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成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,& X2 k$ P2 `, b$ F
愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能& ]$ u8 J" m0 F! w' x u; y" I8 x
力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,
/ g8 g6 G# Z' ^2 }* J3 A乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
1 _- ] R7 |- V$ A1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.
# m H+ N% e* G& Z2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.
' i# Y% ?$ U5 f- R z. t5 g: A3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.( f) Y/ \- f0 }1 u7 b$ f
8 x0 u$ ~+ x: _ y" e; q7 {換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,
1 R0 W+ [" a8 W) D2 ~但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及0 D9 V+ B; A' x& g; h' f
高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.
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另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG6 Z5 A: @0 _' A# F. X+ s% _) |
及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數 V l+ O( f+ }( `
也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少
5 |) o' }8 B' F3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".* `3 F4 l- m N% f" }. p1 O
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愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶, 5 @, n- \* @' u$ N2 q
彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
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