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layout中該注意的事情

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1#
發表於 2008-2-13 12:20:04 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
想請問一下 有關 power,LDO...類比方面的各 block 中# L5 |4 D# f1 ^, M) m4 a7 w

, o* x5 R4 m+ d4 }' R, P, J$ R畫這些線路時你們都注意哪些方面的問題
: t- @6 P; Z4 n" J9 h& g2 b1 f$ d
/ G8 t! C8 }8 F9 T可以互相討論一下嗎3 v) q+ U7 p3 j, B/ m, y

" e2 n& m0 g! o. F0 N$ w回答時也請說明哪種 block
1 ~) M2 M% V% p& a
( ]! B2 v7 a9 K. K9 c[ 本帖最後由 cindyc 於 2008-2-13 12:21 PM 編輯 ]
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2#
發表於 2008-2-14 21:53:42 | 只看該作者
布局前的准备:
5 X4 A' j* y9 |* U% _" @" m1 查看捕捉点设置是否正确.08工艺为0.1,06工艺为0.05,05工艺为0.025.
  _; G: ^0 R/ H2 Cell名称不能以数字开头.否则无法做DRACULA检查.
# g, ^: N. D+ {3 布局前考虑好出PIN的方向和位置
! `" T5 t4 q0 J# D( k( `( N3 F3 R7 i, B4 布局前分析电路,完成同一功能的MOS管画在一起4 A( v. P9 g. `" H
5 对两层金属走向预先订好。一个图中栅的走向尽量一致,不要有横有竖。
- Y+ K0 ]. ^+ H( D! z6 对pin分类,vdd,vddx注意不要混淆,不同电位(衬底接不同电压)的n井分开.混合信号的电路尤其注意这点.8 l. p1 N% W+ s6 z# I  g
7 在正确的路径下(一般是进到~/opus)打开icfb.
& \3 B& L: {4 h8 N* o3 Y: {) n8 更改cell时查看路径,一定要在正确的library下更改,以防copy过来的cell是在其他的library下,被改错.
$ G! ?$ A, Q* D: S% d+ m- _9 将不同电位的N井找出来.. j1 G9 z% E$ q* L* z  a% Z, B
布局时注意:
8 I% c5 q" y; f& u8 e3 z10 更改原理图后一定记得check and save
( h0 f+ z/ I: M5 ^% i11 完成每个cell后要归原点
' h7 {: t5 E$ n# E& l4 n12 DEVICE的 个数 是否和原理图一至(有并联的管子时注意);各DEVICE的尺寸是否和原理图一至。一般在拿到原理图之后,会对布局有大概的规划,先画DEVICE,(DIVECE之间不必用最小间距,根据经验考虑连线空间留出空隙)再连线。画DEVICE后从EXTRACTED中看参数检验对错。对每个device器件的各端从什么方向,什么位置与其他物体连线 必须 先有考虑(与经验及floorplan的水平有关).
0 W8 s; f# i. |7 y& Z13 如果一个cell调用其它cell,被调用的cell的vssx,vddx,vssb,vddb如果没有和外层cell连起来,要打上PIN,否则通不过diva检查.尽量在布局低层cell时就连起来, d! d4 r0 g2 ~9 [0 _6 i) R
14 尽量用最上层金属接出PIN。
1 M' [9 Q8 N+ m15 接出去的线拉到cell边缘,布局时记得留出走线空间.5 ^5 U4 @) p3 s+ B
16 金属连线不宜过长;8 X# g; ^) x3 M+ c% d8 ?/ L
17 电容一般最后画,在空档处拼凑。' }9 ~* a  A) ?
18 小尺寸的mos管孔可以少打一点.% ~* x; {1 S6 I- B3 a$ _3 r
19 LABEL标识元件时不要用y0层,mapfile不认。* a4 s% F# b# u7 A/ n1 ~
20 管子的沟道上尽量不要走线;M2的影响比M1小.4 {3 ]- ]" v2 U& C0 I6 d* S
21 电容上下级板的电压注意要均匀分布;电容的长宽不宜相差过大。可以多个电阻并联.
