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[問題求助] 畫電阻時為何需要考慮邊緣與彎曲的地方?

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1#
發表於 2007-8-12 20:25:21 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
小妹又來了。
' s4 @' ~" G' R4 O( F, s6 D. p這次我的問題是:: Z9 e: J, N4 @" Y+ |2 o4 \
1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?
3 \2 t8 \% P3 g, a/ @2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖)
+ D+ S) `9 t9 \# m  Y2 \4 n* l: O, K
3.以non-silicided poly畫電阻對Body會產生較小的寄生電容(與silicided poly相較),why?
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2#
發表於 2007-8-12 23:22:49 | 只看該作者
1、一般1個contact的resistor是固定的,可參考foundary的資料,一般L=Lm+dL,W=Wm。
7 r+ y" u/ G; D( y1 f, N# {5 g7 ]8 S0 a5 |2、彎曲電阻的不確定性只要考慮current的流動(想像水的流動)你就知道了。+ M) r3 t& ^9 G/ [7 A
3、查capacitor的公式就知道了,C=eA/d,e表示介電常數(為2個級板),現在substrate是silicon,所以.以non-silicided poly  , V8 j) J0 x* f1 @' W: z
     畫電阻對Body會產生較小的寄生電容。

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參與人數 1 +2 收起 理由
woo240 + 2 熱心回覆! 謝謝回答唷,對我很有幫助!

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3#
發表於 2007-8-14 10:25:16 | 只看該作者

作 TFT 的人之淺見

1. contact hole 的 edge 很容易因曝光而產生差異,曝光不足或過量,都會有形變而造成 contact面積上的變化。再者,edge 容易有爬坡問題,其所造成阻抗變動,較難估算(此為 TFT Thin Film Process 易遇到的 issue)。但就發問同學所提問內容,應是考慮 R=Rs*L/W 的式子,在 contact hole 處所代入的 W 及 L;但這有很多人作過相關研究了喔,查一下應該有數據或公式可以直接代的喔。
8 L1 o9 ?# ?6 ?; F
3 s- X/ ~9 X# _5 R7 y. C2.同上。轉角處的電阻,印象中的數據,以方格電阻計,為一正方格的 2/3 還是 3/5 ..... 忘記了.....  g0 s' A8 Z4 U. s

6 n; R" C6 D. i3.以下純屬猜測:是因為等阻值 Layout,non-silicided poly 佔用較小面積,而 silicided poly 需佔用較大面積嗎 ?

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woo240 + 2 熱心回覆!TFT方面的回答對我也很有幫 ...

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4#
 樓主| 發表於 2007-8-16 16:59:16 | 只看該作者
小妹還有個問題
5 H2 x  B3 D3 F* X8 {+ C1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的4 K7 v  n4 N8 m0 R1 e# J
  是否說"對低阻抗而言電流擁擠與轉角的不協調是不重要的”
5#
發表於 2007-8-16 23:09:18 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-16 04:59 PM 發表 & @7 _5 b/ o1 Y# O
小妹還有個問題; G5 r1 i" Y2 |: b4 W8 @2 l) H
1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的
' }, U3 e) g$ j$ Y4 c3 l- \, z9 M  是否說"對低阻抗而言電流擁擠與轉角的不協調是不重要的”

