惠瑞捷推出V93000的混合信號測試方案

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惠瑞捷V93000測試系統推出消費性電子產品的混合信號測試解決方案
可降低最新消費性電子產品用的系統單晶片的測試成本及提高量測準確度
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首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司（Verigy Ltd.）的V93000測試系統推出消費性電子產品的混合信號測試解決方案，可針對各種高整合度的消費性電子產品元件，執行晶圓測試（Wafer Sort）及終程測試（Final Test）。半導體設計公司及大量生產製造商經常得在性能要求的廣度和有效又經濟的測試需求之間，努力尋求平衡，尤其是在設計和生產對價格很敏感、常見於ODD（光碟機）、DVD、DTV（數位電視）及STB（機上盒）等應用中的消費性電子產品內的混合信號元件時。這些元件的整合度愈來愈高，甚至內建了ePMIC（嵌入式電源管理IC）和嵌入式快閃記憶體元件。消費性電子產品的混合信號測試解決方案可透過最先進的測試方法，確保最高的準確度和測試品質，在進行高整合度元件的晶圓測試和終程測試時，可提供高速的單一元件（Single-site）和多元件（Multi-site）測試能力。

+ s, p% s% C5 N: {; P: O惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「消費者對具有移動性，且全面整合音訊、視訊、數據及電話服務的多用途元件的需求正橫掃整個消費性電子產品市場，影響力更擴及半導體市場。在此同時，匯整這些功能的系統單晶片（SoC）的價格卻逐年滑落30-40%。在這類型元件的銷售量激增，價格卻直直落的雙重影響下，製造商別無選擇，只能以更多元件的測試能力和比過去更低的測試成本來因應。我們身處這個產業的客戶對這方面的測試需求愈來愈高，驅使惠瑞捷開發出消費性電子產品的混合信號測試解決方案。」

測試系統需具備更高的準確度和直流量測能力，才能滿足數位信號的測試需求，以及同時測試高性能的類比和電源管理IP核心。新的系統級封裝（SiP）及多晶片封裝（MCP）技術需要使用確定良好的晶粒（Known Good Die），因此必須在進行晶圓篩檢測試時，執行高性能測試。奈米製程產生了新型態的故障模式（Failure Mechanism），必須加以排除才能提升良率，這對於回收晶圓廠動輒數十億美元的投資極為重要。經濟有效的晶圓層級測試日趨重要，可以儘早在生產階段的初期，找出故障模式，進而提高良率。
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4 q. T9 ?+ v) r先進的硬體具有最佳的擴充性
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2 D! o, ^  _# a' N4 Y" i可插入惠瑞捷V93000測試頭使用的單槽模組卡每平方公分包含的功能居業界之冠，有助於縮小測試系統的體積和降低成本。消費性電子產品的混合信號測試解決方案包含下列模組卡：
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•  MB AV8（Multi-Band Audio-Video，新一代的類比式多頻段影音標準）模組卡 － 不論核心數或性能等級皆可擴充，相當經濟、彈性，在
& |2 V0 ^! a! j* F" E7 u8 {  各種不同應用中的適用性非常高，包括專業音響；基頻IQ；寬頻通訊；高畫質及標準畫質的電視、機上盒、數位電視和DVD（BluRay及H
  D-DVD）等。
- d3 I: h) _; c+ i) y  `•  Pin Scale 400 － 測試接腳可擴充，以滿足大部分消費性IC和晶圓測試的需求，以及適用於更多種消費性IC的介面。入門版的速度為100 M
  bps，可升級至每支腳533+ Mbps和每支腳224 M個向量。
* X# Z8 @, Q0 a) W1 m6 d& y•  DC Scale VI32 － 只需單一片模組卡，即可彈性地因應多種應用（嵌入式快閃記憶體元件、嵌入式電源管理IC、提供精確的參考電壓）的
  需求。量測通道數可由16個擴充到32個，而且每個通道都具有碼型（Pattern）觸發能力，可提供最快的測試速度。
• DC Scale DPS32 －每片模組卡內建32個量測通道，具有更多元件的測試能力，涵蓋更多個功耗域（Power Domain），且能進行快速的同
( C; R7 |5 V% x' P: f- H步觸發，以提高穩定一致性和提供最快的量測速度。
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Verigy V93000簡介
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9 O% M9 s4 R) d8 D+ p7 DVerigy V93000是一套可擴充的機台架構，能用以測試系統單晶片、系統級封裝、以及高速記憶體元件。V93000在全球安裝的系統數已超過1,500套，不論是進行原速（At-speed）的工程特性量測或是大量的生產製造，都能解決業者在性能及成本上面臨的嚴苛挑戰。這套測試系統可提供大規模的多元件測試能力，能支援高達12.8 Gbps的資料速率 ，以及各種數位、混合信號及射頻（RF）的應用。V93000可降低蜂巢式、WLAN、WiMAX及UWB等無線通訊應用的測試成本。
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+ U; @3 P' i3 T) w7 C8 d2 L惠瑞捷股份有限公司簡介
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% M! q8 a& z- E1 |. j9 m7 X惠瑞捷股份有限公司專精於設計、開發、生產及銷售半導體產業的記憶體和系統單晶片市場所需的先進測試系統與解決方案，以及提供相關的服務。全球許多知名的半導體公司皆採用惠瑞捷的可擴充機台系統，進行設計驗證、特性量測、以及大量生產測試。惠瑞捷先前為安捷倫科技旗下的事業群，2006年6月1日起開始以惠瑞捷股份有限公司之名獨立營運，並於2006年6月13日在美國完成股票上市。詳細資訊可查詢www.verigy.com/go/ConsumerMXS網站。

) z! k* {2 z7 ]0 \5 S# f# R[ 本帖最後由 jiming 於 2007-10-24 03:23 PM 編輯 ]

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惠瑞捷奈米電子數位信號測試解決方案可找出65奈米及更小製程的故障模式以提高生產良率
& u7 u+ s: \# H; f! c  qV93000解決方案可針對製程要求嚴格及複雜的設計提供準確、大量的試產及量產診斷資料
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首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司（Verigy Ltd.）針對65奈米和更小製程所生產之先進數位IC的晶圓測試（Wafer Sort）及終程測試（Final Test），推出可執行結構及功能測試的V93000奈米電子數位信號測試解決方案（Nanoelectronics Digital Solution）。奈米電子數位信號測試解決方案可提供準確的診斷及參數資料，協助製造商找出新的故障模式（Failure Mechanism），以提高65奈米和更小製程的生產良率，這是轉進更小節點的新式製程時，會面臨的主要挑戰。新設計將能大大受惠於這套解決方案提供的深入資訊，且測試的效率極高，能以最低的測試成本（CoT），加快產品的上市時間。

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「奈米電子的時代挑戰了我們對測試在生產流程中扮演之角色的傳統認知。自動化測試設備不再只是一個判定合格/不合格的工具，而是逐漸成為提升大量生產良率的關鍵工具。我們新推出的解決方案可以讓V93000的使用者蒐集到測試奈米電子所需的準確診斷及參數資料，其多元件（Multi-site）的測試效率更樹立了生產力的新標準。」

