新一代寬能隙半導體元件高功率測量技術最大挑戰是

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Tektronix推出全新的BERTScope機型以解決100G光接收器測試需求
: Q: [8 V$ v0 p新BSA286CL提供了業界最廣泛的精密抖動減損能力和極低的固有抖動等級
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! g6 Z& A) S! A$ D- D/ r【2014 年 5 月 30 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，推出BSA286CL BERTScope誤碼率測試儀。BSA286CL是專為測試包括OIF-CEI、CAUI和InfiniBand標準等廣泛100G通訊標準所需的低內部抖動和精準的損耗需求而設計。
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接收器測試在100G電氣系統和矽測試中的重要性日益增加。隨著先進的矽接收器等化功能的出現，更高等級的抖動容限必須經過測試、除錯和加上邊際設定。目前為止，可用的位元誤碼率測試儀已無法產生必要程度的減損與夠低的基準抖動，有效地執行這些任務。BSA286CL是業界第一款完全滿足這些精確度減損和錯誤分析的要求，而且仍保有BERTScopes聞名的易用性。

Inphi資深首席工程師Mark Marlett表示：「Inphi致力在光學技術領域中領導業界，無論是在100G及之後的範圍，我們需要可提供精確減損和更低雜訊的測試工具鼎力相助，來驗證效能是否符合如OIF-CEI3.0等關鍵規範。」
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& H! i' y; j+ l當100G矽特性分析工程師測試其OIF-CEI-28GVSR系統時，必須要能在其BERT測試的精確度減損耗盡之前，先將零件驅動至接收器邊際故障。BSA286CL擁有完全重新設計的抖動減損系統，將先進調變技術狀態整合至100G實體層測試。

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28.6 Gb/s誤碼儀支援更高等級的正弦抖動 (SJ) 及其他抖動減損，同時可在關鍵的100G資料速率時保持低300 fs子範圍的固有抖動基準效能。
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8 n% ?0 F; L, E" }; U% dTektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「BSA286CL是全方位的Tektronix高效能BERT組合，可支援各種重要的產業標準。這些產品在支援新興100G的生態系統中都扮演了不可或缺的角色。此外，我們最近收購了皮秒脈衝實驗室 (Picosecond Pulse Labs)，Tektronix現在藉此提供了業界最廣泛、以BERT為基礎的技術選擇，結合高效能示波器之後，將能為客戶提供完整的解決方案，以滿足他們所有的100G的需求。」
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! U: {, c0 t9 B' E6 L* D7 IBSA286CL的另一項新功能是結合的隨機、有界不相關和高頻率的正弦抖動 (RJ、BUJ 和 SJ) 減損，高達28.6G，在所需的寬範圍抖動容限 (JTOL) 頻率上提供超過7.5UI 的結合等級。這是業界首創的關鍵功能，可符合OIF-CEI3.0 JTOL規範以及在IEEE802.3bj 100G規範中的類似需求。
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BSA286CL加入了BERT的測試和量測業界最廣泛的通訊測試產品組合。Tektronix BERTScope™ & PatternPro™ 系列從500Mb/s到40Gb/s，並跨越1-4通道的廣泛訊號調整和BER分析。
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" {! x/ w/ t( g3 [/ r- pBSA286CL系統於2014年5月22日Tektronix Santa Clara校園活動所舉辦的Meet The Expert’s論壇上展出。此外，BSA286CL將會參與法國戛納ECOC展會的OIF Industry Interop。一般市場將於2014年6月開始供貨。