惠瑞捷推出V93000的混合信號測試方案

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惠瑞捷(Verigy)在VLSI Research市場研究公司2008年的客戶滿意度調查中，榮獲十大最佳測試設備獎。惠瑞捷在「產品性能」及「測試結果的品質」兩大類獲得最高評價，惠瑞捷旗下的Inovys則在13個評比類別中，有7個獲得最高分數，名列第一。VLSI Research公司每年都會進行客戶滿意度調查，並根據半導體製造設備使用者就13個設備性能和客戶服務類別，對供應商評比，予以排名。  

惠瑞捷總裁暨執行長龐恩凱表示，再次獲得VLSI的十大最佳測試設備獎感到十分驕傲，尤其Inovys更是名列榜首。VLSI Research公司的執行長G. Dan Hutcheson也指出，惠瑞捷 (現在包含Inovys) 自獨立營運以來，在十大最佳測試設備獎項中，年年榜上有名。此外，惠瑞捷在系統單晶片 (SoC) 測試的技術也有目共睹。  

VLSI Research公司針對半導體製造設備商的客戶，進行年度滿意度調查，是半導體製造商可以公開對供應商表達意見的唯一機會。十大最佳測試設備排名特別獎勵最受客戶好評的供應商，2008年的評比結果依據的是2008年初所做的問卷調查，該調查透過郵寄、電子郵件和傳真等方式，以六種語言：英文、日文、韓文、繁體和簡體中文、德文、以及法文，在全球總共發出66,717份問卷。根據VLSI Research公司的資料，所有回覆客戶滿意度調查的公司佔了全球半導體生產量的95%。

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惠瑞捷V6000快閃記憶體及DRAM測試平台榮獲 Frost & Sullivan 2009年度產品創新獎

# {( X& R& G5 l【2009年5月 21日 •台北訊】全球首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日宣布其V6000測試系統榮獲Frost & Sullivan 2009年度產品創新獎。V6000系統於2008年底推出，可在同一平台測試快閃記憶體與DRAM記憶體，大幅降低測試成本。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等。

惠瑞捷記憶體事業部副總裁Gayn Erickson表示：「Frost & Sullivan的獲獎肯定了我們前瞻性的創新能力，而這項能力同時也是半導體製造商長久以來追求的目標。V6000系統只需一半的腳位測試成本便可提供四倍的並行測試能力，單次觸壓 (one-touchdown) 即可進行針測。它具備的多功能與可擴充性可讓客戶僅需更換新的測試程式與探針卡 (probe card) 或是測試載板 (load board)，即能在單一測試系統上切換測試NAND或NOR快閃記憶體、DRAM以及多晶片記憶體。V6000測試系統的高度彈性可大幅減少客戶的資本設備支出，進而使客戶能因應市場變化而迅速調整不同記憶體的產量。」

2 i# `8 J  N, g3 o+ n5 \- |Frost & Sullivan 產業經理 Sujan Sami指出：「在經濟景氣低迷時，具備提供客戶創新的半導體測試設備能力是至關重要的。V6000測試系統不僅能偵測缺陷，更能協助測試元件的修復與改善，而這樣的應用彈性也已引起記憶體製造商的共鳴。惠瑞捷發展V6000這套革命性的系統將可持續擴充，大幅延長了客戶投資設備的使用期限。V6000證明了惠瑞捷在技術與財務創新方面的能力，我們很樂於授予惠瑞捷此一殊榮。」
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每年榮獲Frost & Sullivan年度產品創新獎的公司都是不斷地在產品與技術上推陳出新，展現其領先業界的新產品與技術。這項獎項的評選是由Frost & Sullivan分析團隊透過訪談、廣泛參考二手資料與技術研究結果，追蹤研究新上市產品、研發支出、開發中產品以及新產品特色與改良，選出Frost & Sullivan年度產品創新獎的得獎者。Frost & Sullivan分析團隊先以產品技術的創新程度與客戶滿意度為基礎，評比各家公司推出的新產品與開發中產品，再以新上市產品以及開發中產品數量做出公司排名，評比重點包括產品在業界的整體重要性、競爭優勢、市場接受度、應用技術的獨特性與革命性等。