& {6 q* W2 \, E- \* t/ d5 I隨著製程節點轉進65奈米或更小的等級，製造商也面臨新型態故障模式帶來的測試挑戰，例如轉變引起的故障（Transition Fault）和橋接引起的故障（Bridging Fault）、設計流程互動特性、以及晶粒內（Inter-die）和晶粒間（Intra-die）的變異（Variation）等。掃描向量的數量愈來愈多，加上晶片內壓縮及內建自我測試能力（BIST）等結構的使用更為普遍，更加重了測試的挑戰。除了整合高性能的類比和直流電路的複雜度之外，尺寸變小、電壓更低和速度更高的要求通常也會一併出現，使得量測的準確度變得更加重要。奈米電子一開始的良率較難掌握，因此量測準確度的重要性更甚以往，唯有準確的量測結果，才能拉近測試和設計間的落差，加快良率學習和改善的過程。

惠瑞捷瞭解擁有合適解決方案的必要性：一方面可提供最充足、深入的資訊，同時又能達到最高的生產效率，包括能快速地將資料從測試系統轉出，以進行量產良率的分析診斷。這樣的解決方案可以讓製造商充分利用最新測試方法的優點，例如更多元件的測試能力、減少所需的測試接腳數、以及迴圈（Loop-back）測試方法，在此同時，也能減少資料蒐集量到僅限於最相關的資訊。
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1 ^# a$ n9 e6 ~2 g8 N- k! [整合式硬體可提供最快的速度
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可插入惠瑞捷V93000測試頭使用的單槽模組卡每平方公分包含的功能居業界之冠，有助於縮小測試系統的體積和降低成本。V93000奈米電子數位信號測試解決方案包含下列以超小型測試頭為基礎的配置：
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o  Pin Scale 400數位信號量測模組卡，可將DC IO提高到533 Mbps；
o  整合式大量故障資料擷取能力和超快速的資料傳輸速度；
7 ~! q, y' U' W* do  DC Scale DPS32 － 每片模組卡內建32個量測通道，可同時測試多個元件的多個功耗域（Power Domain）、以及進行快速的同步觸發，
    以提高穩定一致性和提供最快的量測速度；
o  STIL連結軟體套件；
o  每支接腳都整合了TIA。

詳細資訊可查詢www.verigy.com/go/NanoDigital網站。

- z1 l% [& O0 Q' @( M3 U[ 本帖最後由 jiming 於 2007-10-24 03:23 PM 編輯 ]

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惠瑞捷V93000測試系統推出Port Scale 射頻測試解決方案            
# g9 m8 x- |( j, E; p$ U多達48個射頻測試埠、真正四組元件同測、以及高效率的多元件並行測試能力可提供最高的量測效率及最低的測試成本

3 L" Q, H7 J/ n9 k  d' C+ S0 n( ^首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC測試機台推出Port Scale射頻（RF）測試解決方案。這套新的解決方案可提供經濟、有效又可靠的射頻量測能力，是測試新式的高整合度元件（內含射頻、混合信號、數位、電源管理、以及嵌入式或堆疊式記憶體等電路），以及低整合度射頻收發器所不可或缺的工具。惠瑞捷針對V93000 SoC測試系統開發Port Scale射頻測試解決方案是為了解決無晶圓廠半導體設計公司、整合元件製造商、以及半導體委外封裝及測試公司目前和未來的需求。

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「為了生產今日新一代行動通訊用消費性電子產品中使用到的新式高整合度元件，我們的客戶面臨了極大的挑戰。V93000機台的架構不僅可以讓我們加入這項射頻測試能力，而且還能達到非凡的速度，同時依然維持最低的測試成本。」

' |" W( r! x" `1 p; t  V今天，射頻的應用已十分普遍，從行動電話到衛星導航設備、調諧器（Tuner）和機上盒（Set-top Box）等各式各樣的無線裝置和通訊應用都會用到射頻元件。另外，支援WiMAX、WLAN、Bluetooth及UWB等標準的桌上型及筆記型電腦也會用到含有射頻電路的元件。過去，射頻元件都是一個個單獨的零件，現在，將多個射頻零件整合在單一顆IC中已愈來愈常見。同樣地，諸如行動電話等裝置的設計需符合多個地區採用的標準，如GSM/CDMA、CDMA2000、EDGE和EV-DO，因此，過去只要包含一組接收器的設計現在經常得包含多達四組或更多組射頻收發器。當這些不同的射頻通訊標準全部整合在單一個射頻電路中時，會大幅提高測試的挑戰性。惠瑞捷預先看到了這種新的測試需求，瞭解客戶不論面對的是高整合度或低整合度的射頻元件，都希望儘可能維持最低的測試成本（COT），因而著手開發出Port Scale射頻測試解決方案。
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可提供最快速度的架構

Port Scale射頻測試解決方案的設計採用固態半導體元件，因此所有的射頻資源都位在V93000的測試頭中。不同於其它採用速度慢的外接設備的解決方案，Port Scale是以高速的固態半導體元件為基礎所設計的射頻測試解決方案，完全不會減損速度、性能或量測準確度。
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( \% C9 D2 P# B這套解決方案可以配置12、24或48個射頻測試埠，只要配備了24個射頻測試埠，即可提供真正四組元件同測（Quad-site）的能力，而其高效率的多元件（Multi-site）並行測試能力也解決了高整合度元件需要更多測試埠的測試問題，具有最高的測試效率，可將測試成本降到最低。Port Scale射頻測試解決方案具備的高性能、準確又穩定的量測能力、以及業界最低的雜訊底線（低至-161 dBm/Hz）可滿足愈來愈嚴苛的性能、良率及成本要求。

* T( Y; r: X1 ^0 k5 E& w加快上市時間

( y8 ?$ i, Y- Z- uPort Scale射頻測試解決方案可提供完全整合的類比和射頻測試能力與測試流程，以及可逐步進行的除錯工具，能縮短測試開發時間。惠瑞捷新增了快速又準確的“單鍵” 執行功能，可進行智慧型校準，並且採用功能強大的Eclipse™軟體環境，可以檢視動作中的硬體運作情形，讓使用者透過簡單明瞭的圖形，查看射頻量測區塊圖，並可將射頻測試設定輸出為測試方法的樣版。採用固態半導體元件的射頻設計加上V93000獨特的水冷式架構在大部分開發階段的測試計畫中，都不需要進行校準。

- Z. k; W. ~4 v0 J先進的硬體讓性能更上一層樓
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  P* \$ E' k$ H0 @可插入惠瑞捷V93000測試頭使用的單槽模組卡每平方公分包含的功能居業界之冠，有助於縮小測試系統的體積和降低成本。Port Scale射頻測試解決方案包含下列模組卡及套件：
•        射頻信號源模組卡 － 10 MHz-6 GHz的儀器等級（Instrument-quality）信號產生器；
  j/ ?) k; x% C5 o•        射頻前端模組卡 － 每一片可提供12個射頻測試埠；
•        射頻介面 － 可提供高密度、穩定可靠的射頻介面，以介接到客戶的測試載板（Load Board）和探針卡（Probe Card）；
" A1 _% C2 e# s2 Y•        MB AV8模組卡 － 提供四組任意波形產生器（AWG）核心以及四組數位轉換器（Digitizer）核心；
$ ~7 a: h2 g0 ~, C& [•        48埠的射頻校準套件 － 一組套件最多可支援十套射頻系統）。
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詳細資訊可查詢www.verigy.com/go/PortScaleRF網站。
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[ 本帖最後由 jiming 於 2007-10-24 03:25 PM 編輯 ]

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世芯電子選購Verigy V93000 Series Pin Scale為其新一代晶片測試機台

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惠瑞捷測試解決方案協助無晶圓廠IC設計供應商  在複雜的SoC設計上持續獲利