7 ]+ i/ j8 D" K8 `8 b3 Z$ e22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。# E. @2 L2 Z. V. ^( ^, C
23 栅上的孔最好打在栅的中间位置.' T. v  x. X  z' ]. O  V9 m  `
24 U形的mos管用整片方形的栅覆盖diff层,不要用layer generation的方法生成U形栅.
* C' k5 L$ v' h7 ~2 T4 m4 F25 一般打孔最少打两个
( q7 }+ H& a6 v0 G$ W) B26 Contact面积允许的情况下,能打越多越好,尤其是input/output部分,因为电流较大.但如果contact阻值远大于diffusion则不适用.传导线越宽越好,因为可以减少电阻值,但也增加了电容值.
% L* x4 n& V8 D/ q3 [27 薄氧化层是否有对应的植入层5 |( f" Y, r1 Q( {
28 金属连接孔可以嵌在diffusion的孔中间.
/ t; G, _- I! E( M7 t0 e29 两段金属连接处重叠的地方注意金属线最小宽度# q5 W6 O! B# R2 n5 G7 b
30 连线接头处一定要重叠,画的时候将该区域放大可避免此错误。! C3 I, [) d8 r# K. M2 c
31 摆放各个小CELL时注意不要挤得太近,没有留出走线空间。最后线只能从DEVICE上跨过去。
: D& y% Q6 \* A. N32 Text2,y0层只是用来做检查或标志用,不用于光刻制造.
) Q8 f8 @* l- Y0 K4 c  A. B6 l& A33 芯片内部的电源线/地线和ESD上的电源线/地线分开接;数模信号的电源线/地线分开。
: a( n3 \8 E- \$ P& o7 G5 M34 Pad的pass窗口的尺寸画成整数90um." E* h2 h; N3 T  _/ j3 ~9 a
35 连接Esd电路的线不能断,如果改变走向不要换金属层
, K( H. E. v. A6 G4 w36 Esd电路中无VDDX,VSSX,是VDDB,VSSB.
8 Q. p) z- j: l" S1 ]2 E! ^" n2 Z37 PAD和ESD最好使用M1连接,宽度不小于20um;使用M2连接时,pad上不用打VIA孔,在ESD电路上打。0 r8 B9 |7 ]( M, f5 `7 ~
38 PAD与芯片内部cell的连线要从ESD电路上接过去。
7 R/ }* d& G9 R3 i2 s4 x39 Esd电路的SOURCE放两边,DRAIN放中间。4 n( p2 l; w9 C$ f
40 ESD的D端的孔到poly的间距为4,S端到poly的间距为^+0.2.防止大电流从D端进来时影响poly.- w, J9 k6 x+ o# j, P7 k
41 ESD的pmos管与其他ESD或POWER的nmos管至少相距70um以上。
5 j, {$ o3 S# N! ?0 W42 大尺寸的pmos/nmos与其他nmos/pmos(非powermos和ESD)的间距不够70um时,但最好不要小于50um,中间加NWELL,打上NTAP.
4 k& X- V/ {$ @0 ?/ j; n43 NWELL和PTAP的隔离效果有什么不同?NWELL较深,效果较好.6 S. ]$ {# A9 i5 G) e3 l; P
44 只有esd电路中的管子才可以用2*2um的孔.怎么判断ESD电路?上拉P管的D/G均接VDD,S接PAD;下拉N管的G/S接VSS,D接PAD.P/N管起二极管的作用.
% q4 {, M6 X. X2 U# T/ I$ N45 摆放ESD时nmos摆在最外缘,pmos在内.
$ |$ Z. m2 U# \9 j! P! E46 关于匹配电路,放大电路不需要和下面的电流源匹配。什么是匹配?使需要匹配的管子所处的光刻环境一样。 匹配分为横向,纵向,和中心匹配。1221为纵向匹配,12为中心匹配(把上方1转到下方1时,上方2也达到下方2位置)21中心匹配最佳。
& a8 a4 W. h4 q9 z47 尺寸非常小的匹配管子对匹配画法要求不严格.4个以上的匹配管子,局部和整体都匹配的匹配方式最佳.% n5 x1 {% q$ k( P
48 在匹配电路的mos管左右画上dummy,用poly,poly的尺寸与管子尺寸一样,dummy与相邻的第一个poly gate的间距等于poly gate之间的间距.. q. L% R1 I& ]2 Q2 }* {
49 电阻的匹配,例如1,2两电阻需要匹配,仍是1221等方法。电阻dummy两头接地vssx。
) I' \# ?; O6 [; @, B+ K50 Via不要打在电阻体,电容(poly)边缘上面.) m" h, g3 f- p; |
51 05工艺中resistor层只是做检查用
2 ~" ]7 k" X9 T# n) w! w  R& [" V) e0 t52 电阻连线处孔越多,各个VIA孔的电阻是并联关系,孔形成的电阻变小.  E" Z# G- q" H5 y1 R3 b
53 电阻的dummy是保证处于边缘的电阻与其他电阻蚀刻环境一样.
