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國際電機電子工程學會(IEEE)的1481工作小組最近通過新思科技(Synopsys)的一項提案,針對 IEEE所採用的標準寄生交換格式(Standard Parasitic Exchange Format, SPEF),Synopsys捐贈重要技術以擴充SPEF功能,此舉將協助設計業者有效因應65奈米或更先進製程中,常遇到的製程與溫度變異等問題。 , x6 m, X) E8 y; l* M* H
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在這項提案中,Synopsys將提供一項互通的介面(common medium),以便不同的EDA工具之間,也能傳遞重要而敏感的寄生訊息(sensitivity-based parasitic information),同時Synopsys提供的key extensions,也可精準而確切地表達出先進製程中所需的互連寄生敏感度訊息(interconnect parasitic sensitivity information),強化現有的IEEE standard 1481-1999之SPEF功能。 在1481工作小組通過後,IEEE的Standard Board 可望於近期內投票,以決定將此次Synopsys所提供的SPEF extension,正式納入SPEF標準(standard)當中。0 ` E/ E& n; ?) ^& y9 v6 C
5 C+ ]- h1 {* [7 @2 e( u7 a% u 科技應用產品逐漸走向輕、薄、短、小,對IC設計者的挑戰也日益增加,尤其在互連架構中常遭遇的隨機製程變異,如何能精確而有效的建立模型(modeling),已成為設計過程中必要的程序。析出(extraction)與分析(analysis)工具使用統計技術(statistical techniques)來建立模型,而針對物理與電子流程中之參數(physical and electrical process parameters)相關的互連寄生(interconnect parasitics)需要具有高敏感,才能有效而精確地進行統計分析。
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* ^' @& H0 X6 H {: e 制定一套以敏感度為基礎的SPEF格式標準(A standard sensitivity-based SPEF format),可協助寄生析出(parasitic extraction)設計工具,建立具寄生面值(nominal values)的排線表列(netlist),並且對互連變異參數(interconnect process parameters)高度敏感,因而可以更為容易地供分析、模擬,及實作執行(implementation)等方面的工具讀取。8 E* C" w# B- v; n
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AMD資深副總裁Adrian Hartog指出,一套具sensitivity extension之業界標準的SPEF格式(industry-standard SPEF format),對於我們執行65奈米先進設計,具有高度的價值,它可結合各種不同的EDA工具,有效支援我們在statistical design flow中的新格式,我們相當讚賞Synopsys的捐贈行為,也希望它能早日納入產業的標準中。' `3 z2 C, V- U m; k* ~( ?
$ U) ^/ Y. G, d1 J Synopsys 策略發展副總裁Rich Goldman則表示,愈來愈多像AMD這類業界領導廠商,都反映65奈米及更先進設計所遭遇的製程與溫度變異的挑戰,此次SPEF標準之功能擴充(SPEF extension)對於協助因應這類挑戰是相當關鍵的,我們主動與IEEE 1481工作小組合作,希望能盡速建立業界共通的sensitivity-based SPEF standard,以便促進電子產業的整體發展。 |
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