逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
# C4 X& v/ m5 c         活動內容：
2 @8 R7 Z8 z5 ^- D' l& y2 o活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
  q6 c8 H2 W$ p時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
5 f3 O# V& F+ W7 J8 {3 k(二) 09:00－16:00: 訓練課程
2 ~# E' D: t& [0 |% ?! k2 i(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
        截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
3 r7 f+ C6 _( U6 h/ d( K         報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
(2) 傳真至（04）3507-2117
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
  F+ E9 j/ W" h- i8 E         本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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" ^2 w- C" @  Z3 s: C( x8 W$ T主辦單位：經濟部標準檢驗局
承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
' H; w% t5 n% Y$ j9 K* ^' k; N洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
* @: V. T* o: N4 Q97年11月03日 (星期一)
時     間        活 動 內 容
- F3 J4 s" @/ f% h8:30-9:00        報      到
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
* M+ X  S: N8 j, f3 `' s* S! x. n主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
1 E0 d! J; I& b) y  v" }1. EMC問題趨勢的發生與分析
( \! i3 z$ ~, B- G! g2 n2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
6 b0 I3 m8 j( ?: C- Noise measurement procedure
' u. X% g: U0 V$ n) _/ b3. EMC之原理分析與設計技術簡介
5 |! K* Y: h+ x2 N- Filtering
$ H- f0 V: P: r  `; [1 q( q- Shielding
- PCB Layout
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
& A1 q8 V: o& _- Power/Ground plane layer impedance measurement
8 G0 j; e8 ]' I5 P- Power Distribution System (PDS) Design
5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
9 x: A2 C, y7 W- w- Measurements for Signal Integrity
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems


& D! J) C0 Q1 O' {: ~/ z6 c$ I97年11月04日 (星期二)

7 [  I6 K# a! X) d9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
  W0 |: A1 H2 u% `/ U內容包含:
電磁模擬範例分析
: ]  X. x" n4 w0 t. L% ^6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
•        WBFC Modeling and Simulation
/ f( y) ~' w: t5 V% C•        MP Modeling and Simulation
•        TEM Cell Modeling and Simulation
- General Noise Characteristics
* T  W4 {# w8 B# c/ W: g: Q- Power Noise Study
- Signal Noise and SI Study
�        Slit on Reference Plane
" ~8 P0 {! o4 Y' f% ~: L7 J�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
�        Reference Plane change
8 F! |3 r  K8 |. Y2 u* n8 J�        Trace near the Card Edge
7. Trend of EMC issues on chip-level
8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
. H4 Y# z; n2 E: W9 P' q內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
. \0 G: F6 A9 e! I' V; L  i11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
$ d; Q, E& `& D2 A8 j8 e  W•        Limitations of Present Methodologies
  [  C2 v9 k* ]6 i•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
/ Z3 b! P8 F3 y7 M1 T% e•        Production-level Process Integrity Monitoring
  t5 [& b3 L9 _2 d  L+ u 13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

& ^- l, O2 [2 J2 ~' l至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
; y& l+ p3 _' Q# i. I
7 }0 |4 z+ {6 `至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

; l, ~$ z  @1 K7 |3 k2 h3 v; l
好方法
# L3 k: Z! {. ~
$ ^) v) q9 v( J$ H: c, c可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
9 i3 E% r: G0 e% z- U
1． 上升時間和信號完整性
2． 傳輸線的種類
3． 反射產生原因
4． 如何消除反射
3 i' p. Q3 Y$ y# ~1 _4 V5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
7． 電源/地噪音的種類
8． 電源/地噪音的副作用
& B: h+ q# ^4 s& n1 b9． 如何消除電源/地噪音
10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！