吉時利推出實驗室級手持式射頻功率量測儀

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推出7.1版KTEI升級軟體配合MODEL 4200-SCS有效保護客戶投資
& N. T- i/ z) ^. X1 x0 [C-V/I-V/PULSE I-V測試範圍擴展，適合各種應用
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台北訊– 2007年8月12日
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/ w, o% v  L; E" v7 l8 ^新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)針對獲獎無數的Model 4200-SCS 半導體特性分析系統推出7.1版Keithley Test Environment Interactive (KTEI)。這款升級軟體能檢測更高功率的半導體元件；也能支援小訊號元件的特性分析。Model 4200-SCS是市面上最完整的半導體特性分析儀，不僅讓嚴苛的量測作業變得容易，更能夠保護資本設備的投資、進而降低測試成本。欲了解Model 4200-SCS免費升級方案的資訊，請瀏覽：http://www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=4200-SCS


7 Y7 n2 p9 W( B. }KTEI V7.1 結合一系列創新的特色與功能，擴展Model 4200-CVU(電容-電壓單元)的性能：包括軟體支援方案，能針對功率最高達200V DC、300mA的半導體元件進行特性分析 (或400V差動偏壓) 。這項功能對工程師來說非常實用，不僅限於LDMOS的單一領域，還包括其他高功率半導體元件的應用領域─例如汽車、電子液晶顯示器、微機電等。
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此外，KTEI V7.1亦擴增對其他新功能的軟體支援：

/ Q3 g2 u) Z& y& j; ^·差動式直流偏壓 (Differential DC bias)
2 S% A# G/ R) [! z" f0 b·準靜態C-V測試 (Quasistatic C‑V testing)
·擴增的元件測試資料庫
·各種軟體強化功能，協助加快與簡化測試程序

. S7 L/ I0 q  j! r7 g$ E支援高功率元件的測試功能
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6 L9 W8 s; e' _; @! j, p3 Q- Y& b新款Model 4200-CVU-PWR C‑V Power Package 硬體選購配備，能搭配KTEI V7.1的C-V軟體工具，檢測高功率元件的電流與電壓，最高達200VDC (或400V差動偏壓)以及 300m A的電流。這種電流-電壓測試功能，可用來設計、測試、以及建構汽車電子元件模型、MEMS微機電系統、LDMOS、液晶顯示器、以及其他更高功率的元件。
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$ g# k" a- z: `$ T3 a3 q6 U在加入Keithley的Model 4200-CVU-PWR CV Power Package後，Model 4200-SCS現在支援更高功率的C-V、脈衝I-V (電流-電壓)、以及直流 I-V 應用，並將所有功能整合至同一機殼內。

升級方案的另一項重要功能，是對差動直流偏壓(differential DC biases)的運用。Model 4200-CVU 結合C-V 儀器的對稱式線路，和快閃記憶體的升級，能在C-V HI 與C-V LO終端運用高達60伏特的差動DC偏壓。Keithley是第一家推出這項獨特功能的參數分析儀廠商，在受測元件的電場控制(electric fields)方面獲得更高的彈性；對於建構像奈米元件等獨特元件的模型，這項功能也特別有用。KTEI V7.1已加入4200-CVU韌體升級功能，因此省去把設備送回原廠重新設定的麻煩。
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2 |9 O+ {4 V3 a* d. P& Y軟體升級方案支援創新的準靜態電流-電壓量測技術，斜率法(Ramp Rate Method)能運用Model 4200-SCS現有的SMU以及前置放大器。準靜態C-V技術適合針對低功耗CMOS、高介電材料、顯示元件、以及其他低漏電元件進行特性分析。
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8 r. y/ R0 w9 u# w繼續的系統增強功能確保持續性的生產力
Keithley的Model 4200-SCS取代各種電子測試工具，提供緊密整合的單一特性分析解決方案，適合各種應用─包括可靠性實驗室、材料與元件研究實驗室、產業聯盟等組織、以及任何桌上型DC或pulse儀器的實驗室，進行半導體技術開發、製程開發、以及材料研究。Keithley持續提升軟硬體的性能表現並改良系統，確保一條具成本效益的升級管道，讓使用者不必淘汰舊的參數分析儀。系統可以高成本效益的方式進行升級，配合產業持續演進的測試需求，因此，將關鍵的投資放在Model 4200-SCS所獲的的效益，將遠超過其他廠商的測試解決方案。