0 |4 k& O! a1 ]- B- [9 C首屈一指的半導體測試公司 － 惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日宣佈，專為高複雜度、高產量SoC設計提供矽設計及量產服務的系統單晶片領導廠商－世芯電子 (Alchip Technologies) 已選購Verigy V93000 Pin Scale系統為其新一代晶片測試機台。除了V93000 Pin Scale系統備受認可的穩定性，以及被委外組裝測試 (OSATs) 夥伴廣泛地採用外，世芯電子看重的是該系統的可擴充性，並可依客戶需求增添額外的先進測試功能。
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. J% o. k1 h* Z" F. K7 s* n世芯電子主要針對整合元件製造商 (IDMs) 、設計公司與系統廠提供全方位的SoC設計服務，從前端設計到後端晶圓的設計定案 (tape-out)、晶片組裝與測試服務，世芯電子已達成讓客戶在tape-out階段即一次成功試產 (first-cut)的優良紀錄，並有效縮短客戶產品上市時間。V93000 Pin Scale針對每隻接腳單獨授權 (Per-Pin License)，可讓世芯電子依其單一接腳的元件需求立即安裝系統，進而將測試成本降至最低。為因應測試的多變性，該系統可與新等級的元件或特殊應用需求相容。此外，V93000同時具備多元件 (Multi-site) 並行的測試功能，將可協助世芯電子符合客戶高接腳數的系統單晶片 (SoC) 與單封裝系統 (SIP) 的測試需求。

世芯電子執行長暨總裁關建英表示：「正如同客戶因世芯電子在先進製程設計的優良紀錄而與我們合作，我們也是因為惠瑞捷V93000具備SoC測試領導產品的傑出名聲而選用該系統。惠瑞捷致力於協助台灣客戶的需求，輔以其V93000的靈活性與可擴充性，將確保我們持續提供客戶可靠且高階的SoC設計晶片與測試服務。」
0 k% F; S8 V: V. y, v9 }. s5 s
$ b$ ~! s; \$ e* x6 j惠瑞捷股份有限公司業務支援與服務副總裁Pascal Ronde指出：「對於世芯電子這樣的IC設計服務供應商而言，正面臨著因應客戶每個測試階段極度嚴格測試標準的挑戰。而V93000具備準確度、穩定性與可重複性等特性，將可協助這些供應商以最高品質標準測試客戶的產品，讓世芯電子確保在tape-out階段的百分之百成功率。此外，此系統的可擴充性與靈活性也將協助世芯電子更全面的支援客戶不同晶片設計的測試需求。」
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關於世芯電子

5 h% b- Z# n& a/ d: q% ]世芯電子有限公司，總部位於台灣台北，專為高複雜度，高產量SoC設計提供矽設計及量產服務。世芯電子成立於2002年，由一群來自美國矽谷和日本的優秀工程師創辦。隨著IC設計技術複雜度的提高和產品快速上市的需求，世芯致力於為客戶提供最高效益/成本比的解決方案，確保客戶一次投片成功並快速將產品導入市場。世芯的目標客戶主要為針對成長迅速且追求量大市場的IC供應商/系統廠。這些應用市場包含娛樂裝置、手機、高畫質電視、通訊設備、電腦及其他消費類電子產品。世芯成立以來，已完成眾多高端製程(130nm, 90nm, 65nm)及高複雜度SoC設計的成功案例。世芯分別在美國 (矽谷)、日本 (新橫濱)、中國 (上海)和臺灣 (新竹) 設有分部。更多關於世芯電子的介紹請參考公司網站： http://www.alchip.com。

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惠瑞捷V93000 Port Scale射頻測試解決方案提供高性能、低測試成本、可快速達到量產規模等優勢
% M, B; L% `5 z$ T1 T$ Y! C獲沖電氣工業株式會社採用

. \$ A8 l# H9 N* {1 k3 }; b$ g0 O業界正相繼採用首創全面整合的多埠測試解決方案測試高整合度射頻元件
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         首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司（Verigy Ltd.）宣佈，日本沖電氣工業株式會社（Oki Electric Industry Co., Ltd.）已採購Verigy Port Scale射頻（RF）解決方案，測試高整合度無線通訊元件。沖電氣工業株式會社（以下簡稱沖電氣）的元件廣泛使用在各種消費性電子產品中，包括機上盒（Set-top Box）、行動電話、PDA、以及其它無線通訊產品。沖電氣也充分運用本身擁有的優異封裝技術，為其它製造商提供封測服務，現加入Port Scale射頻測試解決方案，將對測試服務事業有莫大的幫助。Port Scale射頻測試解決方案在性能及測試成本上的獨特優勢，再加上V93000機台所具備的可靠度和擴充性，以及惠瑞捷在測試應用與量產上全球支援的品質，是Port Scale射頻解決方案獲沖電氣青睞的原因。

        沖電氣是率先採用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案的公司之一，Port Scale射頻測試解決方案符合快速成長的需求，至今全球十大射頻半導體供應商中，已有八家正在使用Port Scale射頻測試解決方案，開發超過25種元件，準備在接下來幾個月投入量產。這些元件包含了當今挑戰性最高的一些新式3G和4G技術，例如UWB和WiMAX，以及包括Bluetooth、GPS導航和ZigBee等現有的技術。
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        沖電氣工業株式會社ATP生產事業部部長Katsumi Onaru表示：「爲了在現今複雜且高速的無線通訊產品運用中持續提供最佳品質的元件給客戶，我們需要可靠度高、測試成本更低、能快速量產的測試解決方案。Port Scale射頻測試解決方案在性能、成本和支援服務上皆符合我們嚴苛的要求，而V93000機台本身具備的彈性亦可滿足我們的客戶未來開發新一代元件的需求。」
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        惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde說：「Port Scale射頻測試解決方案的推出讓惠瑞捷領先競爭對手一步，提供市場上第一套與測試頭整合的多埠解決方案，能以最經濟有效的方式測試整合度高的射頻元件。我們很高興沖電氣也如同其餘射頻半導體供應商選購Port Scale射頻測試解決方案，讓Port Scale射頻測試解決方案迅速成為測試各種複雜的射頻SoC系統單晶片及射頻SiP系統級封裝（包括最新3G和4G技術）的新標準。」

沖電氣工業株式會社簡介
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" [7 E* O/ C8 p3 |* F9 u3 d- }        沖電氣工業株式會社創立於 1881 年，是日本第一家電信産品製造廠，總部設在東京。沖電氣旗下的資訊電信系統事業、半導體事業、以及印表機事業可為客戶提供最高品質的產品、技術與解決方案，此三大事業協力發展出各項嶄新的產品和技術，有效地滿足各類客戶在各種市場上的不同需求。詳細資訊請造訪該公司的全球網站：http://www.oki.com/。

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普誠科技選中Verigy V93000
( H) d7 V9 S+ v8 q1 S0 q做為下一代消費性混合信號SOC測試機台

首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 宣佈，台灣消費性IC市場的知名IC設計公司普誠科技 (Princeton Technology Corp.) 選中Verigy V93000 Pin Scale 測試解決方案，做為下一代系統單晶片 (SOC) 測試機台。V93000 Pin Scale測試解決方案獲普誠科技青睞的原因包括：它是可擴充的單機平台、獲晶圓封測試代工廠 (OSAT) 大量安裝、且惠瑞捷在半導體測試領域向來擁有極佳的口碑。