- ]3 H2 U: ~) `. h8 s9 b54 电容的匹配,值,接线,位置的匹配。* N0 T/ R# o+ |0 g1 [. W9 g
55 电阻连接fuse的pad的连线要稍宽,因为通过的电流较大.fuse的容丝用最上层金属.
* _5 K1 ^  ], ?: O+ s: ?
( x% @) n2 r6 M; b' [0 C$ Y56 关于powermos4 \5 V6 g' ]! D
① powermos一般接pin,要用足够宽的金属线接,
; f" k& _' u$ C0 t* h② 几种缩小面积的画法。
# j& j# L( S  Y: M0 J' L③ 栅的间距?无要求。栅的长度不能超过100um. ]# s1 G$ J) v, M) x. I
57 Power mos要考虑瞬时大电流通过的情况,保证电流到达各处的路径的电阻相差不大.(适应所有存在大电流通过的情况)., E7 {+ z4 {: R! j* y
58 金属层dummy要和金属走向一致,即如果M2横走,M2的dummy也是横走向
9 \, u. z  g6 Y4 M* X+ u, q59 低层cell的pin,label等要整齐,and不要删掉以备后用.
; _# I/ k0 M1 g) D# ?5 Z60 匹配电路的栅如果横走,之间连接用的金属线会是竖走,用金属一层,和规定的金属走向一致。; K0 S/ a3 v3 J  r2 _1 |. g
61 不同宽度金属连接的影响?整个layout面积较大时影响可忽略.
/ @' p. v3 x* K2 C  }) X/ }! `$ X; R62 输出端节电容要小.多个管子并联,有一端是输出时注意做到这点.
1 @$ |# |  i& S9 x5 s3 V& P$ C& R63 做DRACULA检查时,如果先运行drc,drc检查没有完毕时做了lvs检查,那么drc检查的每一步会比lvs检查的每一步快;反之,lvs会比drc快.) f3 ~0 q& @3 a; y
64 最终DRACULA通过之后在layout图中空隙处加上ptap,先用thin-oxid将空隙处填满,再打上孔,金属宽度不要超过10,即一行最多8个孔(06工艺)8 `9 N; O5 k7 v: M) m  U
65 为防止信号串扰,在两电路间加上PTAP,此PTAP单独连接VSS PAD.
, Q9 u: Z) m4 o, y, w* F66 金属上走过的电压很大时,为避免尖角放电,拐角处用斜角,不能走90度度的直角.
+ `% B5 K0 g1 u- k* \) x67 如果w=20,可画成两个w=10mos管并联4 M, j& o% ~$ O2 u
68 并联的管子共用端为S端,或D端;串联的管子共用端为s/d端.
5 u6 N$ t  }2 }* n" X出错检查:
; `% N7 F1 d; ]69 DEVICE的各端是否都有连线;连线是否正确;
) [" t6 h2 [* ?7 W6 S# b70 完成布局检查时要查看每个接线的地方是否都有连线,特别注意VSSX,VDDX/ \: D8 |  S4 Q' l# S/ Y
71 查线时用SHOTS将线高亮显示,便于找出可以合并或是缩短距离的金属线。8 T( ~  M7 F( `+ D9 I
72 多个电阻(大于两根)打上DUMMY。保证每根电阻在光刻时所处的环境一样,最外面的电阻的NPIM层要超出EPOLY2 0.55 um,即两根电阻间距的一半。5 v" H4 D& t+ r- N2 v) \6 O
73 无关的MOS管的THIN要断开,不要连在一起
6 m2 _4 j$ h1 x% K% s' Z& W74 并联的管子注意漏源合并,不要连错线。一个管子的源端也是另一个管子的源端4 C. @, R: T  v: L" a$ Z! d. [( d
75 做DRAC检查时最上层的pin的名称用text2标识。Text2的名称要和该pin的名称一样.
