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惠瑞捷推HSM3G高速記憶體測試解決方案
半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy)推出HSM3G高速記憶體測試解決方案,可為DDR3、DDR4 和更高級的記憶體,提供低廉的測試成本。這項革新的解決方案,應用於DDR3世代主流記憶體IC及更高級存放裝置測試能力的V93000 HSM平台。: y E5 N! G5 ?9 U8 V, n
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惠瑞捷表示,V93000 HSM3G最大的優勢在於未來的升級性,特別是為資料傳輸速度高達6.8 Gbps的三代DDR記憶體提供價格低廉的測試服務,以及長期節約的經濟成本。
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惠瑞捷SOC測試事業部副總Hans-Juergen Wagner指出,記憶體製造商一直在尋找一種既能滿足生產和功能需求,又能提供比上一代設備壽命更長、投資價值更高的節約型ATE解決方案。V93000 HSM測試平台的壽命,讓客戶跨越DDR3到DDR4,甚至於未來的主流DRAM規格,提供至少三代卓越的投資回報。8 l3 \2 i# `8 b! V$ H
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V93000 HSM3G的速度和功能將來都可以升級,提供高速存儲卡測試市場上最完整的功能;其可程式設計、快速的每引腳APG能力,得到了資料匯流排倒置(DBI)和迴圈冗餘校驗碼(CRC)資料的支援,能夠對高級的DDR4記憶體技術功能進行測試,確保較高的測試品質和產量。6 j; {* p- V, J8 M+ }1 T; z
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惠瑞捷表示,V93000 HSM3G在整個速度範圍內實現了2.9Gbps的原生資料傳輸率以及256-site DDR3實際並行測試(parallel testing),無需任何測試時間與管理費用,也不會影響準確性、功能性、測試範圍以及產量。拜系統的原生速度餘量(native speed headroom)的優勢,HSM3G可以滿足所有主流DDR3總線速度需求,以及高端遊戲DDR3以及前兩個DDR4大規模速度等級。
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惠瑞捷是全球指標性半導體測試大廠,提供設計驗證、特性量測、以及大量生產需求的半導體測試系統和解決方案;涵蓋各種系統級晶片(SOC)、快閃記憶體和DRAM(包括高速記憶體)存儲系統,以及多晶片封裝(MCP)測試解決方案。 |
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