價格與供貨時程
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KTEI 7.1版已針對現有的Model 4200-SCS系列提供免費升級方案，亦可透過Keithley業務人員訂購；另外也可選購配件Model 4200-CVU-PWR CV Power Package。

[ 本帖最後由 jiming 於 2008-9-4 02:49 PM 編輯 ]

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KEITHLEY擴展MIMO射頻測試能力搶先推出8X8 MIMO測試系統
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# I9 ^/ Q' d/ _3 V6 s; U: I台北訊– 2008年9月15日–新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)擴大在RF MIMO測試領域的領導優勢，推出業界首款量測級8x8 MIMO系統。新系統主要用來研究新一代RF MIMO元件與技術。
, @; c& X/ M, j　　Keithley 在2007下半年推出業界首款4x4 MIMO測試設備，協助客戶開發各種研發設備。新款8x8 MIMO系統以同一備受肯定的量測平台為基礎，提供業界其他射頻測試系統望塵莫及的功能與效能：
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• 支援各種MIMO研究應用，從雙通道到8通道
• 個別存在的系統元件，可自由裝配組成，達到彈性化的系統組態
• 可控制射頻載波上的相位與振幅
• ±1奈秒訊號取樣同步化
• 低於1奈秒峰對峰道訊號採樣延遲變化量
• 射頻載波相位顫動(RF-carrier phase jitter)值：低於1度峰對峰值

