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进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:0 v$ C# x: v( N5 e" m& D
1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
9 m! P/ X x, A. P2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
8 U) J8 ]% N0 V7 R3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
7 i6 }2 o7 [4 c3 i4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;; [! Q7 v, m! {) H0 E
5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空; f" G3 I- J! k. `
6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。1 j7 g7 n" m% U. v( Q c8 E
VDD引脚只需进行(1)(2)项测试4 ^5 u9 T M9 v, b* W
* g, z2 Q& P8 N% a' |% d. O应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。 |
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