逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
        活動內容：
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
% \" D; g5 ?9 ~1 {         截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
        報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
& j7 h' g4 `2 p* O) t  G(2) 傳真至（04）3507-2117
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
, W# `& V1 y4 y1 h2 Y         本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
********************************************************************
主辦單位：經濟部標準檢驗局
承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
8 H- _& O8 P: x洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
+ V% A, b/ T  f+ C) ~2 b- U, ?97年11月03日 (星期一)
7 O' N' Z- Z# t' P: |" j( l1 ~時     間        活 動 內 容
4 U# _  ]8 f; P( b8 `) a8:30-9:00        報      到
0 \4 [/ C3 A: t6 O0 }, k* Q4 G! U+ v9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
1. EMC問題趨勢的發生與分析
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
( O9 m& b( z, q8 ]# d3 Y- Noise measurement procedure
3. EMC之原理分析與設計技術簡介
, ]& Y; l% g7 }9 o- Filtering
- Shielding
- PCB Layout
) D4 E  F+ ~9 z# |4. 電源完整性(PI)之分析與設計
" q, t. f5 D0 N, C* m- Power/Ground plane layer impedance measurement
- r# |; y8 _0 v" g- Power Distribution System (PDS) Design
% R" {( C! z/ U, }. ]$ F5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
' l+ e8 s* V& u4 x& E- Measurements for Signal Integrity
: p5 s( u9 ^5 X4 A- Multi-Gigabit transmission over backplane systems


% U' t& S& Y  |97年11月04日 (星期二)

, g6 }- H3 |% y/ a0 _1 B7 o9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
/ z. i$ {6 G) C/ ~& @" I& h內容包含:
電磁模擬範例分析
6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
+ D) R' K( X2 n. A•        WBFC Modeling and Simulation
7 Y3 B  g$ Z# }0 d! H8 w: y7 N•        MP Modeling and Simulation
! ~) _4 G/ p3 s/ [0 I/ U•        TEM Cell Modeling and Simulation
4 Q7 j7 m9 g( \, d- General Noise Characteristics
+ ]8 G# y4 q7 r% c% s, E0 p' S- Power Noise Study
- Signal Noise and SI Study
�        Slit on Reference Plane
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
�        Reference Plane change
4 R: S# X3 v' X4 D�        Trace near the Card Edge
. y. ?+ ]. ^6 V7 T; ?8 Z7. Trend of EMC issues on chip-level
7 n: I. |6 E+ I! C) U6 B8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
, H0 p" m5 p( }+ S! H11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
" B* i9 b5 I* ~; V- _! M8 u& Z•        Limitations of Present Methodologies
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
4 b. d# b: `) J. y: X; M8 N•        Production-level Process Integrity Monitoring
3 ~6 e1 c  P- j* H7 K8 I 13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
2 r$ j; |- V$ T" F回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
+ b+ G' d8 J+ {' M, T# q+ b
" v( d6 a4 g- F至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
8 K5 }) J& ?6 _3 L+ O
! s8 d. Q9 J6 o% h. c至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

& O) ]+ E9 T! q
好方法
1 l9 z# r/ d+ e& ~! e
2 R% a- o) i& N可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？

+ H5 F+ p1 T  w; i1 L; O6 V1． 上升時間和信號完整性
0 t& q& U! z7 G6 H5 D0 g2． 傳輸線的種類
6 u% y3 Z: i  H' i, @" H: {4 S& ]3． 反射產生原因
4． 如何消除反射
5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
, n$ b0 A) t0 a1 z7． 電源/地噪音的種類
8． 電源/地噪音的副作用
  [* J: \2 p( o5 g9． 如何消除電源/地噪音
+ E1 ~6 Z8 m* a! i$ s8 P10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！