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[問題求助] IC上客戶板子Fail的問題

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1#
發表於 2008-1-18 01:44:11 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
工作兩年常常遇到 公司的研發高階主管飛國外  解客戶的Bug
: Y# G( ~* ?- X: N8 A0 v原因往往是自己家的IC 在產線上做高低溫還有封裝測試都是PASS  但是往往一上客戶板子就出包
2 u+ G7 L9 O! M5 v9 ]2 n( c, M4 ?3 i9 j) Y5 j* c1 L
我自己是覺得可能有以下幾個可能
9 u# E% H" W. I' d; t& @1.  IO的 Eye diagram不夠大 或者是板子傳輸線上有阻抗匹配的問題- \: V( ?3 S7 e- z4 l! h) ]
2.  Board Level的 ESD或 EOS Fail( Q  u0 F. E6 t/ a
3.  板子上的Chip間 EMI的互相干擾; e4 o: ^) y/ ?; s) O. ]* |" m( Z1 }

9 l0 [1 \; C+ z8 [. D! h我的疑問是   1 {" d  N7 ]& @4 y3 t) ~" c
1.  除了以上幾個情況外  還有什麼情況也會發生 在客戶的Field(板子)會Fail?3 i0 i0 J) c6 Q5 }
2.  如果IO 的 Eye diagram不夠大, 有哪些有效的方法可以提高 Eye呢?) A8 v( X$ \4 B4 f% t) o* Z& l
3.  有沒有什麼方法可以事先驗證或模擬 客戶的環境  讓我的IC上到客戶的板子也不會有問題?
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