正確看待技術指標 小心差異化來源：陸楠 EDN China 發表時間：2006-10-30# B5 x |7 L8 X: f4 k: d* o- P * [( t& S6 l/ i! L
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RF產品的集成受限於器件自身特性（比如干擾），並不能完全以單晶片的方式集成，而高度集成的RF前端晶片即使在DEMO中表現出色也未必代表它適合系統，因為系統要和這類晶片配套需要大範圍的改動原來的佈線佈局，穩定性受到影響反而往往造成死局——袁遠 美芯創始人、CEO2 `- T. f- q% u: D2 C2 l! w
+ s9 R5 e I# P, d s 我不認為純粹的技術指標可以評價一個器件的好壞，關鍵是客戶是否認可，衡量的尺規應該是能否滿足客戶的需求。美芯目前PLL產品的主流工藝在0.25um以上，而高頻和低工作電壓要求的PLL用到0.18um也足夠。PLL產品工藝的黃金分割點是0.35um。在很多時候，性能的提升要加大成本，如通過高水準工藝來實現高性能，這種做法對售價本就不高的器件來說得不償失；此外，器件各個性能之間也存在重點和平衡的關係，而脫離實際需求的性能其實是一種浪費，客戶也不會接受。 $ `6 ]7 `# R6 N# x; \) t& A# V, ?4 `4 \
從差異化的角度看，標準器件越來越多的被集成到單晶片中，目前在一些通信電路中，鎖相環路已經作為一個功能模組嵌入到FPGA中。但就客戶需求和RF產品特性來看，這種趨勢並不會形成一種終級的唯一模式。我認為，RF產品的集成受限於器件自身特性（比如干擾），並不能完全以單晶片的方式集成，而高度集成的RF前端晶片即使在DEMO中表現出色也未必代表它適合系統，因為系統要和這類晶片配套需要大範圍的改動原來的佈線佈局，穩定性受到影響反而往往造成死局。 - F" D3 d( }% R6 g! ^ I" f
8 k2 F! V3 L& p' E; j& b 晶片設計必須同應用設計牢牢結合，國內不少IC設計公司技術骨幹來自國外大企業，他們忽略了這些大企業中分工合作的流程，往往把局部的經驗作為整體經驗來運作，忽略了在國外企業中其他應用設計部門所做的大量的工作，其結果就是脫離實際閉門造車，追求技術先進忽略應用效果，最終導致產品華而不實的現象。
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發表於 2006-10-31 13:25:36
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發表於 2009-4-11 10:35:04
發表於 2008-3-5 16:13:04