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[市場探討] 愛德萬提供最佳SoC測試解決方案

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1#
發表於 2007-6-26 12:31:10 | 顯示全部樓層

成也蕭何, 敗也蕭何

在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,- e* e3 U- L( b1 o4 u
愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能2 A; m) d, U6 p0 y& b
力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,
) _; D/ {- `3 B  S乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
( c' R1 o$ F6 ?5 \1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.& C, y: \6 Q, w8 n9 O# R* m& z
2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.
% w1 p, V# V) J" M. q  R, [3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.
; Z4 h* }' t4 i( y6 K% I+ M4 p" R6 s1 I
換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,# f/ a- n) X& T4 T
但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及, Y! ^  n# x& j0 B3 m2 {/ C
高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.
1 r( |6 V' S0 ?3 j1 x) @
3 d0 C9 b3 Q! z' T) V( e6 E另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG
' Z2 U- e$ ?# _" v; F+ k% J及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數
1 o% ]$ m5 g- m& c* b2 b& k也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少
) `, g- {! I# g& p3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".* J) ?- D$ S! M# T/ s
! q% c9 `6 c2 Q  w3 ]
愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶,
! K. B1 H3 |; H( J' w彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活.

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chip123 + 3 大大的經驗就是知識的來源!

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2#
發表於 2007-7-10 08:38:46 | 顯示全部樓層

回復 #4 jiming 的帖子

到處拉拉蛇, 遇到熟人了, 哈. 6 f, s6 j/ I/ v0 k. S

# T3 v  `% N" `/ I% s其實是看到一條新聞寫道 "IP產業生態系統已毀 亟需重新整併?", 覺得觀點與
( f  u2 x1 p( C- f3 f4 {這位仁兄(Mosaid Technologies的半導體IP部門副總裁Mike Kaskowitz)有所不同, : m3 y0 D' y* P5 o! K$ _3 \
想屁一屁, 卻發現該站有論壇但不支援針對新聞的回應, 有點可惜, 所以就給了點
# T& L3 s" M( d& s小建議.
3#
發表於 2007-7-12 10:02:24 | 顯示全部樓層

降低測試成本 STC試圖訂定ATE週邊介面標準

半導體測試協會(Semiconductor Test Consortium,STC)宣稱,有關測試設備(ATE)週邊介面標準開發的行動已取得重大進展。這被稱為STIX (Semiconductor Test Interface eXtensions)的行動,據說可解決ATE不斷增加的成本和效率挑戰。 8 G! a' M$ w2 P6 L! t
2 }+ E$ ~, D. R
STIX行動同時包含開放式硬體和軟體規格。該行動的關鍵,在於不斷成立由新技術與產業驅動之工作小組,以解決相關的週邊領域問題。這些策略性工作小組旨在收集更多有關測試技術的意見。新成立的工作小組將與STC已經開始針對硬體擴展塢(hardware docking)、探針卡、標準測試介面語言(STIL)和產學合作專案進行研究的工作小組一起努力。
( t5 ^5 J* p2 g4 k& v# I% M0 ^4 ^" A6 s- @4 I6 c% M- i: |
不過對於STC而言,還有一場硬仗要打。多年來,ATE公司已經單獨開發了各種專有測試裝置,但是現有模式近來出現總測試成本暴增的問題。為因應以上問題,包括Advantest、Intel等公司在2002年發起成立了STC;該組織的目標是為ATE領域建立一個“開放性架構”,這將可實現測試裝置的“即插即用”第三方模組的開發。在做這些工作的同時,STC希望降低不斷上漲的IC測試成本。 6 K, Q6 f3 ~' o5 p2 l" N
' F1 \9 P2 d- D4 I
STC也試圖能取得來自第三方模組製造商與各競爭ATE廠商的技術支援。事實上一開始,該組織希望ATE廠商能以其技術架構為基礎,生產具備相容性的測試設備產品;不過看來現實發展還是跟STC的預期相去甚遠。 * R& u" Q. f& f  h9 F8 V
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(參考原文:ATE group to devise interface standards)
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也就是說, ATE市場規則仍無異於其他市場, 前三大互相箝制, 單一方發起之規格或組織, 其他二者絕對是視若無睹, 豈有協助敵人坐大之理. 繼而也可無視於客戶的需求(Intel), 因為Intel早已選邊站(大量採買了Advatest T2000), 早已不是潛在客戶了.9 ?0 G- {& i, F# B* D
& X. M- D# j$ w8 K- z# F
這種"開放的"ATE週邊介面標準向來只受小公司歡迎, 因為可藉設計生產相容功能卡打入大客戶, 但是對ATE市場巨擘就不適用了, 各自的高性能功能卡(測RF, 測Video, 測Audio, 測高速differential serial I/F) 都是為了售出高價大型ATE主機而存在, 若這時還支援對手的主機, 豈不是資敵損己, 規則就是: 什麼都可以開放, 就是不對敵人開放.
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