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研究人員以碳奈米管實現真正的3D晶片

2015-1-4 10:03 AM| 發佈者: chip123| 查看: 1232| 評論: 0|來自: EET 電子工程專輯

摘要: 美國史丹佛大學的研究人員們在2014年底的國際電子元件會議(IEDM)上展示了真正的 3D 晶片。
美國史丹佛大學(Stanford University)的研究人員們在2014年底的國際電子元件會議(IEDM)上展示了真正的 3D 晶片。

大部份的 3D 晶片採用矽穿孔(TSV)的方式推疊不同的製造晶片,而史丹佛大學所展示的是在標準的互補式金屬氧化物半導體(CMOS)上堆疊任何層數的邏輯與記憶體。在IEDM上,史丹佛大學在 CMOS 晶片上堆疊了2層的金屬氧化物電阻型隨機存取記憶體(PRAM),以及1層利用碳奈米管(CNT)作為電晶體通道的邏輯電路。

相關技術細節,請參閱來源報導。

【點擊此處可讀取詳細全文】

【撰稿人:Aaron_Huang】

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