惠瑞捷推出V93000的混合信號測試方案

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惠瑞捷推出半導體產業首創可擴充等級測試機– V93000 Smart Scale – 降低新一代積體電路測試成本
專為高階 28 奈米設備及 3D 架構設計的新一代「智慧型」測試系統與數位信號量測模組

加州庫比提諾﹣2011 年 9 月 2 日– Advantest Group (東京證交所: 6857, 紐約證交所: ATE) 子公司惠瑞捷發佈半導體產業首見可擴充、具成本效益的測試機種，專為如 3D 設備架構及 28 奈米以上積體電路設計的高階半導體量身打造。
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Smart Scale 系列為創新「智慧型」測試機，採用 per-pin 架構設計，與惠瑞捷生產驗證 V93000 平台完全相容。智慧測試主要特色為每個針腳皆可依其時脈域測試，透過確切比對該設備須測試的數據率要求達到全面的測試。其他功能包括供電調節、顫動注入及設定通訊；模擬系統壓力測試( System-Like Stress Test) 可達自動化測試設備 (ATE) 等級，增進故障覆蓋率。

惠瑞捷測試事業部副總 Hans-Juergen Wagner 表示： 「 惠瑞捷以創新 V93000 Smart Scale Generation 測試系統與針腳量測模組展現引領智慧測試方式科技領域的能力，提供客制化方案，降低客戶的測試成本。」

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四種 Smart Scale 測試機等級分別為 ﹣ A 、 C 、 S 與 L ，各有不同尺寸的測試頭， 惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用戶具體運用滿足不同的需求。
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8 v7 q7 f8 s/ D$ A" l' d9 AWagner 更指出： 「 因測試機等級彼此相容，當積體電路生產數量因設備壽命有所調整，用戶可簡捷快速地自任一 Smart Scale 等級調整至另一等級；目前尚無其他自動測試設備廠商能夠做到這點。」
- {, L( G7 f8 d& h惠瑞捷的獨特設計技術表現於並行測試與產業首見的全能晶圓測試方案 ﹣測試高階晶片內建系統 (SOC) 設備 、系統封裝 (SiP) 設備與晶圓級晶片封裝 (WLCSPs) 的嚴格產能需求。

9 h' q# c7 o( N7 E2 U! E隨 V93000 智慧型可擴充等級測試機上市，惠瑞捷同時推出三款數位信號量測模組。
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, W4 Q" Z2 d- g. s全新 Pin Scale 1600 數位模組與 Pin Scale 1600-ME （模擬記憶）模組，提供產業間每個數位信號最廣泛的效能。除此之外，數據率涵蓋 DC 至 1.6 Gbps ﹣比上一代的機台快兩倍 ﹣新機台的針腳密度也較前一代多達兩到四倍。全新高度集成、尺寸小的模組具備惠瑞捷 clock-domain-per-pin™、protocol-engine-per-pin™ 、PRBS per pin 與 SmartLoop™ 等對稱高速介面專用測試功能。同時提供精準 DC 效能、多元件高效率非同步測試及同步測試。
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惠瑞捷全新 Pin Scale 9G 模組使原速測試的花費不再高不可攀，結合與 Pin Scale 1600 相同的多樣性 per-pin 可達 8 Gbps 數據率。此模組以最大限度使用針腳，並將閒置資源降到最低。 Pin Scale 9G 模組支援所有雙端與單端針腳及運作時的差分模式。可進行模式與無模式測試以處理主流測試需求，涵蓋確認設計的並行 I/O 測試，到大量生產所需的互連實體串列 (PHY)測試。

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半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy) V93000 測試平台獲 ISE Labs 矽谷及德州奧斯汀廠採用
) E$ y3 B8 d8 c! V- c  z惠瑞捷 (Verigy) 憑藉領先業界的測試服務，將多功能測試系統應用於先進設計方法開發以及產量測試

2012 年 3 月 27 日加州庫比蒂諾報導 － 半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy)（Advantest Group 愛德萬集團（東京證交所：6857，紐約證交所：ATE）子公司）今天宣布ISE Labs 在加州費利蒙、德州奧斯汀的測試封裝廠引進 V93000 Smart Scale™ 數位量測模組以及 Pin Scale測試機種之測試設備，進一步擴展雙方對於測試開發服務的合作關係。