　　為了與這些高效能的量測規格進行精準且穩定的多重單位同步化(multi-unit synchronization)，新款Keithley系統擴展4x4 MIMO的量測功能─目前，4x4 MIMO的量測功能主要被用於支援高階訊號的商業測試設備，像是802.11n WiFi、802.16e Mobile WiMAX Wave 2，以及4G LTE(長期演進)與UMB(超行動寬頻)等未來標準，甚至是仍在研發階段的新一代技術與設計。Keithley藉著提供各種尖端的MIMO測試系統，協助客戶不管在技術初探階段、還是新產品研發專案階段、以及最後的量產階段，有效加速產品上市時程。欲進一步了解有關Keithley MIMO射頻測試解決方案的詳細資訊，請瀏覽： http://www.keithley.com/rf
7 b. y/ ^& y8 h0 _' d　　MIMO 為一快速發展的科技，使用多個無線電收發資料。在射頻通訊設備中，增加資料傳輸量而不需額外頻寬。Keithley從2x2 到8x8全系列的 MIMO 測試系統，提供最先進且高效能的MIMO測試平台，供研究及產品開發之用；並能輕易測試各種極為複雜的訊號與通訊架構。Keithley的系統協助客戶測試各種通道組態，一次最多可使用8個無線電；並支援各種研究應用，包括天線設計與組態測試、波束成型(beam-forming)、評估智慧型天線AAS(Adaptive Antenna Systems, 又稱為具調適因應性的天線系統)等。先進的8x8 MIMO解決方案為客戶提供單一量測平台，不僅支援技術研究，還支援後續產品設計及開發等工作。
　　Keithley MIMO 射頻測試系統採用Keithley強大的射頻訊號產生器與分析儀平台，包含Model 2820 RF 向量訊號分析儀(VSA)，使用的頻率範圍介於400MHz-6GHz；Model 2920 RF 向量訊號產生器(VSG)，能產生介於10MHz-6 GHz的頻率；以及Model 280111 WLAN 802.11n 訊號分析軟體，該軟體提供一個相當完整的量測套件，進行單通道或多通道的訊號分析，也能支援4x4 MIMO通道架構。另外，藉由Model 2895 MIMO同步單元(Synchronization Unit)還可提供精確且穩定的訊號校正功能。
+ l3 `2 f  ?# ]0 z4 B6 Q　　Model 2820 與Model 2920皆內建支援MIMO的硬體連結及韌體，為客戶提供充裕的彈性，不僅可作為MIMO測試系統中的組成元件，也可以當作獨立的單輸入單輸出 (single-input, single-output, SISO)儀器來使用。
頂級的量測效能與訊號校正
( U* E* P9 L. a2 Q# x, m　　Keithley的8x8 MIMO測試系統提供市面上其他產品望塵莫及的量測功能：
·支援高達8個通道的系統組態
·比起其他MIMO測試系統能提供最精確且穩定的校正功能
5 n9 f& \  Z+ v6 S6 h4 H2 e·Keithley的量測平台，採用一個彈性的DSP-based 軟體定義無線電架構，能夠迅速因應無線通訊市場快速升級的測試需求。它提供一個彈性的射頻測試平台，藉由快速的頻率調校、振幅設定、以及波形或量測切換，有效縮短測試時間。相較於其他功能、效能相近的儀器，其成本不到它們的一半。
( G  V$ n! p6 Y& U6 x7 u6 U9 H·儀器組裝具備充足的彈性，可在MIMO測試機架中使用這些儀器，輕易增加MIMO通道數目；或僅僅作為單一儀器使用。客戶可根據不同研發階段的不同需求進行擴充；也可視需要分隔訊號產生器的子系統和訊號分析儀的子系統。這樣的彈性，使得產品研發和設計人員都能得到量身打造的測試儀器。
詳細資訊
7 c( x# T/ {$ O( t5 W# V) P, \　　有關Keithley各款射頻測試產品的資訊，請瀏覽： http://www.keithley.com/rf
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; W6 e  d; r1 T" ~: \3 N8 h/ e( s[ 本帖最後由 heavy91 於 2008-9-15 05:20 PM 編輯 ]

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KEITHLEY最新SOURCEMETER®儀器平台
提供業界最快最簡易的I-V特性分析

' ]0 w- m4 u7 T: H+ y台北訊 – 2008年10月6日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)發表2600A System SourceMeter® 系列產品。新產品操作簡單，且具備卓越的量測效能及彈性，能協助使用者加快上市時程、減低測試成本、並簡化高品質量測的作業流程。欲進一步了解2600A系列System SourceMeter的詳細資訊，請瀏覽：https://admin.acrobat.com/_a16893448/p81871518/。
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( D5 g/ Q1 A0 R: h. N2 ?- ~2600A系列是Keithley備受肯定SourceMeter平台的最新版本。這款經驗證的平台將精確電源供應器、純電流源、數位電表、任意波型產生器、具量測能力的電壓或電流脈衝產生器、電子負載、以及觸發控制─全部整合在單一儀器中。
0 b0 }6 a9 ^8 n) M2600A系列在硬體和軟體上都有了改善，不僅支援桌上型的單通道測試；也支援多通道的測試系統：
2 |# i' z+ O1 |; b$ f4 w7 ~: ^1 F7 y．領先業界的最快測試速度以及採樣速率
) Z( \! ~0 e2 R．幾乎無上限的通道擴充能力
7 q7 V, _  ?/ {* R% K  v2 T．先進的平行測試能力
/ X+ `. t  a/ k' {+ H) r．獨特的A/D 轉換技術，提供快速而精確的量測；系統處理不同作業時不需輪流使用同一個A/D轉換器，大大提升量測效率。
9 i+ A; \+ ?& C, a6 o7 m．簡便的操作方式─使用者透過內建的免費TSP® Express軟體，能夠快速且輕易地執行一般I-V測試，而不需事先撰寫程式或安裝軟體。
．符合LXI Class C標準，能夠快速且具成本效益地連結網路與儀器本身。
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Keithley提供的解決方案涵蓋各種可能需求：從桌上型的I-V測試/特性分析系統、快速生產環境中的I-V測試系統、一直到多通道半導體特性分析系統。