        普誠科技將運用含MB AV8 (8通道多頻段影音卡) 的V93000 Pin Scale系統，測試各種消費性電子產品用的全系列先進混合信號系統單晶片。普誠科技的系統單晶片廣泛應用在DVD、可攜式影音播放機、數位電視、家庭及辦公室設備中。普誠科技已經運用Verigy V93000解決方案測試多種元件，包括一些先進的DVP (數位影像處理器)、DVD和DVD-T等元件。晶圓封測試代工廠大量安裝惠瑞捷的測試系統對普誠科技移轉測試程式給代工服務廠極為方便。
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        普誠科技董事長兼執行長姜長安表示：「V93000 Pin Scale測試解決方案素以業界的技術領導者著稱，與我們致力於提供客戶第一次就成功的訴求不謀而合。我們一開始便中意惠瑞捷的測試機台，完全沒有考慮其它的解決方案，因為V93000不僅能提供我們測試全系列不同系統單晶片元件所需的擴充性，而且這套系統具備的超高可靠度與穩定度加上惠瑞捷提供的絕佳支援服務，亦有助於減輕生產製造上可能出現的延遲問題。」

: c* F" Y6 j& ]3 O. G        惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde指出：「對普誠科技等消費性電子市場的IC設計公司而言，擁有一套可靠的工程及生產測試系統是極為必要的。除此之外，隨著新應用領域的市場需求不斷成長，普誠科技在擴大提供產品線之際，將需要V93000測試機台所具備的彈性，以充分因應各種不同的需求。」

% _; b! B% w% t+ `普誠科技 (PTC) 公司簡介
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- X* [8 T4 q7 E9 ~1 E  U' L        普誠科技為一專業IC設計公司，於2001年在台灣正式掛牌上櫃，總公司位於台灣台北，營運據點包括分設於美國Torrance、台灣新竹、香港、中國深圳、以及日本東京的辦事處。普誠科技成立於1986年，成立後便深耕於消費性IC領域，為台灣消費性IC設計的領導廠商。近來，普誠科技在類比、數位及混合模式的IC設計能力大幅躍升，加以世界級晶圓代工廠的全力奧援，使得普誠科技所提供之產品的品質深獲肯定。有關普誠科技更詳細的資訊，可查詢www.princeton.com.tw網站。

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展訊通信採用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案測試無線通訊元件
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( _. ~1 l  w6 S2 K2 q# |中國領先的無線通訊晶片組開發商成功地大幅降低測試成本

: k; b, W) R8 {# e+ N' Z        首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 宣佈，中國領先的無線基頻晶片組供應商展訊通信有限公司 (Spreadtrum Communications, Inc.，NASDAQ: SPRD) 選用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案，做為中國蘇州元件廠的量產測試系統。展訊通信評比過多家競爭廠商的解決方案後，決定採用Port Scale射頻測試系統，因為這套系統的測試產出速度快，又具有多元件 (Multi-site) 測試能力，可降低測試成本 (COT)，並且提供更高的性能表現和更優異的測試穩定度。相較於現有的解決方案，展訊通信自從採用Port Scale射頻測試系統以後，已經成功降低射頻元件量產測試成本達50% 左右。
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        展訊通信專精於開發各種具有完善多媒體功能以及電源管理能力的高整合度基頻處理器，適用於各種行動無線通訊產品。從射頻收發器等低整合度的晶片到下一代無線通訊標準所採用的最新高整合度單晶片，都能有效地運用Port Scale射頻測試系統加以測試。這使得展訊通信在發展射頻元件的藍圖時，擁有極大的彈性，能充分因應新一代技術以及不同整合度的需求，再加上更快速的測試時間與更高的並行測試能力，可協助展訊通信大幅降低測試成本。
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        展訊通信資深營運長陳慶安表示：「惠瑞捷的Port Scale射頻測試解決方案在今日的市場中獨樹一幟，可以提供穩定一致的測試結果，對提高生產良率助益極大，能協助我們持續滿足客戶對無線通訊元件愈來愈高的需求。我們自2001年起，即致力於耕耘中國的無線通訊市場，預計在射頻應用市場的成長指日可待。我們相信與創新技術的領導者惠瑞捷攜手合作，對於實現我們的目標將是極為關鍵的因素。」
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* q+ p2 t2 }1 L( f! ?  j% {0 Q  o        惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde指出：「展訊通信在無線通訊技術上已發展出高度的專業性，且無疑是中國行動電話晶片最重要的供應商之一，由該公司最近榮獲的諸多獎項 (1)可見一斑。我們很高興Port Scale射頻測試解決方案可以同時提供高性能與高品質的技術，以及應用的彈性與獨有的並行測試能力，協助展訊通信持續以低測試成本，生產各種元件。」


展訊通信有限公司簡介
% o1 w' C9 _) S  t
        展訊通信是一家IC設計公司，專精於開發無線通訊市場所需的基頻和射頻處理器解決方案。展訊通信結合IC設計專業與軟體開發能力，推出具有多媒體功能及電源管理能力的高整合度基頻處理器，可爲無線通訊終端裝置製造商提供全方位的高整合度基頻處理器系列解決方案，以及多媒體晶片、射頻晶片、通訊協定軟體和軟體應用平台。展訊通信採用開放的開發平台，發展各式解決方案，可以協助客戶開發出客製化的無線通訊產品，不僅功能豐富，且能滿足成本及上市時間的要求。詳細資訊可查詢www.spreadtrum.com網站。

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惠瑞捷推出V6000快閃記憶體及DRAM測試系統

樹立半導體記憶體測試市場新基準

V6000的測試成本、並行測試能力及良率傲視業界獲Numonyx率先採用

      首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 宣佈推出V6000測試系統，可在同一套自動化測試設備 (ATE) 機台上，測試快閃和DRAM記憶體，測試成本低於現有的解決方案。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等。以供應各種記憶體解決方案領先業界的知名記憶體製造商Numonyx經過多方的評估比較後，證實已經選中V6000，從事NAND元件和良品裸晶 (KGD) 的大量晶圓測試。V6000機台具備的並行測試能力、性能、以及低測試成本是這套系統脫穎而出的主要原因。
+ d6 h( {8 [5 H$ o
V6000系列測試系統包括：
) j; v- s8 A2 j: X' }6 O: F-
5 P+ y1 r, x" {. `" SV6000e：可讓使用者在辦公室或實驗室的環境中，開發記憶體測試程式以及量測和分析元件的特性。相較於以離線的方式使用生產測試系統，花費的成本更低，不僅能提高投入資本的回收率 (ROIC)，且能經濟有效地快速達到量產規模。
# O  |8 e  b# `-
V6000 WS：晶圓測試解決方案，單次觸壓 (one-touchdown) 即可同時測試12吋的快閃或DRAM記憶體晶圓，量測速度領先業界，可精簡資本及營運開支。
6 |% v3 t) O4 d: M4 [6 d% q, d% M# u-
V6000 FT：可在單一機台上，執行快閃記憶體、DRAM或多晶片封裝(MCP) 元件的終程測試。即使在測試含有快閃和DRAM記憶體的多晶片封裝元件時，一樣可透過單次插測 (single-insertion) 的方式進行測試。

