逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
        活動內容：
2 @; M# l  P4 `6 @" l7 o, `( ?活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
" B2 T. P9 f# f5 j時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
# B# T+ y/ H! Q0 \5 \6 V, m. F9 l地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
! N) r- e/ }3 D5 j& \         截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
        報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
1 D* O1 R: n( w; x8 f8 h(2) 傳真至（04）3507-2117
8 _) v7 F( ~4 H0 K, Z         請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
        本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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主辦單位：經濟部標準檢驗局
承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
1 [/ Q, U( a6 r' C  y: C* h3 k3 M洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
9 `- E* i$ R7 t- c+ W; p97年11月03日 (星期一)
! c. Y  d# g* R+ g4 K1 T4 M0 Y# @3 [時     間        活 動 內 容
: h9 P/ O1 [! w1 ^5 M/ @8:30-9:00        報      到
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
) m% N& x" v+ C  ^7 Z內容包含:
1. EMC問題趨勢的發生與分析
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
" h. i4 G3 q2 u4 I3. EMC之原理分析與設計技術簡介
: K7 ?  r* ~+ w2 ?0 n- Filtering
- Shielding
- PCB Layout
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
- Measurements for Signal Integrity
& H* M- E1 l# k7 h  N9 h- Multi-Gigabit transmission over backplane systems
0 y, ^& O6 J8 T4 d
/ t+ E( A6 Z7 D" N" \
6 j1 K6 J& Y2 H97年11月04日 (星期二)

0 |  I, X9 A/ c. B' ^' R8 w9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
電磁模擬範例分析
6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
•        WBFC Modeling and Simulation
+ g8 l2 Z* O* s/ `! O•        MP Modeling and Simulation
+ o% N  M2 U* g5 T0 m/ l4 b•        TEM Cell Modeling and Simulation
- General Noise Characteristics
- Power Noise Study
- Signal Noise and SI Study
�        Slit on Reference Plane
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
- s3 Q( N: U& i/ ~# R�        Reference Plane change
�        Trace near the Card Edge
9 w! \& I! c: A# c  ^5 H7. Trend of EMC issues on chip-level
8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
0 j) _" ^7 k8 T9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
& ^6 P/ P) F% M內容包含:
0 N$ h" {( W0 H$ S$ ?9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
1 v  q3 d: X6 h# l10. IBIS modeling vs. Spice modeling
% l5 H3 R7 w6 k) Y  L' |11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
; N2 ?) }( g6 e' t- n4 ?12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
3 c! q& ]- N8 I•        Limitations of Present Methodologies
2 O% S: s" G  `% J2 C" F" P1 s/ D•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
•        Production-level Process Integrity Monitoring
13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
: j$ y) i3 t; e. N  o
至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

好方法
% A' W4 ]) x  d5 h
& A& H& y4 i$ g; T- h可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
3 N  s( W+ y" [
1． 上升時間和信號完整性
2． 傳輸線的種類
3． 反射產生原因
4． 如何消除反射
5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
& s3 z: j; ?. E. O3 O7． 電源/地噪音的種類
8． 電源/地噪音的副作用
7 F% W3 i8 x" u; u9． 如何消除電源/地噪音
$ \  e6 i1 Q' H: m: i1 s4 ~10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！