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[問題求助] chip power ring 电阻一般不超过多少?

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1#
發表於 2008-3-13 18:09:48 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
对于较大面积的die,从ESD考虑,power ring 电阻一般不超过多少?! E7 E& O# [. R7 [* X
请高手指导,谢谢
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2#
發表於 2008-3-17 23:36:52 | 只看該作者
我也想知道這方面知識啊!!!!/ p2 N# L* }' \2 H' o
有沒有人可以幫忙回答的呢????
3#
發表於 2008-9-8 23:18:47 | 只看該作者
最好不要超過 1 ohm
- B  R- g1 A+ v$ [如果會超過
$ g5 t  h8 c0 d2 ]) v那麼 I/O 這邊的元件要畫大些
4#
 樓主| 發表於 2008-10-31 00:01:42 | 只看該作者
最好不要超過 1 ohm,谢谢
2 x% l' E5 G) z) j: ?超过1ohm, I/O元件大些,这个尺寸大小怎么来把握哪
" B/ ], n3 Z; A, O  j% y/ u7 K( t3 B! C( q5 {
[ 本帖最後由 scy8080 於 2008-10-31 12:05 AM 編輯 ]
5#
 樓主| 發表於 2008-10-31 00:07:09 | 只看該作者
还有一个问题,我们在做IO 管时,拉大CON到GATE的距离,大概3-4um,这个作用是什么哪
6#
發表於 2008-11-1 15:26:02 | 只看該作者

回復 5# 的帖子

是为了增大Drain 到Gate的space,也就是增大Drain到Gate的Resistor,防止突然的大电流烧毁Gate!
7#
發表於 2010-5-14 15:37:38 | 只看該作者
若擔心 POWER ring resister,有另一個想法就是在這條路徑上多塞一些VCC to GND CLAMP
8#
發表於 2010-6-8 10:48:22 | 只看該作者
补充:1 Ohm可能难一点,3 Ohm比较实际,特别是较大的Chip!
9#
發表於 2010-6-14 11:36:24 | 只看該作者
看到許多前輩的經驗談......讓我增進許多經驗喔~~~感恩
10#
發表於 2010-9-11 16:13:21 | 只看該作者
回復 1# scy8080
- X6 k/ j5 K' V
7 y7 N6 O2 M+ L/ ]+ A9 U
/ P* p! x# ^, a) n   ) ~( c! S( ~( ^4 Y: i; R  d/ `; P
 以TSMC作为参考,90纳米以下要满足bus电阻小于1欧姆,90纳米以上要满足bus电阻小于3欧姆;如果不满足该设计规则,esd zap的时候9 ^& u4 O) w/ h# l# g
很可能打坏core里的device。
. J; [( W" `, d, g: f, z% p  V 
11#
發表於 2010-9-11 16:24:01 | 只看該作者
最好不要超過 1 ohm,谢谢
- M5 f) f8 w1 y  J0 r  k$ P5 A超过1ohm, I/O元件大些,这个尺寸大小怎么&#2646 ..." J5 z/ Q. ^3 v: y
scy8080 發表於 2008-10-31 12:01 AM
" g- w, e: X8 X- ^, C1 L9 Z
) z% u  C7 l, E% D7 W6 [
" F) ^5 c! t/ M! S! A$ r
I/O元件大些有一定的帮助,但瓶颈不是在I/O元件本身的大小上,所以I/O元件大些起到的作用不是很大,比如diode,Ncs的面积大,实际上对diode,Ncs的交流导通电阻减小并不是2 j, [2 \5 h% _
很明显,由于bus太长了,上面的IR drop太大,比如ead zap 2000v,有大概1.3 amps的电流,如果bus电流从1欧姆变到2欧姆,那压降就增加1.3v,而单从增大io的面积
) O. S2 M% m! x! S; H& ~来平衡bus电阻的增大是很难的(再说成本上也不允许我们降io的面积做的很大),势必会对core device形成危险!
12#
發表於 2010-9-11 16:43:44 | 只看該作者
还有一个问题,我们在做IO 管时,拉大CON到GATE的距离,大概3-4um,& ...
# ]" i+ _' o6 q/ Pscy8080 發表於 2008-10-31 12:07 AM
$ D, L: I) N5 ?. q0 l4 o
/ d: p& g& N) j, h) v0 w% N7 ?# V0 e
拉大 CON到GATE的距离也只是拉大drain 端CON到GATE的距离,不会拉大source端CON到GATE的距离(同时一般会将salicide也去掉),
! n  H, |7 [4 x& _! `其作用是增大drain端的电阻,相当于在drain端串联了一个电阻,起到在esd 冲击时保护自己不被打坏;能保证ggnmos下寄生的诸多npn管
: i* r" H! i8 B(gdpmos下寄生pnp管)能够均匀的被打开,进入snapback状态,泄放esd电流;如果drain端这个等效的串联电阻不够大,寄生的诸多' {+ ^2 {& m5 W* P* V8 e% ?
npn管(gdpmos下寄生pnp管)可能不能够均匀的被打开进入snapback状态,只是有的开有的没有打开,而esd的电流或者说能量是一定的,$ l  ?: P5 O+ t) B3 Y' X* A& w
必须泄放,电流在局部逐渐增大,出现二次击穿(热击穿),把device烧掉,我们通常看到的emmi图片上出现在source与drain 端的那道小
, C0 @; f! E: T9 P暗条或者drain端的小洞洞或者gate下的小洞洞,都是被烧毁掉的痕迹!

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參與人數 1感謝 +2 Chipcoin +2 收起 理由
semico_ljj + 2 + 2 不错。。。

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13#
發表於 2012-7-12 13:15:13 | 只看該作者
good!
- J" k# @- O2 b0 m3 T讲的很好,现在在被一个ESD问题困扰
14#
發表於 2012-10-20 15:04:41 | 只看該作者
受益匪浅啊··~~~~~~~~~~~~~·
15#
發表於 2021-8-26 13:34:21 | 只看該作者
受益'良多
) a* C2 _" A) W& }0 \
% P# r) O# _* C( `' T9 H* Z7 L1 G1 {謝謝大大的分享!!!!
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