^
6 A, Z: a% R5 f詳細內容請看活動網頁,共有超過10個session,10家公司以上,超新的主題(RF, mixed-signal, 3D video, USB3.0...)
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