      所有的V6000系統皆採用惠瑞捷專利申請中的Active Matrix™技術，以及第六代的Tester-Per-Site®架構，兩者搭配可提供業界最低的測試成本。Active Matrix技術能進行大規模的並行測試，支援的I/O Pin超過18,000個，可程控電源供應Pin亦超過4,000個，且因大幅縮短通往腳端介面電路 (Pin Electronics) 的信號路徑，而能提供業界最佳的信號完整性 (Signal Integrity)。相較於傳統的記憶體自動化測試設備架構，V6000可提供四倍的並行測試能力，每支腳位的測試成本卻只要原本的一半。V6000具備可擴充的交流測試效能，速度涵蓋140、280、560、到最高880 Mbps。

      惠瑞捷股份有限公司記憶體測試解決方案事業部副總裁Gayn Erickson表示：「在此之前，記憶體製造商在測試快閃記憶體和DRAM時，只有兩種選擇：使用性能表現不佳的單一測試系統，或分別以專用的測試系統進行測試。現在，V6000問世了，可以在同一機台上，切換測試這兩種記憶體類型，且性能絲毫不打折。客戶的心聲我們聽到了，並藉由努力創新，生產出高性能且多功能的測試機台，不論是並行測試能力或信號完整性皆傲視業界。我們相信V6000能讓惠瑞捷搶佔最有利的位置，成功迎接記憶體市場景氣回暖的下一個春天。」

# _: h3 g/ F! H" [: N6 ~V6000 – 多功能的可擴充機台
' ?; c0 B: H) j
          只要更換測試程式和探針卡 (Probe Card)，V6000即可測試快閃或DRAM記憶體，如此的彈性讓製造商得以因應市場的狀況，迅速又容易地切換這兩種記憶體類型的量產作業，以創造最大的利潤。
% Q% l% a1 H. j2 g1 M& S& _  ^
          藉由增加Test Site模組或Active Matrix模組的方式，就可以輕易地提高系統的性能和接腳數，完全不需要採購新的測試系統。這樣的擴充性很容易因應技術發展的需求，充分延長測試系統的使用年限。
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7 n1 W$ ?: r! L5 Z' d& _3 G# k+ U
V6000 WS使用低成本的無接頭式探針卡，可支援不同尺寸的探針卡(450 mm或560 mm)，且能與所有主要的針測機 (Prober) 界接。

          此外，所有的V6000測試系統皆採用相同的作業系統軟體、硬體和介面，因此，隨著元件由工程和特性量測階段推進到晶圓及終程測試，使用者亦可開發和共用測試程式、以及將測試程式移轉到不同的測試系統上使用。只要稍做修改，惠瑞捷備受歡迎之V5000系列測試系統上的測試程式也可以用在V6000機台上。V6000採水冷式的設計，相較於氣冷式的系統，所需的體積較小，消耗的能量也較少。

詳細資訊，請造訪www.verigy.com/go/memory。

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華邦電子選中惠瑞捷V5400測試快閃記憶體晶圓

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惠瑞捷支援團隊協助台灣知名快閃記憶體供應商加快量產速度

      首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 宣佈，知名快閃記憶體供應商華邦電子 (Winbond Electronics Corp. ) 已採購多套Verigy V5400快閃記憶體測試系統，供台中廠使用，以測試SpiFlash®序列式快閃記憶體的晶圓。這些記憶體採用序列週邊介面 (SPI)，廣泛使用於PC、行動電話和其它行動裝置中。華邦電子捨市面上其它快閃記憶體測試系統而選擇V5400的原因在於，V5400的測試成本低於其它系統，且V5400測試系統在台灣安裝的數量相當龐大，更容易提供客戶需要的服務。華邦電子原本即已採用惠瑞捷V5000系列旗下的V5000e工程開發工作站，現在，只要將既有的測試程式移轉到V5400系統上，即可執行量產測試，效率超高。
- A# ~7 s: F; ~. e5 @5 d' i1 ~
+ ?& A3 I6 z7 O* p- C& W      V5400針對快閃記憶體的晶圓測試，提供多達4608個I/O通道，且每套系統可以做彈性的配置，最多可測試144個元件。因此，相較於傳統的快閃記憶體測試系統，可以大幅降低測試成本。V5400採用彈性的第五代Tester-Per-Site®架構，可以讓製造商測試各式各樣的記憶體元件。
3 \! E0 j3 z, N9 F9 f% }! w" \
" a: ]* x6 w* \/ j, i      華邦電子執行副總溫萬壽表示：「我們先進12吋晶圓廠的順利量產與成本結構的競爭力，對我們成功立足快閃記憶體市場極為重要。除了提供可靠且經濟有效的晶圓測試設備之外，惠瑞捷的應用與可運作時間 (Uptime) 支援團隊也協助我們快速導入量產，達成上市時間的目標。」

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惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde指出：「全球第一線的供應商都已採用V5000記憶體測試機台，其中，台灣半導體封測代工廠 (OSAT) 客戶安裝V5400的機台數即已超過200套。現在，華邦電子更領先業界，成為第一家在12吋晶圓製程中採用V5400測試系統的台灣快閃記憶體IDM*公司。」

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惠瑞捷榮獲福雷電子2008年度最佳供應商大獎

          首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司
3 F/ ^* b& Z$ Q0 A(Verigy Ltd.) 宣佈，全球半導體測試服務最大獨立供應商之一福雷電子 (ASE Test Inc.) 將2008年度最佳供應商 (Vendor of the Year) 大獎頒給了惠瑞捷。福雷電子每個月都會根據品質、工程技術與服務、交貨及成本等四項衡量標準，評比供應商的排名，惠瑞捷自始至終都獲得極高的分數，整體而言，在所有衡量項目中，表現都優於其它供應商，因此，最終獲得此一殊榮。

          福雷電子專精於為全球的整合元件製造廠 (IDM) 及IC設計公司，提供各種測試服務。日月光集團 (ASE Group) 在全球各個廠所安裝的惠瑞捷測試系統已超過180套，使得該公司可以充分運用惠瑞捷V93000機台的彈性與擴充性，且這些測試系統在福雷電子的客戶和合作夥伴間安裝的數量也相當多，彼此之間更可以善用這項優勢。

          福雷電子總經理羅瑞榮指出：「我們內部針對供應商所做的評估顯示，惠瑞捷在去年前八個月中，有六個月排名第一，表現遠勝過所有其它的競爭者。我們的管理團隊也非常滿意惠瑞捷位於高雄的客戶服務團隊所提供的各項服務。」
. `2 n# \, \. g+ V8 c, Z
% z' E7 X. g8 F8 @$ I          惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「從福雷電子獲得這項殊榮對我們是極大的肯定，我們會持續致力於提供業界性能最佳的測試系統與最優質的客戶支援服務。我們期待與福雷電子繼續維持良好且長久的合作關係。」

日月光集團與福雷電子簡介
( ]3 `* _( q4 u- ]% B4 g" y! {日月光集團享譽國際，專精於為半導體產業客戶提供完整的後段解決方案，包括整合測試、封裝、系統組裝及產品服務的全方位服務。

  g! }2 |3 _8 ?  N福雷電子隸屬於總部位於高雄的日月光集團，以提供各種半導體測試服務聞名於業界，包括前段的工程測試、晶圓針測、封裝IC的終程生產測試、以及與測試相關的其它服務。詳細資訊可查詢www.aseglobal.com網站。

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惠瑞捷良率學習解決方案協助半導體製造業者

加速上市時程 大幅提高良率標竿指數

【2009年 6 月 24 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日宣布推出全方位良率學習解決方案 (Yield Learning Solution)，該解決方案可在複雜系統單晶片晶粒 (SoC die) 上整合未切割晶片測試 (on-tester)、即時擷取以及電性缺陷統計分析等功能。

