Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 3304|回復: 0
打印 上一主題 下一主題

[好康相報] NI 2017 年自動化測試展望 完整報告

[複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2017-2-23 14:16:05 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
NI 創辦人 Dr. James Truchard 反思過去 40 年來的測試與量測經驗、指出影響現在測試團隊的市場與技術趨勢,並發表對未來的展望。分享給大家
" P) {. Q8 p- M$ R$ E" L$ |% c
$ r/ \$ [! g0 A6 D完整報告:https://drive.google.com/file/d/0B7yZMZoIrxFXWUlZTV9zeVFIUkE/view?usp=sharing8 C0 ?  J6 g) u5 `

$ c: v1 L% w. e" n& V- s, w
- C2 z2 H; Z+ ]$ C$ t  m) N
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂 踩 分享分享
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-4-26 07:16 PM , Processed in 0.102006 second(s), 17 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表