7 `& e5 Q. ~  W5 M( Y: {* y% C7 g, o6 u$ S+ o7 x

9 D: }* n! U0 W須注意相關current density的問題......................
6#
發表於 2007-8-17 10:30:07 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-12 08:25 PM 發表
+ d0 u8 a7 S; I3 t" }+ u' j小妹又來了。2 {$ i  F- y5 o' s3 N3 k, P! [
這次我的問題是:/ o8 C9 |; r$ S) J' d
1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?, A6 D: X4 Z% e- N; ]" T
2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖 ...
% {) B) ~! h4 T0 {5 d; J" l# G3 O
0 |9 ^% t. a5 w# P' R  {( s
Q1:當contact連接到下層的metal時,會有接面電阻..因此要考慮的應該是contact到metal間的電阻
$ U$ ]; s8 j9 u+ g; i% {  o     但因為要接contact, metal必須畫大一點..但是poly的電阻是以一口來作為計算的準則( I- ]1 y+ j  f+ r$ l
     雖然電阻看起來是比較大,但是在L/W都一樣的情況下,poly電阻的大小都一樣大
" l+ j, |9 }) ]( d1 P+ P8 C9 Z& {     例如: L/W=1/1和L/W=1.5/1.5時,兩個電阻都一樣大/ n1 S" M' n3 ~$ j- L2 D
     因此第一個contact接到metal,應該要考慮的是接面電阻; Y3 ^" U0 K. E- L
+ i. Q  |+ c) N6 j2 W2 k0 ]- W
Q2:在製程時,會有所謂的邊緣擴散~. M0 b6 Q$ L3 |9 n0 l  P
     依照這樣轉角的電阻畫法,因為排列的不相同,
! t% Z) a2 }5 J7 c- U1 J! `- D     所以擴散的情況也會不同.
8 m& M( r* y8 k     若是轉角擴散情況嚴重,造成上下兩條直線接在一起. ^+ Z5 E# n4 @7 B9 w4 t
     整體的電阻值會變得無法預測..(以一般.35製程來說...實際下線的電阻値與劃出來的電阻值約會下降10%)9 q: X+ A  b$ E7 Y: l
     因此通常在繪製電阻時,通常會採用串聯的方式..
8 R" Q- V: I$ a. s     分別繪製相同大小阻值的電阻串聯起來~來達到想要的電阻
! P& n/ N4 e1 v8 a, V6 s# Z3 U     這種作法,因為每一段電阻值都相同,因此可以假測變動的情況也會相同
! V, f* ?. l8 j0 \! z& J     但是整體而言,因為一起變動,可以把電阻的變動直降到較低的情況
. R  f/ X9 P5 S1 V& W) T+ e+ ` * _, p. s# w) f( \) R
     這種轉角的電阻畫法,還有另一種缺點:
1 C- h' p' c: s* i8 z; U& _     因為電子會在轉角處聚集較多的電子,因此在轉角處會較易過熱9 o0 u- j" I: ]& `/ d2 Y1 I- R
     容易造成electromigration,也就是所謂的電子遷移..; A1 @! e% a3 K2 g9 m
     更簡單的來說,再轉角過熱的情況,該處的金屬容易因為過熱而斷掉或因為熱擴散造成電阻值變動3 h. C' O. p  i
     4 s9 Y" n9 y2 i! Q$ J# {
     這兩個是轉角畫法較嚴重的問題
, {4 p& N2 X; F6 O! V' \* g# l: d7 J* j4 c2 H/ X# m
/ g( t" b7 }( h2 L. B9 k3 b  Z0 _
另外是Q1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的6 Y6 W+ x' b1 R
這個問題,以實際的製程來說,電阻畫的越小,在製程時造成的邊緣擴散效應較低- Q2 d7 y" `. _2 R
因此電阻值畫的越小,電阻值的變動越低
; m& Q/ m( n0 p# M2 q1 G換句話說,用較小尺寸的電阻做串聯時,電阻的變動會較低

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yhchang + 4 Good answer!
woo240 + 3 您的回答很詳盡,謝謝你了,以後有問題 ...

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7#
 樓主| 發表於 2007-8-20 22:30:16 | 只看該作者
6樓的樓主很謝謝你的回答" _/ t- i+ [  f+ d
不過又有了一個疑問
7 p1 l4 a+ l0 \" m2 o就是在電阻應用考量時,我們在layout中是無法做出精密的電阻值,這是要考量的其中之一  ]) Y% n( r/ t5 l
但是”小的電阻值會有較大的誤差值”
9 {/ D1 ]8 A) Z! J7 S- A這句”小的電阻值” 我可以把它解釋為以哪一層次來做電阻嗎?(well, diffusion, poly, metal)3 r9 |0 v6 [8 ?5 d
是說以metal來畫電阻的話會比用poly來畫的誤差大嗎?
4 B& j' q1 x5 K' E! k  r# R1 n& r如果是的話,那為何不用well做電阻呢?
8#
發表於 2007-8-22 09:46:14 | 只看該作者

回復 #7 woo240 的帖子

小的電阻值應該是指面積吧; `8 w* A  ?/ R& H: h/ K6 A
面積很小(nwell, diffusion, poly, metal)都一樣誤差大(這是指絕對值)
# L5 S7 _! W2 H# L* T特別是用diffusion產生的電阻  ) m5 y. ~* S" R/ i
你只要知道這材料怎麼做出來…就會了解為什誤差會~這麼大~
& M3 \& V1 l) u% L但是相對於同一個 ic 裡的同一個材料的電阻6 ]8 g$ v3 Q: P* |$ I
彼此的電阻比值誤差很小 ( 前提是有考慮好matching )
9#
發表於 2007-8-22 10:17:48 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-20 10:30 PM 發表 3 ?4 X5 X: c) f
6樓的樓主很謝謝你的回答1 i/ P$ U/ E9 t" i. `4 Y) p; T
不過又有了一個疑問" F9 A9 U7 g7 d3 |
就是在電阻應用考量時,我們在layout中是無法做出精密的電阻值,這是要考量的其中之一
- v' B0 Z1 o2 W6 Q但是”小的電阻值會有較大的誤差值”$ R. V9 c) F+ O" I2 n# ^1 w# `
這句”小的電阻值” 我可以把它解 ...

3 \# `- c/ N; `8 Z, ~+ Q% O. [. y# C
小的电阻值的理解是错误的  这句话应该理解为: 为了保证电阻值的精度范围,需要W/L 的值越大越好;另外,单个电阻是很以实现精确的电阻值的(金属电阻除外),你需要保证的只是电阻的比例而已,而这是可以通过matching 来实现的
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