; ^  k6 G% ], C( M; X% c. @Keithley 2600A系列產品具備測試腳本處理器(TSP®)以及TSP-Link® 技術。藉由測試腳本處理器，儀器本身將能包辦完整的測試程序，包括複雜的決策制定，不須把數據傳回PC。因此，能消除因GPIB傳輸壅塞所產生的延遲，整體測試時間也大幅縮短，為使用者帶來真正「智慧型儀器」的優勢。
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TSP-Link是Keithley的擴充匯流排，讓使用者藉著連結多部SourceMeter儀器，為測試系統擴增通道，並緊密整合為一多通道系統。由此可見，使用者具備足夠的彈性擴充系統，即能降低測試成本、同時滿足通道數量的需求。
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超快的測試速度及測試彈性
$ h) O1 Y3 N% u0 G9 Z雙通道2600A系列提供極精巧的半機架2U尺寸規格。為支援各種自動化測試應用，更提供業界最高的SMU機架密度。其動力來源是一個新型數位量測引擎，協助大幅提升量測效能：
! B3 e1 d5 z7 t: J8 i& Y．每秒讀取速度高達20,000讀值，能測出許多速度較慢儀器無法測得的元件效能參數。
! V5 i  b' ^4 |& J8 d/ C, i6 U．電子隔離通道(Electrically isolated channel)，協助使用者結合多個通道以擴充I-V範圍，進而超越單通道儀器提供測試的範圍。
．較先前推出的SourceMeter儀器，時間精確性提高400倍， 0.5微秒μs內即可完成通道間同步化，同時更緊密掌握測試條件。
6 {1 M. b2 l: P1 o．支援高達50微法拉μF的電容的元件測試。
7 _0 s6 j% N6 V4 N( }* i2 y7 \．提供平行測試功能，能同時執行32項測試(最高達64通道)；所有SMU通道都能同步，或非同步地在系統中對任何通道數量，執行相同或不同的測試。
． 改良後的雜訊輸出性能，避免敏感元件受損
8 O- ?2 B( P1 _, e" Q: ?# Y2600系列SourceMeter的使用者將對新型產品的測試速度和儀器能力刮目相看。在不必變更程式的前提下，一個典型的BJT測試項目，搭配新型2600A系列將能提高測試速度約24％。
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" u# w# M$ g$ f& s+ D# D2 M8 I簡化桌上型應用的操作程序
從各種角度評估，2600A系列皆能稱職地扮演測試工程師的「個人參數測試器(personal parametric tester)」。除了2600A系列成功改良的硬體效能外，Keithley在軟體工具方面也有類似的提升，使其同樣能在實驗室裡，單獨拿來進行各種桌上型測試應用。
搭配2600A系列的新款TSP Express軟體，Keithley為其強大的測試腳本處理技術增值─TSP Express嵌入式軟體加快使用者從開始量測到獲得實際數據的過程。就執行一般I-V測試而言，使用者僅須透過一系列的下拉式選單設定各項測試參數，TSP Express 就會立即產生數十或數百個程式碼以執行測試。結合速度及簡易使用的雙重優勢，協助工程師更輕易的進行測試工作。
& t8 M9 P. ~1 R4 C; P' E. j2600A系列甚至配備一個USB介面，協助使用者更輕易地在不同儀器與PC間分享測試腳本與數據資料。
詳細資訊
6 e0 ~, |. J. ~　　有關Keithley各款射頻測試產品的資訊，請瀏覽： http://www.keithley.com/rf

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