2 G1 @9 T& D. T. X惠瑞捷這套獨一無二的良率學習解決方案，結合了旗下V93000 SoC測試機台的預先分析模組與一套設計導向的分析及視覺化工具組，協助製造業者在面對大量電性缺陷時，也能迅速將其分類成各種邏輯缺陷。此外，藉由電性測試與實體布線 (layout) 資料無縫隙的結合，這套解決方案可快速找出實體缺陷的根本成因，同時縮短可見與不可見良率損失機制所需的辨別時間，進而使量產時間縮短4週，良率標竿指數提高6%。

! Q1 z% d7 [* G+ P( F% @無論在設計或製造方面，奈米設備問題診斷所面臨的挑戰已日益加劇，因此IC設計業者、晶圓廠以及測試廠彼此間的緊密合作將更形重要。惠瑞捷良率學習解決方案可讓測試工作有效導入IC設計與晶圓廠，為掃描鏈(scan chain)以及邏輯程序中固定型 (stuck-at) 與難以偵測的時序缺陷提供邏輯圖 (logic map),不僅為實驗室提供高準確性，更使得生產達到高產能，符合新產品上市與常態製造程序監控的關鍵因素。
1 f; d# R  l. V7 ]. I4 I
) z" P4 d" m9 Q. [& ]惠瑞捷DfX解決方案總經理Larry Dibattista表示：「隨著產業大規模挹注於45奈米
7 l, O  c9 w' e  N$ b(nm) 以下的製程技術，我們的客戶需要一套能夠協助他們與企業內部或是委外晶圓代工廠進行協同合作的解決方案，在IP資訊獲得保護下快速診斷缺陷問題。惠瑞捷良率學習解決方案不但能夠提高協同合作效率，更對設計問題進行特性化分析，此一獨特優勢讓半導體廠商得以即時回應並修正異常良率，進而加速產品上市時程。」
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領先業界的整合式解決方案
; ~8 x8 h/ n: A* C惠瑞捷的良率學習解決方案整合領先業界的測試機台架構V93000、缺陷分類定位軟體 (Triage Fault Locator)、以及YieldVision軟體工具組，後者是業界最先進的未切割晶片測試 (on-tester) 與軟體工具，可進行缺陷資料擷取與良率分析。V93000獨步業界的高延展性架構使得良率學習解決方案得以完全整合其中；分類軟體 (Triage) 的專利運算技術創造出前所未有的資料處理效率；YieldVision分析與視覺化工具則可快速找出實體缺陷的根本成因，大幅縮短問題診斷時間。因此，這套解決方案將能大大提升診斷問題以及解決問題的效率。

5 y8 H+ n% j; e$ o$ S上市時間
- l" b5 z) i1 k惠瑞捷目前正積極協助早期導入客戶採用良率學習解決方案。預計該解決方案可在今年年底全面上市。詳細產品資訊，請上網瀏覽www.verigy.com/go/yield。

! x2 e' T0 o( x+ p6 b良率學習解決方案將於2009年7月14至16日加州舊金山的SEMICON WEST展覽中展示。惠瑞捷攤位設於展覽館南棟編號921。

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惠瑞捷推出V101測試系統進軍消費性IC與低價MCU市場

文/Chip123 編輯部 姚嘉洋
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【2009年 7 月23 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日推出V101測試系統。這套全新的100 MHz tester-on-boardTM系統擁有低成本與零佔用空間等優勢，適用於最講求成本效益的積體電路 (ICs) 與微控制器 (MCUs) 製程，執行晶圓測試 (Wafer Sort) 及終程測試 (Final Test)。V101不僅能滿足極低的測試成本要求，並可因應緊湊的產品上市時程。 V101測試系統已於今年的SEMICON WEST展覽中首度對外展示。
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  k. \' z( G3 p' ?) v; k# Z* r$ Y3 P         惠瑞捷台灣區總經理陳瑞銘表示：「惠瑞捷之前所推出的V93000，在高階測試市場上普遍受到客戶的青睞，此次推出V101，剛好可以滿足客戶在中階到低階產品的測試需求。」
5 g  o& Z; Z0 E% j* ]
而惠瑞捷副總裁暨ASTS總經理魏津博士則指出：「V101成功地將惠瑞捷備受業界肯定的測試技術首度導入此領域。為因應極為注重成本效益的市場，V101的簡易構造、低故障設計及自我診斷的功能，方便客戶自行安裝與自我維護，足以創造最高的整體價值。」

' W0 z% S4 B0 L6 w* Y7 ^( b( JV101測試系統最高可運作達100 MHz測試工作頻率與1024個I/O通道，為廣泛應用於低階行動通訊與消費性產品的IC與MCU，執行高效率且具經濟效益的測試工作。
8 |8 ?4 F) e5 N$ Q6 R
$ S# c0 N' m) l% VV101擁有獨特的Tester-on-BoardTM架構，可藉由內建的數位與直流裝置簡化測試系統硬體及其結構，並能以高產出量及較低成本進行高效率的多元件並行測試。另外，採用標準規格的零組件也讓V101更易於架設與維護。
' S( ^3 |9 Z9 S# v
/ o" f$ l, \$ @' w2 N魏津進一步補充：「V101測試系統的簡易特性能帶給客戶具成本效益且易於操作等前所未有的價值。有鑑於此，許多未曾採納惠瑞捷解決方案的廠商均已表達採用此系統的意願，其中包括有多種元件測試需求的廠商或測試實驗室，以及極為講求成本效益的MCU製造商。」他更指出：「台灣IC設計廠商，在消費性電子的領域上，具有舉足輕重的地位，加上產品生命週期短、平均利潤不高等因素，台灣廠商必須要有低價但卻又是高技術集成的平台來滿足測試需求，V101的推出，剛好與台灣的廠商之需求不謀而合。」

2 l: R# s( x, L4 _/ U% {Tester-on-Board架構
2 W5 [8 ]& d+ VV101的數位測試儀器架構內建數位與直流裝置，突破性地兼顧了測試效能與低成本兩項優勢。這套架構也讓V101的產出量可隨用戶需求彈性地擴充。
' J0 Q. v. [2 @( H
低成本MCU測試的最佳解決方案
) o' W9 @1 c5 c8 m5 p! M0 [V101是特地設計來有效率地測試4、8與16位元的MCU與其他低接腳數 (pin count) 的低階IC元件。這套數位儀器最高能以8個裝置電源供應器 (DPS，device power supplies) 達到100 MHz的測試工作頻率；同時提供60M的深度向量記憶體 (Vector Memory) 以及8M的數位擷取儲存記憶體 (Capture Memory)，因應快速的元件生命週期並進行修正，可降低雜訊、提升測試準確度與良率。內建的多功能直流測量單位 (MMUs，Multi-DC Measurement Units) 可免除額外的類比卡 (analog cards) ，直接進行嵌入的類比/數位轉換器 (ADC)測試，達到降低成本的目標。