* Q9 Z7 ^" F) y76 大CELL不要做DIVA检查,用DRACULE. 2 n0 J# ?& G$ o1 {) I! H
77 Text2层要打在最顶层cell里.如果打在pad上,于最顶层调用此PAD,Dracula无法认出此pin.
( k5 c. T% M; u8 d6 P& ~! a" d" O78 消除电阻dummy的lvs报错,把nimp和RPdummy层移出最边缘的电阻,不要覆盖dummy9 W% _- a, \$ U2 Q
79 06工艺中M1最小宽度0.8,如果用0.8的M1拐线,虽然diva的drc不报错,但DRACULE的drc会在拐角处报错.要在拐角处加宽金属线./ k3 p: M' V  W% n% @
80 最后DRACULA的lvs通过,但是drc没有过,每次改正drc错误前可把layout图存成layout1,再改正.以免改错影响lvs不通过,旧版图也被保存下来了.
7 X: C+ P( W1 r81 Cell中间的连线尽量在低层cell中连完,不要放在高层cell中连,特别不要在最高层cell中连,因为最高层cell的布局经常会改动,走线容易因为cell的移动变得混乱.
6 ~+ O5 F" v: j/ h( ?% M1 Q# f5 y82 DRACULA的drc无法检查出pad必须满足pad到与pad无关的物体间距为10这一规则.: D2 Z" a3 W; b! q; V
83 做DRACULA检查时开两个窗口,一个用于lvs,一个用于drc.可同时进行,节省时间.
- u* G% w4 k" t7 w" u+ C0 x容易犯的错误2 U$ t! s5 U# |/ a
84 电阻忘记加dummy- w4 k  W% ~* T
85 使用NS功能后没有复原(选取AS),之后又进行整图移动操作,结果被NS的元件没有移动,图形被破坏.
: r" i5 Y% }# o5 @. m% I86 使用strech功能时错选.每次操作时注意看图左下角提示.) O$ B7 n8 w8 ]! P; ], T6 w) f! K( R
87 Op电路中输入放大端的管子的衬底不接vddb/vddx.
0 S9 {% }6 D  g' Y+ o. I88 是否按下capslock键后没有还原就操作. N+ w5 S" U7 l! a8 b
节省面积的途径# h5 |0 w9 f0 f. E2 |6 Z
89 电源线下面可以画有器件.节省面积.( f2 b. O0 }: }8 B9 M
90 电阻上面可以走线,画电阻的区域可以充分利用。
& q/ H* y; W5 i! h91 电阻的长度画越长越省面积。
' v3 ~5 I# H- w! N6 r6 X92 走线时金属线宽走最小可以节省面积.并不需要走孔的宽度.
$ |5 W! |1 `- p1 H93 做新版本的layout图时,旧图保存,不要改动或删除。减小面积时如果低层CELL的线有与外层CELL相连,可以从更改连线入手,减小走线面积。
4 ?6 Y" l- i2 d. G2 }9 D94 版图中面积被device,device的间隔和走线空间分割。减小面积一般从走线空间入手,更改FLOORPLAN
3#
發表於 2008-2-26 10:33:12 | 只看該作者
1 查看捕捉点设置是否正确.08工艺为0.1,06工艺为0.05,05工艺为0.025.
$ R1 M. S7 G) M% A请教二楼,是否一定要这样设置?倘若我按照规则上的最小尺寸来设置,可以吗?
4#
發表於 2008-2-26 11:43:43 | 只看該作者
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。3 J& a. ^7 T  a/ |  f
做了会有什么影响?
5#
發表於 2008-10-23 16:20:50 | 只看該作者
"22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。" 不会吧,我就是这么做的???有问题吗
6#
發表於 2009-7-28 20:05:53 | 只看該作者
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属
' u2 c: {2 H' ^) @9 K8 ]同问!!! 不明白原因
7#
發表於 2009-8-9 22:00:16 | 只看該作者
剛好要瞭解這方面的資訊,正好做來參考...
( O7 P" z6 D0 y% l5 ^- H, k6 h
謝謝分享...
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