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[問題求助] 请教ESD测试顺序

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1#
發表於 2009-6-24 14:20:38 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
在ESD测试时,有三种测试组合:I/O对电源/地、I/O对I/O、电源对地,这几种组合有没有测试顺序?比如说先测试电源对地,再测试I/O对电源/地,最后是IO对I/O。
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5#
發表於 2009-7-18 01:39:29 | 只看該作者
In order to save test device, usually will do Power to Ground then IO to Power/Ground and the last is Io to IO. 5 c, ]( z7 d5 `& o
" W2 u8 y+ U7 ^# {
The reason is:
# M. B; x+ t1 x4 M* m1 \1. If power to ground can not pass, the rest combination has less chance to pass
: |8 U) u$ @, [, L5 d- M2. Usually power pin count is less than IO pin count. It is fast to get an idea how the chip's ESD level" H# B2 ~1 Y. U0 y
3. If failed, it's easy to find the failed ESD zapping combination

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4#
發表於 2009-6-27 13:56:11 | 只看該作者
用相對I-V漂移故障判断方法时,是将电源地接到一起来,然后对I/O加电压,得到电流对电压的曲线.
3#
發表於 2009-6-27 13:54:17 | 只看該作者
Because all tests need to pass, so I think there is no fixed sequence. Normally, 电源对地 --> I/O对电源/地 --> I/O对I/O is recommended because this is general strength sequence of ESD immunity. For your reference.
2#
 樓主| 發表於 2009-6-24 14:40:38 | 只看該作者
用相對I-V漂移故障判断方法时,I-V曲线又是如何得到的?是将电源地接到一起来,然后对I/O加电压,得到电流对电压的曲线,还是将其他的I/O和电源/地接到一起哪?
# y0 h9 i& J4 e; Y5 S, B  `对此比较困惑,望各位达人解惑,谢谢
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