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[問題求助] IC上客戶板子Fail的問題

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1#
發表於 2008-1-18 01:44:11 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
工作兩年常常遇到 公司的研發高階主管飛國外  解客戶的Bug
5 A$ S: k9 M% S9 W2 H原因往往是自己家的IC 在產線上做高低溫還有封裝測試都是PASS  但是往往一上客戶板子就出包; g! t6 z" g4 q9 Y' e& Q
7 x& e" c$ ^+ x1 g9 \
我自己是覺得可能有以下幾個可能
; K! G) Z7 h* ?' t1.  IO的 Eye diagram不夠大 或者是板子傳輸線上有阻抗匹配的問題( P1 t& M$ c$ I
2.  Board Level的 ESD或 EOS Fail/ V7 ~$ f- O; {* x
3.  板子上的Chip間 EMI的互相干擾# ~" H  t% w' n' I( L4 E$ b
. g, G) S( X) q, M% Y3 r
我的疑問是   & N  }( W- S$ M2 W  N
1.  除了以上幾個情況外  還有什麼情況也會發生 在客戶的Field(板子)會Fail?' \- Z( Y1 z7 f, X' l2 T' B
2.  如果IO 的 Eye diagram不夠大, 有哪些有效的方法可以提高 Eye呢?* S* c! [* g4 G# j! i8 B
3.  有沒有什麼方法可以事先驗證或模擬 客戶的環境  讓我的IC上到客戶的板子也不會有問題?
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