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[問題求助] 請問latchup的正確講法

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1#
發表於 2008-3-19 23:59:01 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
latchup是因為靠近Rnwell電阻大,所以VB1<VE1=VDD所以第一及的BJT導通,所以產生射極電流,然後產生集極電流,集極電流流到Rsub(大電阻),所以端電壓升高也就是第二級的base端,所以第二級的bjt導通,所以產生第二級的Ic電流,所以IB1的電流變大,導致IE1也變大,如此一直循環導致電流越來越大,把晶片燒毀 不知道這樣說對不對,但書上說是VDD跟GND短路是捨麼意思?不是只是因為電流太大的緣故嗎?3 l  N! ~6 c+ y7 k; B+ f
請知道的大大回答我 謝謝
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17#
發表於 2021-8-25 09:19:58 | 只看該作者
' }2 [7 s' t4 _8 U8 }3 C- c
Thanks for your answer.8 I% z! K- T" a/ ~4 n2 V/ @) _
Thanks for your answer.7 _9 C% J8 K: |% \& m3 f% k4 M
Thanks for your answer.
16#
發表於 2021-8-23 17:03:49 | 只看該作者
感謝大大講解) q  s+ a  l$ w( x$ w. H% [
非常謝謝
15#
發表於 2021-6-28 10:13:34 | 只看該作者
CMOS剖面圖畫出來,寄生BJT跟R標示出來,解釋一下寄生電路的動作原理
14#
發表於 2021-6-3 23:37:55 | 只看該作者
謝謝大大無私分享
+ c: j6 @4 `. P# r: }受益良多感恩大德
13#
發表於 2021-3-16 12:57:09 | 只看該作者
謝謝大大無私分享5 m. ?3 S7 i7 P1 C; m# c
受益良多感恩大德
12#
發表於 2017-2-9 16:24:02 | 只看該作者
謝謝講解
6 d; @. |3 K0 D" c1 o' c" R# _早一點看到就不會懊惱就麼久了
11#
發表於 2010-12-9 21:25:07 | 只看該作者
蟹蟹大大分享
+ p. b) z  v9 d/ T受益良多
10#
發表於 2008-5-21 13:16:12 | 只看該作者
原帖由 tommy01 於 2008-3-19 11:59 PM 發表
4 w+ `3 C( z6 w! ^8 Z" K' J/ f! blatchup是因為靠近Rnwell電阻大,所以VB1
$ }' O$ }8 d7 z$ [" Z) T, o
+ I$ R, _3 w4 Y1 q
0 X/ |" J- G0 Y. N' Z6 h
latch up一但發生,最後的結果不是gate被打穿就是juntion punch through或是metal燒毀。% q/ s: M1 P3 n
除了最後一項原因,其他會導致vdd gnd short所以書上講的也沒錯。
9 B4 U, u$ ^" W( i/ T# F! t只是他只講出結果而已。
9#
發表於 2008-3-30 20:43:13 | 只看該作者
接樓上:
. G! e0 `1 `+ n. T2 M: o其實我也一直在想,經常說的latch-up都是PMOS和NMOS之間的,但是好像聽説異電位的NWell之間 更容易 發生。  s; O0 X- T9 `/ r8 j" E" b4 w
還有一個問題是,如果NMOS的一個端接的是VDD要注意什麽,是不是要注意ERC會引起擊穿還是什麽啊?
8#
發表於 2008-3-27 22:45:07 | 只看該作者

回復 6# 的帖子

我的理解是 如果 PMOS 與NMOS 距離夠遠  中間又有 Guard ring 圍住的話: d2 ^+ g" M9 F1 f* a7 @
那麼substrate底下所構成的等效電路 就不是  SCR電路. T0 ^, s1 o& a4 v/ B
而是單獨的 PMOS  或 單獨的NMOS
7#
發表於 2008-3-25 10:23:02 | 只看該作者

