吉時利推出實驗室級手持式射頻功率量測儀

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　　臺北訊 – 2010年3月5日 – 先進電子量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments, NYSE:KEI)，今日宣佈推出最新的4225-PMU Ultra Fast I-V模組，進一步擴充了4200-SCS半導體特性分析系統的功能選擇。在4200-SCS既有的強大測試環境中整合了超快速的電壓波形產生和電流/電壓測量功能，實現了業界最廣的電壓、電流和上升/下降/脈衝時間動態量測範圍，並提高了系統對新材料、元件和製程(process)進行特性分析的能力。除此之外，利用4225-PMU可像進行直流測量一樣輕鬆地提供I-V輸出並量測之。其寬廣的可程式化電壓/電流源及量測範圍、脈寬和上升時間使其非常適於對電壓輸出的速度有高度需求、且需要同步測量的應用—例如奈米CMOS或快閃記憶體。
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* `4 Q5 x; r2 c: H與之前需要多達三種不同測試平臺才能對元件、材料或製程進行充分特性分析的方案不同；4225-PMU憑藉其寬廣的動態量測範圍，只需一套儀器即可完成對元件、材料和製程的全方面特性分析。目前，實驗室僅需安裝一套靈活的系統即可處理以下三種類型的量測：精密直流I-V測試(Model 4200-SMU)、交流阻抗(4210-CVU C-V儀器)和Ultra Fast I-V或Transient I-V測試(4225-PMU)。
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3 [% G& i: j: H3 y9 k( [% x- M整合雙通道電壓電流源和量測功能於單一模組內
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5 A- G4 v9 ^  O) O0 M5 e每個4225-PMU模組提供了雙通道、整合電壓電流源和量測功能的模組，且僅佔用九插槽機架其中的一個插槽。每個機架最多可安裝四個這樣的模組，實現最高8個超快速的電壓電流源/量測通道。每個通道兼具高速電壓輸出(脈寬範圍從60奈秒到直流)和同步電流與電壓量測兩大功能。這種模組為高速電壓脈衝提供同步電流與電壓量測，採集速率高達200 MS/s，具有14位元類比數位轉換器(A/D)，每個通道採用了兩個A/D(每個模組含四個A/D)。使用者可以選擇兩種電壓源範圍(±10 V or ± 40 V into 1 Mohm)，以及四種電流量測範圍(800 mA, 200 mA, 10 mA, 100 uA)。

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可透過硬體擴充的源-量測彈性
每個4225-PMU模組可以配備多達兩個可選購的4225-RPM遠端放大器/開關，從而提供了四種額外的低電流範圍。它們還有助於減少電纜電容效應(cable capacitance effect)，並且支援在4225-PMU、4210-CVU和機架中其他SMU之間的自動切換。除此之外，能部份取代4225-PMU電壓源功能的4220-PGU脈衝產生器，也可供您選擇。
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支援材料、元件和製程的特性分析應用
4225-PMU和4225-RPM結合在一起能夠支援其他單台儀器無法實現的多種應用，例如：

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l通用Ultra Fast I-V量測。脈衝式I-V測試能被應用在很多地方；透過使用窄脈衝和/或低Duty Cycle脈衝而非直流信號，能夠防止元件自發熱效應(device self-heating)。

lCMOS元件特性分析。4225-PMU/4225-RPM的高速電壓源和電流量測的靈敏度使其非常適於CMOS元件的特性分析，包括high-K元件和先進CMOS技術，如絕緣層覆矽晶圓(Silicon-on-Insulator, SOI)。

l非揮發性記憶體測試。安裝於系統上的KTEI軟體適用於對快閃記憶體和相變化記憶體(phase change memory, PCM)的元件測試；適合單個儲存單元或小規模儲存陣列的測試，例如研發或製程驗證之類的應用。

l化合物半導體元件與材料的特性分析。4225-PMU能夠對III-V族材料進行特性分析，例如氮化鎵(GaN)、砷化鎵(GaAs)和其他一些化合物半導體。它允許使用者設置一個脈衝偏移電壓，然後從非零值進行測量，從而研究元件的放大增益或線性特性。

lNBTI/PBTI可靠性測試。可選購的4200-BTI-AUltra Fast BTI 套裝軟體整合了目前已知、執行BTI測試時所需的所有軟硬體，並具有最快、最靈敏的測量性能。此外，自動特性分析套件(ACS)軟體還支援全自動晶圓和晶舟層級測試，內建NBTI/PBTI測試庫，搭配容易使用的GUI。
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四種可程式控制的掃描選項(Sweep Option)
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4225-PMU支援四種掃描類型：線性、脈衝、任意波形和專利申請中的Segment ARB®。Segment ARB模式簡化了波形的創造、儲存和產生過程，最高支援由2048個使用者自定義線段所組成的波形，具備出色的波形產生能力。

8 v5 A: B" T: \" ^: x! ~高效能纜線配置方案

  q& m$ N! j0 T; _. y/ y- w可選配的高效能纜線方案與4200-SCS相容，能夠連結至探針台進行多種測試，並簡化在直流I-V、C-V和極速I-V測試之間的頻繁切換過程，無需重新佈線，進而增強了訊號的準確性(signal fidelity)。
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