晶圓測試最佳解決方案
1 V2 {8 v/ f' }* c7 w% BV101是唯一支援直接探針測試 (direct probing) 的最佳晶圓測試系統，無須額外的pogo tower或其他高成本的外加介面，因而能大幅節省成本。V101的設計亦有助於提升晶圓測試的訊號保真度 (signal fidelity) 以及簡化生產設定工作。
- ?0 i7 o8 ^2 o; i3 s2 s% L
易於操作的軟體
V101採用惠瑞捷屢獲獎項肯定、易於學習與操作的StylusTM作業系統軟體。Stylus提供直接的電子設計自動化 (EDA) 連結，可縮短程式開發時程。採用STIL標準的測試程式不僅可簡化其他STIL標準的測試程式轉換作業，當軟體搭配深度向量以及數位擷取儲存器記憶體時，更可大幅縮短程式開發時程。

+ |5 E; i3 T* z( C多元化應用
; t) C+ \5 F7 d3 f7 hV101針對兼具高效能與經濟效益的生產測試而設計，測試範圍涵蓋用途廣泛的多種低成本IC元件：

2 Q" z5 Q" N1 J5 b( b-4/8/16位元MCU
! M0 R2 Y$ }3 p" N( X-顯示器驅動控制器
-介面週邊應用
-一般用途的特殊應用積體電路 (ASIC)
-嵌入式記憶體
; D; w, ^2 T0 e" k. |1 B-嵌入式類比數位轉換器
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價格與通路
V101測試系統基本配備512個I/O通道。惠瑞捷依接腳數計價的方式，能讓客戶依據實際所需，以合理的價格調整產品產出量。
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[ 本帖最後由 heavy91 於 2009-7-23 05:05 PM 編輯 ]

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【2010年2月9日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷宣布，系統單晶片 (SOC) 設計代工領導廠商創意電子 (Global Unichip Corp.) 已採用惠瑞捷V101測試系統。V101為惠瑞捷新推出的100 MHz測試系統，擁有低成本與零佔用空間等優勢，可協助創意電子進行更大量的平行測試並提升產出量，其易於操作的特性也將使軟體與測試程式的開發工作更具成本效益。
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. n* k6 s1 c) m7 r% w3 @+ L創意電子副總經理鄒覺倫表示：「身為IC設計代工的領導廠商，創意電子設計的SOC往往極為複雜，有數百萬個閘極以及高速介面，而我們一直倚賴惠瑞捷的V93000機台來完成複雜的SOC測試工作。身為惠瑞捷的長期客戶，我們很高興能採用新推出的V101測試系統，這套系統具備此領域最重視的高效率和易於操作的特性，能讓我們和惠瑞捷一同為顧客創造更高的價值。」
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惠瑞捷業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「惠瑞捷不斷追求創新的傳統讓我們持續為業界提供最佳的解決方案。根據市場分析數據顯示，有了新推出的V101測試系統，惠瑞捷2010年在SOC的服務市場將可擴增4億美元。我們很高興創意電子肯定V101能創造的整體價值，隨著創意電子在產業下游推動這套測試系統，我們也期待深化彼此的合作關係。」

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符合成本效益至上的最佳解決方案
$ W/ ~9 Q# S2 |+ y# d, [( Y5 {V101是一套高效率且高經濟效益的測試系統，用來測試各類應用於低階行動通訊和消費性產品的低成本IC元件。V101測試系統最高可運作達100MHz測試工作頻率與1024個I/O通道，能為極注重成本效益的IC和MCU市場，執行高效率且具經濟效益的測試工作。
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1 m: i8 I' x+ j" D8 l# |9 RV101擁有獨特的Tester-on-BoardTM架構，可藉由內建的數位與直流裝置簡化測試系統硬體及其結構，並能以高產出量及較低成本進行高效率的多元件並行測試。另外，採用標準規格的零組件也讓V101更易於架設與維護，其系統架構更能因應客戶的需求調整，彈性增減產出量。

1 h; F- j! z' Y/ r" e* EV101是目前業界唯一支援直接探針測試 (direct probing) 的最佳晶圓測試系統，因而能大幅節省成本、提升晶圓測試的訊號保真度 (signal fidelity)，以及簡化晶圓測試時的生產設定工作。
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3 ^4 X+ W* V( m" H+ WV101採用惠瑞捷備受肯定且易於學習與操作的StylusTM作業系統軟體。Stylus提供直接的電子設計自動化 (EDA) 連結，可縮短程式開發時程。採用STIL標準的測試程式不僅可簡化其他STIL標準的測試程式轉換作業，當軟體搭配深度向量以及數位擷取儲存器記憶體時，更可大幅縮短程式開發時程。

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【2010年 6 月 10 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷今日宣布榮獲VLSI Research 2010年客戶滿意度調查的兩個獎項，分別是「自動化測試設備 (ATE) 供應商第一名」，以及「全球十大最佳半導體製造設備大型供應商」。VLSI Research為專注於半導體產業的市場研究與分析公司。

在自動化測試設備供應商的客戶滿意度調查中，整合設備製造商, 晶圓廠，與測試廠均給了惠瑞捷第一的評分。在最佳半導體製造設備大型供應商的調查中，儘管範圍更廣、市場區隔也不同，惠瑞捷仍在這項調查中勇奪第三。

9 D0 z( [8 E5 M# d+ J1 c這使得惠瑞捷締造了連續五年名列VLSI Research十大最佳測試設備供應商；也是連續兩年在此獎項中奪冠的ATE公司。

. R1 H' Y2 }; P7 t, _惠瑞捷總裁暨執行長龐恩凱表示：「這兩個獎項顯現我們公司整體對提供最佳的晶片測試的支持與承諾。非常榮幸我們的努力持續的受到客戶認同與最高的評價。」

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VLSI Research執行長G. Dan Hutcheson指出：「惠瑞捷公司在客戶滿意度調查的十三個項目中的十一個名列第一。沒有任何其他ATE公司曾經得到今年惠瑞捷這麼高的分數。我們恭賀惠瑞捷在客戶滿意，以及追求卓越上所做的努力，而得到客戶最高的肯定。」

VLSI Research的年度客戶滿意調查是半導體製造商可以公開對設備供應商表達意見的唯一機會。十大最佳排名是用來獎勵被客戶評分高的供應商。2010年的評比結果是依據2010年初所做的問卷調查，該調查全球總共發出了34,238份問卷。根據VLSI Research公司的資料顯示，所有回覆客戶滿意度調查的公司代表了全球半導體生產量的95%。
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VLSI Research Inc.簡介

VLSI Research Inc. 是業界知名針對奈米與相關科技的技術、商業和經濟等層面，從事市場研究與經濟分析的公司。素以無可比擬的準確度、市場研究方法創新、以及精準掌握半導體製造產業的快速脈動著稱。VLSI Research有關半導體製造的資料庫廣為業界以及政府部門採用。公司的主要資料庫與報告涵蓋半導體、平面顯示器、太陽能電池與模組等製造產業，以及這些產業與其相關科技產業中，重要次系統與零組件的市場分析。VLSI Research創立於1976年。VLSI Research網站為：www.vlsiresearch.com。

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惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 推出用於先進DRAM 測試的單次觸壓、全晶圓探針
7 N: C& k# T. d3 a( o業界最低壓力的探針卡保護受測元件免受潛在的破壞性壓力

2 Z1 c. p2 R1 _【2010年7月21日，台北訊】領先的半導體測試公司惠瑞捷 (Verigy)（納斯達克代碼：VRGY）旗下全資子公司 Touchdown Technologies 今天推出了其 1Td300 全晶圓探針卡，這是該公司首款用於先進 DRAM 記憶體元件單次觸壓、高容量測試的探針卡。該產品能夠對 300 mm或200 mm 晶圓進行相當高的並行測試(highly parallel testing)。