回復 5# 的帖子

Thanks for your answer.
' {" `  m' I5 ]Thanks for your answer.
$ a% W$ x, `0 \  P. ?Thanks for your answer.
6#
發表於 2008-3-21 12:00:58 | 只看該作者
这几天老听到说片子LATCH-UP了,但是我从书上看到的,这种现象只在PMOS NMOS之间容易发生,若单种MOS管在一个地方的话就不会发生,是吗?对于这个问题我一直不是很理解,请各位指教指教~
5#
發表於 2008-3-20 13:09:59 | 只看該作者
SCR:矽控整流子
* K7 {; Z& _9 A6 `0 q9 B$ S其實就像BJT,只是它用來做開關而已
! C3 C* g+ v/ \, U  g* Z但其結構是為PNPN,啟動後就永久開啟,需OPEN才會停止. [4 Z8 g: e8 v
典型的SCR開啟時間是1us左右,關閉時間約5~30us
4#
發表於 2008-3-20 10:07:04 | 只看該作者
請問一下什麼是SCR呢?
% T/ ?5 {! C" W, h9 a  \**因為要防latch up 就高壓與低壓隔開.ESD的PMOS 與NMOS隔開.
3#
發表於 2008-3-20 08:28:29 | 只看該作者
我對這問題的理解如下:
( O/ O; R  i9 Z9 U: ~5 R; E% ^6 o+ H+ j/ ]& {; [1 g
1.( s! d9 K3 O; r. S) S$ F
CMOS製程  我們做出來的電路  如果正常工作  電流應該是會在 substrate 基底的表面流動.....
  u9 |3 J/ i6 |4 N6 z, z6 a) w3 {比方一個  反相器  如果正常工作時  不是PMOS開 NMOS關   就是NMOS開  PMOS關
7 o, f( _! S4 X% W  C如果哪天   NMOS PMOS 都開,  那這個反相器 就無法正常工作了  (已經沒有反相的效果) 6 i5 c9 m9 G" b/ K0 b3 d2 @. l% ^
輸出  OUT  那一點  PMOS NMOS的電流在 Fighting.  此時  電流正是從 VDD流到 VSS去...% o! k) r0 E, I6 p4 ~
  G7 W) j* I6 X! U7 D
2.  我原本預期電流只會在基底的表面流動.
5 g4 H# o' n" h' m7 c$ T. v     但只要LATCH-UP現象一發生  電流卻會在  基底  底下 由 VDD 流到 VSS.... (正常電流流動在1F, 此時LATCH-UP, 電流是在B2或B3跑)) D4 |- J/ d+ c) u$ C  g
     (這是我不想要發生的效應,只要一發生所有邏輯電路都不能正常工作了...)1 U9 |4 m; M$ E( i% M+ ]% O. i
     其他就麻煩您自己看教科書   SCR電路  等效於  CMOS 剖面圖的 相關說明, Latch-up是個不可逆的效應  只要發生 Chip就會死得不明不白...2 P& ^. X" J* i8 J
     教科書上通常會寫  降低Rwell電阻或是降低寄生BJT Beta去壓制 Latch-up效應,
1 b# ^0 z* a1 h# w* l- P     Layout上常見的作法就是每隔一段距離就要打 contact上去
9 |* C' c" f, S* L' i      主旨就是在降低 Rwell電阻.2 [8 D1 Q5 K# h. K( S/ p1 M
     不然就是要圍 Guard ring或 Double guard ring, 其中一個功用是 讓 SCR等效電路不要出現,自然就不會有 Latch-up的危險.! ~& Q9 |0 ~# n4 s. l- b+ B, L

. ^) c" k6 _. _8 @, y( v- t/ H如果這些內容有什麼遺漏或有誤的地方,也歡迎大家多補充.
* K7 @6 R: d% [" i. Q) Z
9 [( L  o. U" u/ w8 h7 Z/ Q[ 本帖最後由 yhchang 於 2008-3-20 08:37 AM 編輯 ]
2#
發表於 2008-3-20 08:22:59 | 只看該作者
hi~
" {4 E& o& C# C( p0 `' G8 g, G電流太大,形同短路, @) u8 i# X0 @
所以直接說VDD與GND SHORT
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