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ADC envelope test
有此一說:4 H% @1 t, h" W$ W! {" F) A" K
當Fin接近於Fs/2時, ADC sample的電壓slew at full scale, 此時奇數點之間的壓差其實很小 (偶數點亦同), 但是相鄰兩點間的壓差卻很大, 測試上又稱為ADC envelope test, 而在此測試中被引進來的 "beat frequency" 會被視為noise, 使SNR下降.) S* ]% @- m8 n; `& `
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也就是說, 若ADC內front end的PGA or buffer Amp slew rate不足, 此缺陷便很容易在此測試中被突顯出來.
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' w- L6 T' b# U4 e( G. @就系統面而言, 拉高ADC的AVDD看看有沒有救, (ADC PAD_VDD反而要調低, 除了降EMI外也可拉低系統noise floor).
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C! y6 R- J) g- W, w[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-12 10:29 PM 編輯 ] |
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