Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 3798|回復: 1
打印 上一主題 下一主題

[好康相報] NI 十合一 RF 綜合測試技術應用研討會,一次解決所有高頻量測問題

[複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2012-7-5 15:11:07 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式

9 f4 X+ ]* J: W9 O# i$ N) h. }3 w0 P4 C5 |: `$ X
(20120705 13:41:27)三十多年來,NI 持續深耕軟體定義測試系統,以軟體與硬體完美整合的架構,在無線射頻領域提供綜合高頻測試系統,協助解決生產測試所遇到的各種問題。而伴隨著無線通訊規格不斷的向前邁進,在產品測試端隨之而來的是與日俱增的壓力及工作量,所有業界從業人員皆在尋求一個完整、簡單、輕鬆提升生產力的解決方案!- L$ x0 Q6 I% ?; C+ O  A

0 K* W- V" E" c- u. b此次研討會現場, NI 與合作的晶片廠商攜手展示整合後的實際成果,包括如何應用於無線網路 802.11 a/b/g/n/ac 與手機 GSM/WCDMA/LTE 的校正與測試。同時,我們也邀請業界最具整合經驗的合作夥伴分享相關經驗,含括了無線網路產品測試系統的建置,以及利用機械手臂、射頻隔離箱建構測試系統。

本帖子中包含更多資源

您需要 登錄 才可以下載或查看,沒有帳號?申請會員

x
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂 踩 分享分享
2#
 樓主| 發表於 2012-7-5 15:11:18 | 只看該作者
而 NI 更準備了無線網路產品量測,與手機校正與量測等 RF 解決方案,和業界精英一同共享建構綜合測試系統的概念與趨勢!從改善成本昂貴的高頻測試儀器著手,重新定義高頻量測的規則!NI 邀請您一起參與此次活動,共同提升工作上的生產效率、降低設備成本支出,達到快速、彈性、精確的 RF/無線測試。/ F5 u8 p  u7 i: Q6 u+ G# S

. g% `7 E  f* j1 k6 F7 T9 s5 N7 K! P【活動場次】
: B" a0 r6 Z, A% D7 b# G+ m2012/7/25 (三) 台北國泰金融中心 A廳5 C$ _: G" m4 t
# ?# y* ^* s# F7 h* b% r/ `
【報名方式】
6 A% F- h0 Y! L7 H% H; z, h/ Q凡報名出席本活動,將有機會獲得 Creative ZiiSOUND D5 藍芽無線喇叭!
, s6 N; o' r5 G+ `+ r$ L  @5 F$ w: |. w/ ^3 v: R5 d
● 電話報名 : 02-2377-2222 #5555) P# a0 m# A' P6 B/ I7 R4 i
● Email報名 : info.taiwan@ni.com
6 l  l/ T7 J0 P4 r● 網路報名:http://bit.ly/NucCq9
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-5-6 09:13 PM , Processed in 0.098005 second(s), 18 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表