Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 3314|回復: 0
打印 上一主題 下一主題

[好康相報] NI 2017 年自動化測試展望 完整報告

[複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2017-2-23 14:16:05 | 顯示全部樓層 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
NI 創辦人 Dr. James Truchard 反思過去 40 年來的測試與量測經驗、指出影響現在測試團隊的市場與技術趨勢,並發表對未來的展望。分享給大家
% m" U: e) }. O8 a: h4 I
7 c. I, o* B% ~+ h4 i. n+ y完整報告:https://drive.google.com/file/d/0B7yZMZoIrxFXWUlZTV9zeVFIUkE/view?usp=sharing) @5 w( I3 c4 C4 u: m$ [6 ]. s
6 i( q. W+ w5 D3 F* r! w8 X5 r
2 J! s3 l8 q1 i( i9 K5 N
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂 踩 分享分享
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-5-6 06:59 PM , Processed in 0.095006 second(s), 17 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表