具備有每探針只需要2g壓力就能夠測試整個300 mm晶圓——堪稱業界最低的探針壓力，所需壓力不到市面上同類產品的一半——1Td300 探針卡提供了雙重優勢，不僅能夠降低待測晶圓和整個測試設備的壓力，同時更高的接腳數拓展了半導體的測試藍圖。《國際半導體技術藍圖》 (ITRS) 預計，到2011年，一般型DRAM 的多晶片並行測試將從2010年測試的512個晶片增加到768個。這相當於目前 DRAM 超過50,000的接腳數，隨著晶片尺寸繼續變小逐漸攀升至100,000。

惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 總裁 Patrick Flynn 表示：“由於像 DDR3 記憶體這樣的先進半導體接腳數逐漸增加，必須藉由不斷提高並行性(parallelism)水準才能降低測試成本。透過我們新推出的 1Td300 探針卡，我們已經開發出具有超低壓力的可靠、單次觸壓測試解決方案，能夠在實現所需的平面度和摩擦性能的同時不損害待測元件。”
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0 X8 P$ m  a" e6 O, W, bTouchdown Technologies 的新探針卡使用獲得專利的全晶圓架構和基於MEMS 的ACCU-TORQ™ 彎曲探針進行非常平滑的單次觸壓測試。Touchdown Technologies 繼去年為 NAND 和 NOR 快閃記憶體推出首款1Td300 單次觸壓探針卡之後推出了該產品。

惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 簡介
創立於2004年，Touchdown Technologies 致力於設計、製造和支援用於測試半導體晶圓和晶片的先進 MEMS 探卡。2009年，Touchdown Technologies 成為領先的半導體測試設備公司惠瑞捷旗下全資子公司。作為惠瑞捷旗下公司，Touchdown Technologies 致力於通過為高平行性探卡提供創新的可升級技術，以降低測試成本。該公司完全有能力滿足所有存儲應用需求，包括 DRAM、NAND、NOR 和 Serial Flash。有關 Touchdown Technologies 更多詳情，可查詢： www.tdtech.com網站。

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惠瑞捷全新的 HSM3G 高速記憶體測試解決方案為 DDR3、DDR4和更高級的記憶體提供了低廉的測試成本
平價的升級提供了未來三代設備多代發展路徑

' s8 W7 P& J9 T& P. w% C) m【2010年7月21日，台北訊】惠瑞捷 (Verigy)（納斯達克代碼：VRGY）推出了全新的 HSM3G 高速記憶體測試解決方案，進一步拓展V93000 HSM 平台在以DDR3世代為主的記憶體 IC 和未來更高級記憶體的測試能力。V93000 HSM3G 獨特的優勢在於其未來的可升級性，能夠為未来的三代 DDR 記憶體提供資料傳輸速度高達6.8 Gbps且價格低廉的測試服務，從而前所未有地長期節約測試成本。

& R) n" w7 k& y) y* B2 N" V& j3 \惠瑞捷 SOC 測試副總裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“記憶體製造商一直在尋找一種既能滿足其生產和功能需求又能提供比一個世代產品壽命更長、投資價值更高的經濟型 ATE 解決方案。我們可升級的V93000 HSM 測試平台提供前所未有的使用壽命，能夠為從 DDR3 到 DDR4 再到將來更高級的主流 DRAM 至少三代產品提供卓越的投資報酬。這些測試的經濟效益，在業界其它產品均不可及。”

3 ^7 p2 K! o! _" J+ V/ @! v! n& KV93000 HSM3G 已俱備未來的速度和功能性，提供了高速記憶體測試市場上最完整的特性。其可程式設計的、全速的每引腳 APG 能力加上能夠產生針對資料匯流排倒置 (DBI) 和循環冗餘檢查碼 (CRC)所需的相關測試資料，對於進階的 DDR4 記憶體技術特性能夠提供足夠的測試需求，以確保較高的測試品質和產量。
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得益於其每引腳的記憶體自動測試設備處理能力，V93000 HSM3G 可以節約高達20%的測試時間。它可以提供全並行模式的功能測試 (parallel pattern execution)、全並行的DC特性檢測以及眼圖的測量(eye-width measurements)，從而提供了相當高的多工效率。
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2 `4 s+ i7 F% Y, ^2 ]! q. m2 KV93000 HSM3G 可以提供實質 2.9 Gbps 的資料傳輸速度以及 完善的256-site DDR3並行測試(parallel testing)，在整個所需的測試速度範圍內不會增加任何不必要的測試時間，也不會影響準確性、功能性、測試範圍以及產量。歸功於可提供充裕的實質速度(native speed headroom)，HSM3G 可以滿足所有主流DDR3 各種速度分級需求以及高級遊戲機DDR3 和前兩個 DDR4 量產的速度等級。V93000 平台架構對於未來更高速的產品測試需求，確保將來能夠升級的能力。

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惠瑞捷在韓國客戶的生產線上安裝首款具有每接腳8 Gbps高速記憶體測試卡V93000測試機
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8 ~# u$ O3 j5 X8 Y/ F. j& |% ^【2010年7月21日，台北訊】首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷 (Verigy) (納斯達克交易代碼：VRGY) 在韓國一家不具名客戶的生產設備內安裝並驗證其首款可生產的V93000 HSM6800系統。這套新系統是唯一的一款為當今運行速度超過每接腳4 Gbps GDDR5超快記憶體積體電路 (IC)的全速高良率測試解決方案。與當今市場上的其它超高速記憶體測試系統相比，它具有重大的產能優勢。

  w2 ]) J( _$ i5 A" b市場研究公司 iSuppli Corp. 表示，約有90%的 GDDR5產品均產自韓國。藉由以實際速度測試這些高速記憶體，並結合功能齊全的特性，惠瑞捷的 V93000 HSM6800 讓客戶能應對高速發展的半導體市場，例如能生成更逼真、更高解析度圖像的高級顯示卡。
$ ?; \- ]* D2 }0 V* n' k7 Z
/ t8 ]$ P  h2 z3 Q惠瑞捷新的測試機已安裝用於客戶最新設計晶片的工程和生產測試。該系統上市後還將能用於生產廠的 IC 樣品和大批量產測試。

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惠瑞捷系統級晶片 (SOC) 測試解決方案副總裁 Hans-Juergen Wagner 說：“我們的 V93000 HSM6800系統每接腳具有8 Gbps 的能力，使用壽命更長，適用於多世代記憶體元件(multi-generation memory devices)，使其具有最佳良率。在驗證時，這款測試機的良率和產出均高於與之相競爭的系統，從而能為客戶提供更好的投資回報 (ROI)。”

惠瑞捷 V93000 HSM6800 系統的一系列豐富特性支援針對 GDDR5 眾多先進功能的測試，包括位址匯流排倒置 (ABI)、資料匯流排倒置 (DBI) 和循環冗餘碼檢查 (CRC)。這些應用預計也將適用於 DDR4。此外，該測試機的靈活 APG 架構能測試一般8-bit資料框(frame)的記憶體，還能擴展測試未來具10-bit資料框的記憶體世代。憑藉其可擴充設計，惠瑞捷 V93000 HSM 系列成為能滿足所有上市高速記憶體存儲技術測試所需的性能、功能和經濟要求的唯一平臺。
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2 l" v: @+ ~# J7 l: |( h  T- b除了這款新測試機，該客戶也安裝了惠瑞捷上一代 V93000 HSM3600 系統。這系統4年來一直用於測試高速記憶體 IC。