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[市場探討] 2006年台灣前五大測試廠商排名及趨勢展望

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發表於 2007-7-5 08:02:22 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
工研院IEK-ITIS計畫董鍾明分析師
7 D, Y4 Q( {/ ]http://www.itri.org.tw/chi/components/jsp/showieknews.jsp?file=templatedata\services\ieknews\data\2007\2007052311040260EF6_utf8.dcr
) |! h5 ?4 k4 u& A3 ?& j一、前五大封裝廠商排名
' g2 |# Y& [# z. l, |  O5 T2006年台灣IC測試廠商的排名維持與2005年的排名相同,前五大廠商合計產值仍佔整體產值之65%左右,其中以力成及南茂二家廠商的成長率最高。2006年力成仍是最積極擴產記憶體測試的廠商,特別著重在DDRII的產能擴充,2006年台灣新增的DDRII測試產能中,約有一半是由力成新購的機台所得。至於南茂2006年也有50%以上的高成長動力,主要在於南茂因應客戶在DDRIIFlash的產能需求,全年投入4.6億美元的資本支出因應,因此2006年營收也有相當不錯的表現。4 A6 C/ `2 E8 t2 D2 c5 t
表一 台灣前五大測試廠商
& m' ~, r, ~2 d" T; x  P* s
2005排名

1 V  Y$ C1 C& w9 S: j
2006排名
5 h2 E% g: j# D
公司名稱

; E$ L1 I. X$ C# h2 d8 h  a
2005營收

( X( g9 B8 }0 Z  ?/ ~# ]9 z
(億新台幣)

9 |& r+ c" m; C: V
2006營收

$ R8 x# t3 O; J: [) i- {5 W
(億新台幣)
  x, X3 a& Q5 _; i1 _
成長率(%)
0 |3 _! f6 C1 j, l3 q) A
1

3 [5 m& h$ {; O) Z4 u
1

# T" W$ J7 o9 R& a$ m' p4 C
日月光集團*
& O7 H0 G8 m% w" W& t/ Z1 o
172.0
- c2 X) O1 _4 r! W& j) m
214.3
& t7 }$ _) d3 d$ u$ k
24.6

: z& K. E# _1 u5 b
2
& v& J% e+ F4 I! H0 y
2

  x4 m/ g9 H! Y5 X9 `% T: \
京元電子

0 c) {) x% g0 @3 J
99.5
5 F4 C& ?! D1 B4 V
129.0

, }4 ^& O; c; S; b9 M0 Z) r# u
29.6

# i3 ~' |4 J5 x. M4 Q! x
3

( C6 T! A, h' n# A
3
: P! ^. T" ]9 s7 k8 e+ M
力成科技

+ T# i" J; I4 Y$ z% {; Y% V5 [
77.7
- r8 o7 k9 y, _' l) B. d- h; ?
110.3
9 L& C; y( y+ ]/ ~& I8 a+ ^) l
42.0

- A6 @3 N/ ^' R; X$ _* y9 B4 t. r; N
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4

  W. ~0 m! l3 D
南茂科技

2 Q: \- s9 v' Y  e' s
58.8
  {  _. V8 ^3 }* ~' S4 l+ j
92.5

- Z1 ~. ~" R% I4 |5 W
57.3
+ G; j0 s. s4 K7 y
5
7 `/ }! y4 ?+ Y' q% D% O  n; Z0 T" W
5
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矽品精密

( b) Q, W* F! n; c/ D, @& ~% F* A) m
43.0
) C; J# B6 T" s, z
56.4

! _: V$ N9 f: ]  D
31.1
& |5 A, K+ o& K1 {( q  h
資料來源:工研院IEK(2007/03)
( R, B2 `  I3 o) n9 ?# q9 n7 j- c& |1 k# _9 T
二、重要趨勢7 K# k, z2 q- A' `! H1 D
由於SiP日漸受到重視,而發展SiP的一個重要因素為良好裸晶(Know Good DieKGD)取得不易。良裸晶指晶圓(Wafer)製作完成後,未經封裝即進行全功能測試(Full Functional Testing)或甚至進行晶圓等級預燒測試(Wafer Level Burn-in TestingWLBI))者。& q6 E1 b3 L3 |- I# S
為何SiP需要使用良裸晶(KGD)呢?這是因為將多顆IC封成一顆封裝體時,其中若有一顆IC有瑕疵,就將導致整顆封裝體內的全部IC都將因此無法運作。假定基板係經測試且封裝技術亦無問題,其良率為100%,若單一顆IC的良率為90%,利用此相同良率的5IC製成SiP時,則此SiP的良率將只有59%,在這樣的良率下將無法進行商業量產。為了降低SiP測試成本與提高SiP的良率,良裸晶的篩選就成了SiP生產製造過程中最重要的一環。
) K7 |/ N1 R, j" l/ f6 n% Z1 ?6 ~) C& D7 }
三、未來展望" P% y$ H; c% B! C$ c' i  v
記憶體測試約佔台灣整體測試產值之六成,換言之,記憶體產業之循環對台灣測試產業之影響相當大。以2007年而言,預料Vistia作業系統將開始慢慢普及,PC使用者對於換機或昇級的需求將會大增,直接衝擊的就是記憶體的需求引爆。除此之外,各式手持式電子商品的普及,以及具備各種需要儲存功能之產品問世,個人隨身儲存需求容量愈來愈高,2007Flash的測試需求將有增無減。
9 ?  y% Y8 s; \2007年台灣測試廠商擴產規模及速度,將會是影響台灣測試產業相當重要的一環。由於2005起,記憶體測試產能即呈供不應求之現象,因此,除了原有記憶體測試廠商持續擴充產能之外,包括原本不涉足記憶體測試領域的廠商,也都相繼投入記憶體的測試。2007年各家仍競相擴產的結果,雖不至於出現測試產能供過於求的現象,但價格破壞的競爭策略則難保不會出現。
! g- q3 j$ t# R  f總而言之,2007年台灣測試產業仍可維持二位數字之成長表現,但相較於2006年近四成之成長,2007年成長將會稍為回緩,工研院IEK預估,2007年台灣測試業的營收將達1,029億新台幣,成長率為11.4%
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