雙方長遠結盟關係的最新計畫即為 ISE Labs 奧斯汀廠將開始採用惠瑞捷的 Pin Scale 技術開發先進的測試方法，針對最新一代低功耗安謀（ARM）架構伺服器處理器，搭配高速DDR3記憶模組、PCI Express 介面、消費性 IC 如智慧媒體晶片內建系統 (SOC) 設備，應用於下一代的媒體閘道器與機上盒。為達成上述目標， ISE Labs 奧斯汀廠安裝 L 級測試頭的 V93000 Pin Scale 測試機台，在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及 800 數位量測模組下，具備超過 900 個數位信號腳位供測試。
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此外，矽谷最大的半導體測試實驗室— ISE Labs 費利蒙廠 ，亦引進了兩台配備 Pin Scale 1600數位量測模組的 V93000 Smart Scale 測試機，用以測試客戶量產的IC。其中一套系統使用 Pin Scale 1600 以及 9G 數位量測模組，有超過1,000 個腳位的 C 級測試頭；另一個系統則配備惠瑞捷最小的 A 級測試頭，配有 512 個數位量測腳位以及 MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組。兩套系統均可擴充升級，提供增加數位量測腳數，或新增測量資源，如惠瑞捷的 Port Scale 射頻解決方案。ISE Labs 所採用的惠瑞捷 Smart Scale 技術，是矽谷測試服務供應商中的首創之舉。

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ISE Labs工程與測試服務副總裁 Rabbi-ul Islam 表示 ：「我們對於與惠瑞捷的長期合作關係，一直感到相當滿意，也很高興能夠在奧斯汀技術中心開始實施其經認證的 Pin Scale 技術。」
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惠瑞捷北美銷售暨支援部門副總裁 Sanjeev Mohan 強調：「能獲得 ISE Labs 青睞，將新一代 Smart Scale 系統運用於技術開發以及商業測試服務，對我們來說是一件令人振奮的消息。V93000 per-pin的彈性建置讓我們在各項測試應用都能達到業界領先的水準。」
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$ O9 K$ F4 Y+ C惠瑞捷的可擴展 Smart Scale 測試系統以及數位信號量測模組，展現最具經濟效益的先進半導體設計測試，包括 28nm 技術節點及以下的 3D 堆疊與IC設計。
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. K, `; x, p! H2 XPin Scale 1600 數位量測模組在測試靈活性方面開拓一個嶄新領域。此模組的萬用 per-pin 架構，讓每個通道在測試下都能夠發揮各種裝置所需的功能，帶來最大的靈活性。Per-pin功能包括獨立時脈網域、高精準度的直流電與業界領先的數位效能，都可以透過 Pin Scale 1600 進行強化。
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惠瑞捷的 Pin Scale 9G 針腳量測模組是唯一完全整合、高速、數位化且能夠涵蓋自直流到超過每秒 8Gb，符合成本的高速測試製具。高度多樣化的 Pin Scale 9G 針腳量測模組可測試包括平行或序列式、單點或多點、單向或雙向的介面。
MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組擴展即時類比頻寬以涵蓋持續衍生的應用，如長程演進技術進階版(LTE Advanced) 以及 4G 無線傳輸，在提供高效處理的同時，亦保有 MB-AV8 設備的相容性。
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關於ISE Labs
ISE Labs, Inc. 為日月光半導體公司完全持有的子公司，也是全球最大的半導體封裝測試服務獨立供應商。ISE Labs 的統包作業方案具有廣泛的產品組合，提供多樣的服務，包括封裝設計與挑選、積體電路組裝、前端工程測試、晶圓針測、後端測試、設備驗證、可靠度測試、損壞分析、以及專案與物流管理。總公司位於加州費利蒙，是矽谷最大的半導體測試工程服務供應商，德州奧斯汀亦有營運廠房。如需了解更多資訊，請上www.iselabs.com