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XE 版本加入先進的多埠校正、本地資料分析及元件特性描述支援工具
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奧勒岡,Beaverton–2007年2月5日—由於複雜、多埠RF架構之無線消費性電子裝置不斷增加,使得工程師必須於其晶圓級 RF 元件進行更高難度及更複雜的RF 量測。為簡化製程, Cascade Microtech 進一步擴充其廣受歡迎的 WinCal 校正軟體功能,以包含重要特性,並提供更快、更精準的晶圓級 RF 量測。9 _6 }/ }: z' @
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WinCal XE 在晶圓測試市場擁有其獨特性,其是唯一整合先進校正及 RF 精度強化功能的軟體。透過強大的新量測支援工具及導引系統將作業風險達至最低, WinCal XE 能達到精準並可靠的RF量測,而其為今日複雜半導體設計的關鍵。
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WinCal XE 為市場首要的校正軟體套件再增新功能
* p* ?$ Z4 Z7 I6 }XE版本主要新功能包括:
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• 針對多埠量測的混合校正: 多達4個埠的自動化多埠混合校正 f( i" ~( p$ W
• 針對實驗室內的量測確認及資料分析之本地端資料矯正: 與其他校正軟體不同的是,現在你可以擁有先進的本地端資料分析,其允許在產出前,早期偵測出可疑的資料
% G3 M2 B4 a* W4 M• 元件特性分析工具 –包含廣泛選擇之強大量測工具,其能支援元件特性描述9 k5 b' T) B7 d8 Q5 n
* b. R k7 G2 ?0 R針對四埠校正的獨特混合校正! ~: R# w) f2 P/ a! o$ I
一項越來越普遍的RF 量測挑戰,是針對差分架構之特性描述需要四個量測埠。目前可見的先進雙埠校正方式,能忍受晶圓探測時常見不確定的探針擺置,但針對四埠量測的先進校正方式則還未可見。另一項複雜性則是四埠系統的設定及較正,所需步驟較雙埠校正更多,因此發生錯誤的機會也相對較高。
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WinCal XE 提供了前所未有、獨有的全新先進混合校正演算法。此混合校正為四埠差分量測確保了精準的 “探測容忍” 校正。 WinCal XE亦透過直接的多埠設定導引、多埠校正標準及向量網路分析儀 (VNA) 埠管理、多達四埠之自動校正及確認,簡化了四埠量測。
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WinCal XE 提供以下先進校正,其為任何其他商業產品所無法達到的:) a; ~ Q. ?8 l. X
• 針對例行校正時趨增的精準度之eLRRM cal. c" A9 l; M6 [# s* B
• 混合四埠校正,包括SOLT-eLRRM 及SOLT-SOLR 以提供四埠校正精準度$ ^1 `/ M f: I8 W
• 多線TRL 以將你優先的校正方式與 NIST-style 參考校正進行比較3 n* T2 G9 o0 S& E8 L/ i
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先進的本地端資料分析3 S8 g/ S8 K' o5 ?' |
功能強大的新工具能讓使用者轉換已測的s參數至適當元件格式。使用者能以各種形式檢閱其資料,而不需經歷產出及轉換結果的費時過程,如此,將能輕易地發現從其他顯示格式中較不易看得出來的影響或異常,並能在資料產出前,快速確認此系統設定及校正 。此系統同樣能簡單地創製及分享顯示樣板及客製資料庫的開發。透過 WinCal XE的先進資料程序,工程師將可在不離開實驗室的情況下獲得立即、本地端的資料分析,並解決問題。
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$ u; a% p' G& J7 u/ T元件特性描述工具
- K. r6 C" E1 l$ JWinCal XE 提供廣泛而多樣的量測工具,其能支援元件特性描述。其中包括了說明如何針對需求應用既有函數樣本報告及顯示樣板。使用者可修改內建函數,以建立最常使用函數的資料庫,其中並包含了許多基本函數。而錯誤設定管理師提供錯誤設定增強及錯誤設定比較工具,對於管理資料品質提供高度彈性。
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定價及供貨% C; c1 o6 o& q, g4 W
新產品供貨為接單後三週。如需更多資訊,請加email]Hsales@cmicro.com[/email] 電子郵件聯繫 Cascade Microtech 業務代表。
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7 z5 c3 a) u( I關於 Cascade Microtech5 Y6 B$ A2 n% s3 M
Cascade Microtech, Inc. (Nasdaq: CSCD) 為精準電子量測、IC及其他小型架構測試之全球領導廠商。針對需要評估小型架構的科技事業單位及科學機構, Cascade Microtech 提供從晶圓、積體電路、IC封裝、電路板及模組、MEMS、生物學架構、光電元件等存取電子資料之方案。 Cascade Microtech的高可靠性產品晶圓測試解決方案,提供半導體業界領導等級的探針卡,降低了複雜半導體的製造成本。相關 Cascade Microtech 資訊,請參閱網站 www.cascademicrotech.com. |
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