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【2009年 7 月 14日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA (Scalable Memory Redundancy Technology)。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案，能幫助製造商解決DRAM冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求。SmartRA正於今年7月14至16日的SEMICON WEST展覽中展出。
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. C& ^! t# v# W% Q9 ^惠瑞捷於2008年11月推出的V6000 WS系統，是業界第一套可同時應用於快閃記憶體與DRAM的晶圓測試系統，不僅具備可擴充性，更能滿足大量測試需求。隨著SmartRA的推出，V6000 WS使用者將可輕鬆地透過冗餘分析功能提升產出量及良率。

隨著DRAM密度日漸成長，晶圓測試也面臨更高的挑戰，需要更強的並行測試能力，測試頻率和元件冗餘電路的複雜程度也逐漸提升。這也為冗餘分析帶來了前所未有的大量資料。因此，在擷取失敗資料並有效完成冗餘分析的過程中，加強儲存空間和效能的需求因應而生。
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為滿足業界的眾多需求，惠瑞捷開發了SmartRA，藉由此解決方案具備的高效能刀鋒伺服器，企業可依據本身需求提高冗餘分析的處理效能，無須擴充測試機台容量。另外，SmartRA採用開放性軟體架構，客戶可選擇採用惠瑞捷提供的演算法或另外自行開發，可縮短上市時程並降低測試成本。

惠瑞捷記憶體測試解決方案事業部副總裁Gayn Erickson表示：「不同於其他可執行冗餘分析的測試系統，新增了SmartRA技術的V6000系統無須另外添購替代硬體，即能維持產出量與良率。SmartRA的獨特架構與領先業界的產出能力，能讓DRAM製造商以最低成本持續擴充升級，達到足夠效能以實現最佳良率。」
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SmartRA的隱藏式冗餘分析
$ ^6 k) C7 c8 \) F& [: o/ t" s5 gSmartRA可解決複雜冗餘分析處理所帶來的挑戰，包括暴露冗餘分析時間導致的產出量下降，或是冗餘分析逾時造成的良率損失。新增了SmartRA的V6000測試系統隱藏冗餘分析時間，即使改變測試需求、切換測試模式也不會造成中斷，進而達到提升產出量與良率的效能。

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惠瑞捷出貨多套V93000 Port Scale射頻系統協助客戶測試無線通訊用半導體
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( x+ {( U4 c3 U! I* F【2010年4月19日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷日前對某長期合作廠商出貨多套 V93000 Port Scale 射頻系統，以協助測試該廠商超低價手機用射頻單晶片 (RF-SOC)。
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7 `' R) X, s- n* Z# ~市場研究機構 iSuppli 指出，全球超低價手機的需求人口數約為16億，其中多數集中在中國與印度等新興國家，這些國家有為數眾多的人口未曾購買過手機。iSuppli並預估，2009至2013年間全球超低價手機市場將成長兩倍，達到2億台的規模。
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3 P& N/ u; s9 L7 V: B, ]惠瑞捷股份有限公司業務支援與服務副總裁Pascal Ronde表示：「這家客戶目前已採用多套V93000 Port Scale射頻測試系統，在生產過程中測試RF-SOC裝置。這套V93000測試系統可在不同階段進行測試，並同時兼顧高速測試、準確度與效能，具彈性的平台架構可測試無線電接收器與其他關鍵元件，幫助使用者增加製造產出量。」
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3 J& u  X" |" |3 k射頻晶片為手機、全球定位系統 (GPS)、調諧器等多項應用中的重要元件。射頻裝置市場不斷要求更快的處理速度與更小的尺寸，促使半導體業界整合更多射頻功能，推出可支援GSM/CDMA、CDMA2000、EDGE、EDVO等多項通訊協定的單一晶片，而要穩定地量產這些晶片，就要仰賴先進的IC測試性能。
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惠瑞捷V93000 Port Scale射頻系統可利用真正四組元件同測能力與高效率的多元平行測試能力，以最小成本測試多達48個射頻測試埠。從低整合度射頻收發器的高產能測試，到先進元件 (內含射頻混合訊號、數位、電源管理、嵌入式或堆疊式記憶體) 的測試，這套系統皆可提供經濟有效的射頻測試應用。